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公开(公告)号：CN102967585B
公开(公告)日：2015-10-21
申请号：CN201210552991.5
申请日：2012-12-18
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种基于双光纤点衍射移相干涉的折射率测量技术与装置，属于光学测量技术领域。首先调节测量光纤，使其与参考光纤关于薄膜分光镜共轭，此时CCD摄像机上干涉条纹为空，采集和处理移相干涉图，得到出瞳面上波差的拟合系数；然后将加工成平行平板的被测样品插入测量光纤与薄膜分光镜之间，从而改变测量光纤与参考光纤的光程差，此时CCD摄像机上出现同心圆环状干涉条纹，采集和处理移相干涉图，再次得到出瞳面上波差的拟合系数。测量出参考光纤到CCD摄像机的距离，可计算出引入平行平板后光纤点光源的轴向位移。进而在测量平行平板厚度的基础上计算出被测样品折射率。该装置结构简单，能够精确简便的测量固体或液体的折射率。
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公开(公告)号：CN101799279B
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201010151219.3
申请日：2010-04-16
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种大相对孔径球面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法，属于光学测量领域。首先，测量光纤的衍射波前透过分束棱镜，经显微物镜变换为能覆盖被测大相对孔径球面镜的测量波前，并在被测球面镜表面反射；携带被测球面镜面形信息的反射波前透过显微物镜，经分束棱镜反射后汇聚到参考光纤端面形成测量波前，并与参考光纤自身衍射的参考波前汇合而发生干涉；然后移走被测球面镜，其他光学元件保持不动，在显微物镜焦点处放置平面反射镜，用同样方法测量显微物镜、分束棱镜及参考光纤端面粗糙度所带入的像差。本发明分两步实现，且都利用了接近理想的点衍射球面波作为参考波前，能够实现大相对孔径球面面形的高精度测量。
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公开(公告)号：CN102967585A
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：CN201210552991.5
申请日：2012-12-18
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种基于双光纤点衍射移相干涉的折射率测量技术与装置，属于光学测量技术领域。首先调节测量光纤，使其与参考光纤关于薄膜分光镜共轭，此时CCD摄像机上干涉条纹为空，采集和处理移相干涉图，得到出瞳面上波差的拟合系数；然后将加工成平行平板的被测样品插入测量光纤与薄膜分光镜之间，从而改变测量光纤与参考光纤的光程差，此时CCD摄像机上出现同心圆环状干涉条纹，采集和处理移相干涉图，再次得到出瞳面上波差的拟合系数。测量出参考光纤到CCD摄像机的距离，可计算出引入平行平板后光纤点光源的轴向位移。进而在测量平行平板厚度的基础上计算出被测样品折射率。该装置结构简单，能够精确简便的测量固体或液体的折射率。
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公开(公告)号：CN101581556B
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN200810106438.2
申请日：2008-05-13
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种复合图形靶板的瞄具零位走动数字化测量装置，包括：光源、复合图形靶板、反射镜、主反射镜、卡具、像分析器、计算机、温控模块、机壳。此装置使用光源照明复合图形靶板分别生成多波段复合对准目标，依次通过反射镜、主反射镜后在被测瞄具上成像，通过直接采集由瞄具输出的目标图像，或在瞄具目镜出瞳处经像分析器采集瞄具分划板上的图像，输入计算机后，由测量软件进行数字图像处理，计算测试结果。本发明可用于红外、可见、微光瞄具零位走动的高精度检测，具有精度高、客观性、实时性好的优点。
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公开(公告)号：CN100508628C
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：CN200710119819.X
申请日：2007-07-31
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提出了一种CCD摄像机信噪比数字化测试方法。其基本原理是通过摄像机对高均匀照明的净白目标成像，则成像信号中的波动反映了摄像机的噪声。通过图像采集卡将视频信号量化为数字图像，用特别设计的数字高通滤波器分离出噪声信号，计算噪声信号的均方根值作为噪声强度。因图像采集卡对原始视频信号带入了量化噪声，将量化噪声加以修正即可以估计原始视频信号中的噪声大小，从而计算出信噪比。本发明实现了一种基于数字图像采集的电视摄像机信噪比快速、客观测试方法，其测试结果与用视频分析仪测量结果一致性良好，因而可以作为摄像机信噪比测试的一种替代方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100470189C
公开(公告)日：2009-03-18
申请号：CN200710100222.0
申请日：2007-06-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明公开了一种高精度的利用相互正交的两个双频激光干涉仪的光学角规测试标定仪，包括主控计算机1、双频激光干涉仪A3及其按光路方向依次放置的分光镜2、静止反射镜4和移动反射镜7，与双频激光干涉仪A3光路相互垂直放置的双频激光干涉仪B13，依次按双频激光干涉仪B13光路放置的长基线分光镜11、长基线反射镜6、光程补偿平行玻璃板5和被测光学角规9，还包括可使被测光学角规9沿主截面方向的移动的精密平移台8、装调光学角规主截面时的微小转动精密角位移台10以及步进电机控制箱12。本发明具有如下显著优点：通过该发明装置测量光学角规偏向角在2″-10″的测量范围内，测量精度可达到0.02″，极大提高了光学角规偏向角的测角精度。采用相互正交的双频激光干涉仪测角，减少了光学材料折射率和干涉条纹判读等其他因素对测角精度的影响。
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公开(公告)号：CN101231343A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200810057899.5
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于液晶调制的激光测距机瞄准与接收轴平行性测量装置，包括：离轴抛物面反射镜、液晶空间光调制器、积分球、可见光源、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器；所述液晶空间光调制器置于离轴抛物面反射镜的焦面上；所述液晶空间光调制器、积分球、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器依次放置在焦面后，耦合器与激光发射器连接；所述可见光源与积分球连接。此检测装置利用液晶进行光电调制生成面目标进行光电扫描，测量成功率高，其可用于激光测距机瞄准轴与接收轴平行性在室内、室外环境下的快速检测，具有精度高和可便携的优点。
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公开(公告)号：CN1916582A
公开(公告)日：2007-02-21
申请号：CN200610128631.7
申请日：2006-09-04
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种CCD摄像机分辨率客观评测方法，该方法包括以下步骤：获得一个分组多条纹图案靶板图像；将具有不同条纹宽度的条纹区域进行分离；抽取每个条纹区域中的一行的灰度值；分别将对应各条纹区域的所述灰度致信号转换至频域，其中，在保证采样后不同分辨率条纹的空间频率是对应物方空间频率间隔的整数倍的情况下，确定采样频率；从相应的频谱图中分别获得对应各条纹区域的摩尔条纹的幅值，以及特征频率幅值；最后对比各条纹区域的特征频率幅值与摩尔条纹频率幅值的关系，这种方法有效地解决了以往对于高频段变频光栅中出现摩尔条纹，从而影响判别的问题。本发明还提供了一种CCD摄像机分辨率测定系统。
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公开(公告)号：CN1858554A
公开(公告)日：2006-11-08
申请号：CN200610083776.X
申请日：2006-06-05
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种多谱线光学角规测试标定仪，包括一台通用机算机，一个电机控制箱，一个多光谱光源电控切换台，一个CCD摄像机，一个双频激光干涉仪；一台光电自准直仪；一个长基线分光镜组；一个长基线反射镜组；一个精密转台；一个平面反射镜组；一个数显读数表，一个三维调整台；本发明具有如下显著优点：双频激光干涉测角仪中，采用长基线镜组，使其测角精度能够比一般双频激光干涉测角仪高；采用测角和定位相分离的方法，容易实现光学角规的高精度测试标定；采用多谱线标定方法，可以在同样环境条件下对同一块光学角规给出多谱线偏向角标定值，扩大光学角规的应用范围。
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公开(公告)号：CN101865670B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN201010194545.2
申请日：2010-06-08
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种光纤点衍射移相干涉仪的平面面形测量方法，属于光学测量技术领域。首先从测量光纤衍射的球面波经被测平面镜反射，经辅助正透镜汇聚到参考光纤的倾斜端面并再次反射，与参考光纤衍射的球面波汇合而发生干涉，干涉图用标准方法分析和处理；该步测量得到被测平面镜和辅助正透镜引入的像差。然后，移除被测平面镜，移动测量光纤端面到关于被测平面镜的共轭位置，从测量光纤和参考光纤衍射的球面波汇合而再次发生干涉；该步测量得到辅助正透镜引入的像差；将第一、二步测量结果相减即得到被测平面镜引入的像差，按球面波前入射角度修正即得到被测平面镜的面形。本发明方法有效的提高了光纤点衍射移相干涉仪上的平面面形测量精度。
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