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公开(公告)号:CN206149275U
公开(公告)日:2017-05-03
申请号:CN201621119747.X
申请日:2016-10-13
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H04B10/073
Abstract: 本专利公开了一种跟瞄系统对信标光斑位移灵敏度的测量装置。该装置采用基于小波变换的数据处理方法,由激光器、压电陶瓷驱动器、压电陶瓷快速反射镜、平行光管等模拟产生远距离的固定频率、幅度规律变化的光源位移,光源位移的幅度和频率是事先设置好的,再由待测系统对光源进行探测,由工作计算机对探测所得的信息进行小波变换等数据处理可得到待测系统对信标光斑的位移灵敏度。本专利能有效地抑制测量平台抖动对测量装置的干扰,且简便易行。
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公开(公告)号:CN207528422U
公开(公告)日:2018-06-22
申请号:CN201721148344.2
申请日:2017-09-08
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开一种主动抑制测试光路抖动的装置。主动抑制测试光路抖动装置由信标光,分光器,压电快反镜,控制计算机组成。整体方法为在测试光路检测端发射信标光,使用分光器耦合并入测试光,在测试光路中逆向传输到测试光路入光端。测试光路入光端安装有压电快反镜和分光器与检测相机。通过分光器将信标光分离出测试光,用检测相机采集光斑抖动,即为测试光路抖动。控制计算机使用质心算法计算信标光脱靶量控制压电快反镜对抖动补偿。本专利能有效抑制测试光路中由于平台等原因引起的抖动。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN202218230U
公开(公告)日:2012-05-09
申请号:CN201120208690.1
申请日:2011-06-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H04B10/10
Abstract: 本专利公开了一种用于量子通信系统的基矢自动调节装置,它包括旋转电机组件、半波片、电机控制器、实时控制器和量子通信系统中的旋转变压器。实时控制器通过旋转变压器实时读取望远镜的位置,根据算法计算出信号光偏转的角度以及半波片需要旋转的角度,生成控制信号发送给电机控制器,电机控制器收到控制信号后根据光电编码器测得的半波片位置,控制电机将半波片旋转到适当位置,将信号光旋转到恰当的偏振状态,以便于量子通信系统能通过基矢正确检测出量子光的偏振信息。本装置解决了信号光在量子通信中由于跟踪时望远镜方位变化而产生偏振方向变化的问题,从而保证接收端在特定的基矢标准下能正确检测出信号光的偏振状态。
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公开(公告)号:CN202059416U
公开(公告)日:2011-11-30
申请号:CN201120069718.8
申请日:2011-03-16
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开了一种深空光通信跟踪瞄准系统,该系统具有一个内部惯性参考光源及两个面阵相机,内部惯性参考光源与外部目标信标光波长不同,采用分色片使小面阵相机对系统内部的惯性参考光源成像,根据像点位置偏差闭环控制快速倾斜镜,使系统光路光轴稳定;大面阵相机对外部目标信标光成像,根据像点位置偏差调整上述小面阵相机的跟踪中心,达到稳定精确跟踪的目的。本实用新型可以大大降低深空光通信中对目标终端信标光激光器的功率需求,为系统实现提供了可行性保障。
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公开(公告)号:CN202059415U
公开(公告)日:2011-11-30
申请号:CN201120079090.X
申请日:2011-03-23
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开一种具有光轴自校准的空间量子通信ATP精跟踪系统,用以纠正因发射振动、在轨失重、热梯度等原因引起的量子光发射光轴中心与精跟踪相机视场中心不一致。它采用由角锥棱镜、快速指向镜、CMOS相机、量子发射模块以及分色片等组成的精跟踪系统,利用光纤合束器在量子发射模块中引入一路其他波长的强光作为自校准光。仪器工作之前在轨择机将自校准光引入相机成像,计算光斑质心位置,作为跟踪外部目标时的视轴中心。依此建立的星间或星地光链路,可使ATP系统在捕获并精确跟踪到接收端目标的同时,准确将量子信号沿光链路发送到接收端,保证顺利实现空间尺度量子通信。
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公开(公告)号:CN202024877U
公开(公告)日:2011-11-02
申请号:CN201120069752.5
申请日:2011-03-16
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本专利公开了一种标定偏振片透光轴的装置,它包括激光器、起偏器、旋转电机和功率计探头,激光器出射的光经过起偏片后变成线偏光,该线偏光对安装在带有刻度的旋转电机上的被检偏振片进行检偏,由安装在被检偏振片后面的功率计探头对检偏光进行激光能量检测。该装置基于偏振片透射轴及吸收轴的旋转对称原理,在对任意角度线偏光进行正反两次的偏振角度测量后,即可得到被测偏振片的透射轴或吸收轴,再利用水平S、竖直P线偏振光在两电介质分界面反射时的不同特性来判定偏振片的透光轴,从而实现偏振片透光轴的高精度标定。
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