公开(公告)号：CN102279094A

公开(公告)日：2011-12-14

申请号：CN201110063565.0

申请日：2011-03-16

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 王建宇 ,  吴金才 ,  何志平 ,  舒嵘 ,  贾建军 ,  杨世骥 ,  强佳 ,  周辉 ,  姜紫庆 ,  吴永红

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/00

Abstract: 本发明公开了一种标定偏振片透光轴的装置及方法，它采用两片待标定的偏振片及两种电介质组合来实现偏振片透光轴的准确标定，适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法基于偏振片透射轴及吸收轴的旋转对称原理，在对任意角度线偏光进行正反两次的偏振角度测量后，即可得到被测偏振片的透射轴或吸收轴，再利用水平S、竖直P线偏振光在两电介质分界面反射时的不同特性来判定偏振片的透光轴，从而实现偏振片透光轴的高精度标定。

公开(公告)号：CN102279094B

公开(公告)日：2013-04-17

申请号：CN201110063565.0

申请日：2011-03-16

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 王建宇 ,  吴金才 ,  何志平 ,  舒嵘 ,  贾建军 ,  杨世骥 ,  强佳 ,  周辉 ,  姜紫庆 ,  吴永红

IPC: G01M11/02 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明公开了一种标定偏振片透光轴的装置及方法，它采用两片待标定的偏振片及两种电介质组合来实现偏振片透光轴的准确标定，适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法基于偏振片透射轴及吸收轴的旋转对称原理，在对任意角度线偏光进行正反两次的偏振角度测量后，即可得到被测偏振片的透射轴或吸收轴，再利用水平S、竖直P线偏振光在两电介质分界面反射时的不同特性来判定偏振片的透光轴，从而实现偏振片透光轴的高精度标定。

公开(公告)号：CN202024877U

公开(公告)日：2011-11-02

申请号：CN201120069752.5

申请日：2011-03-16

Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所

Inventor： 王建宇 ,  吴金才 ,  何志平 ,  舒嵘 ,  贾建军 ,  杨世骥 ,  强佳 ,  周辉 ,  姜紫庆 ,  吴永红

IPC: G01M11/02

Abstract: 本专利公开了一种标定偏振片透光轴的装置，它包括激光器、起偏器、旋转电机和功率计探头，激光器出射的光经过起偏片后变成线偏光，该线偏光对安装在带有刻度的旋转电机上的被检偏振片进行检偏，由安装在被检偏振片后面的功率计探头对检偏光进行激光能量检测。该装置基于偏振片透射轴及吸收轴的旋转对称原理，在对任意角度线偏光进行正反两次的偏振角度测量后，即可得到被测偏振片的透射轴或吸收轴，再利用水平S、竖直P线偏振光在两电介质分界面反射时的不同特性来判定偏振片的透光轴，从而实现偏振片透光轴的高精度标定。