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公开(公告)号：CN114353968B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202011059644.X
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统，所述方法包括：将具有第一发射率的第一材料涂覆于所述被测对象的第一表面，并将具有第二发射率的第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面；所述被测对象还具有第三表面；对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像；分别接收所述第一表面的第一辐射亮度，所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度；根据所述第一辐射亮度，第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准。上述方法适合于内部狭小空间范围内的被测对象的实际温度进行准确测量，最终可以实时监测被测对象的真实温度。
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公开(公告)号：CN110388876B
公开(公告)日：2022-05-20
申请号：CN201810353372.0
申请日：2018-04-19
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种高温耦合场测量系统，该系统包括第一和第二光学组件、第一和第二探测组件以及测量控制处理单元，第一光学组件用于将被测目标的第一可见光图像和第一近红外图像成像在第一探测组件上，第二光学组件用于将被测目标的第二可见光图像和第二近红外图像成像在第二探测组件上，测量控制处理单元根据第一可见光图像以及第二可见光图像获取被测目标的位移及应变，测量控制处理单元根据第一近红外图像以及第一可见光图像和/或第二近红外图像以及第一可见光图像获取被测目标的温度。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中单参数独立测量方法存在多数据融合匹配精度差、参数测量时间不同步、使用复杂以及设备尺寸大的技术问题。
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公开(公告)号：CN114441036A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202011227760.8
申请日：2020-11-06
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供一种光学载荷绝对光谱响应度校准装置和方法，包括准直光学系统、隔振光学平台、标准成像辐射计、扫描控制系统、待测载荷、综合控制和数据处理系统、单色仪和宽光谱光源，宽光谱光源产生光束射入单色仪生成单色光束，当经过准直光学系统反射后通过标准成像辐射计，获得单色光束的强度信号；当单色光束直接被待测载荷接收，获得的单色光束强度信号，扫描控制系统控制待测载荷移动，综合控制和数据处理系统计算获得待测光学载荷每个像元的绝对光谱响应度。本发明进行大面阵的高分辨率光学载荷的校准，保证高分辨率光学载荷获取数据的准确性，这对后期数据的实际应用有着重大意义，是高分辨率光学载荷研制过程中不可或缺的重要环节。
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公开(公告)号：CN113916252A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202010644798.9
申请日：2020-07-07
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 一种可调式超微弱标准光子源，包括：双积分球体上、内设有平行的出光口及第三挡屏，第三挡屏穿过圆心，两个辅助球体分别通过遮光快门与双积分球体相连，第一灯箱安装在第一辅助球体上，与第一遮光快门同轴，轴心通过第一辅助球体圆心，第一挡屏安装在第一辅助球体内，通过第一辅助球体圆心，与第三挡屏平行，第一强度调节机构安装在第一灯箱上，第一强度调节机构轴线与第一灯箱轴线呈90°角；第二灯箱安装在第二辅助球体上，与第二遮光快门同轴，轴心通过第二辅助球体圆心，第二挡屏安装在第二辅助球体内，通过第二辅助球体圆心，与第三挡屏平行，第二强度调节机构安装在第二灯箱上，第二强度调节机构轴线与第二灯箱轴线呈90°角。
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公开(公告)号：CN110018547B
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN201810017157.3
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种用于宽温范围红外平行光管的机械被动消热差装置，该机械被动消热差装置包括平台支撑组件、第一光学元件底座、第二光学元件底座和第一消热差组件，第一光学元件底座设置在平台支撑组件上，第二光学元件底座设置在平台支撑组件上，第一消热差组件设置在第一光学元件底座和第二光学元件底座之间，第一消热差组件包括沿同一轴线方向连接的第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒，在宽温范围内，当温度发生变化时，第一铟钢棒和第一负膨胀系数材料棒彼此进行热补偿以保证第一光学元件底座和第二光学元件底座之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外平行光管在大温差变化条件下成像质量差的技术问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106679826B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201510760903.4
申请日：2015-11-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明提供一种微型成像式红外温度场测量系统，包括：红外成像模块，用于收集被测目标的红外辐射；N个辐射匀化单元，用于将所述红外辐射进行匀化处理，其中N为大于等于2的整数；与所述N个辐射匀化单元对应的N个单波长滤光单元，每个单波长滤光单元包括M个滤光片，用于分别获取不同波长的红外辐射，其中M为波长数量；红外探测器，用于检测不同波长的红外辐射并输出测量信号；将多波长辐射测温理论应用到微型成像式红外温度场测量系统，解决了目前微型成像式红外温度场测量系统抗干扰能力低、测量精度差的问题。
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公开(公告)号：CN110470385A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201810435084.X
申请日：2018-05-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，公开了一种光阑式真空紫外辐射亮度计。其中，该亮度计包括依次设置在光路中的光阑、探测器、放大器和采集器，所述光阑用于获取待测光源发出的待测光的光辐射，所述探测器用于对所述光辐射进行光电转换后输出电信号，所述放大器用于对所述电信号进行放大，所述采集器用于对放大后的电信号进行采集，并根据采集的电信号计算待测光的光谱辐射亮度值。由此，能够获取例如真空紫外光源的光谱辐射亮度值，为真空紫外空间载荷的地面标定提供准确的输入量值。
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公开(公告)号：CN110017900A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201810017158.8
申请日：2018-01-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种高低温红外成像系统检测装置，高低温红外成像系统检测装置包括平台支撑组件、目标黑体组件、背景黑体组件、靶标组件、高低温光学组件、第一消热差机构和第二消热差机构，目标黑体组件、背景黑体组件和靶标组件均可拆卸地设置在平台支撑组件上，目标黑体组件所产生的目标红外辐射和背景黑体组件所产生的背景红外辐射均通过靶标组件进入高低温光学组件以形成带有背景的红外目标，第一消热差机构用于保证靶标组件和次镜单元之间的距离不变，第二消热差机构用于保证次镜单元和主镜单元之间的距离不变。应用本发明的技术方案，以解决现有技术中红外成像系统检测装置无法实现深空背景、复杂背景、宽温范围下的目标仿真测试的技术问题。
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公开(公告)号：CN106885632B
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201710125038.5
申请日：2017-03-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及一种真空紫外光谱辐射计校准方法及装置，所述方法包括：光谱辐射亮度响应度校准、光谱辐射照度响应度校准和/或波长准确度校准，上述校准均是在无油真空仓中进行的。所述装置包括光谱辐射亮度响应度校准机构、光谱辐射照度响应度校准机构和波长准确度校准机构。国内目前尚无适用于真空紫外光谱辐射计的校准装置，采用本发明的真空紫外光谱辐射计校准方法及装置，可在发射前即在地面实验室真空紫外光谱辐射计的多个参数进行校准，有效保证了真空紫外光谱辐射计获取数据的准确性，对获取太阳和地球表面等日地空间环境的光谱信息等均有着重大意义。
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公开(公告)号：CN105371992B
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201510929982.7
申请日：2015-12-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明涉及一种温度传感器响应一致性标定测试系统，包括：大功率二氧化碳激光器1、导光管2、光学反射金属碗3、光学平面反射镜4、测试平台机构5、真空仓6和待标定温度传感器7，所述真空仓6置于所述测试平台机构5上，所述真空仓6中设置有光学反射金属碗3、光学平面反射镜4及待标定温度传感器7，所述大功率二氧化碳激光器1与导光管2连接。本发明保证了对待测温度传感器的温度响应曲线的输入变量保持一致，进而绘制的温度响应曲线只收温度传感器本身的特性影响，排除了外界环境对其的影响。
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