公开(公告)号：CN104964943A

公开(公告)日：2015-10-07

申请号：CN201510279002.3

申请日：2015-05-28

Applicant: 中北大学

Inventor： 陈媛媛 ,  李墅娜 ,  王志斌 ,  张瑞 ,  陈友华 ,  王芳 ,  李克武 ,  张敏娟 ,  李晋华

IPC: G01N21/35

Abstract: 本发明涉及红外光谱波长技术领域，更具体而言，涉及一种基于凸优化理论的新型红外光谱波长选择方法，是一种采用Group Lasso方法、无需知道光谱分块先验知识的自适应波长选择方法；本发明将红外光谱波长筛选问题转化为一个Group Lasso稀疏优化问题，充分利用红外光谱的稀疏结构先验知识，自适应确定分块大小，同时采用Shooting快速算法计算稀疏解，并对稀疏解进行Belsley共线性检验，剔除其中贡献较小的波长点；该方法具备计算量小、可调参数少、鲁棒性强等优点，从而可以有效降低模型的复杂度，提升模型的泛化性能，可以广泛应用于固相、液相和气相的红外光谱波长选择领域中。

公开(公告)号：CN104535191A

公开(公告)日：2015-04-22

申请号：CN201410857811.3

申请日：2014-12-31

Applicant: 中北大学

Inventor： 张瑞 ,  张敏娟 ,  李克武 ,  王志斌 ,  王耀利 ,  李晋华 ,  陈媛媛 ,  陈友华

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构，属于偏振光谱成像测量结构技术领域；提供一种基于磁旋光和AOTF的偏振光谱成像测量结构，该结构完全通过电脑控制磁旋光线圈电压和AOTF的驱动频率实现偏振光谱成像，无运动部件，且只需一个面阵列光电探测器；包括前置望远准直光学模块、磁制旋光调制器、AOTF、挡光板、成像光学模块、面阵列光电探测器和控制电脑，所述前置望远准直光学模块、磁制旋光调制器、AOTF、挡光板、成像光学模块和面阵列光电探测器依次放置，所述面阵列光电探测器与控制电脑连接；本发明主要应用在偏振光谱成像测量方面。

公开(公告)号：CN104267454A

公开(公告)日：2015-01-07

申请号：CN201410528882.9

申请日：2014-09-25

Applicant: 中北大学

Inventor： 张瑞 ,  陈媛媛 ,  张敏娟 ,  李晋华 ,  陈友华 ,  李世伟 ,  王耀利 ,  王志斌 ,  李克武

IPC: G02B5/18 ,  G01J9/00

CPC classification number: G02B5/1866 ,  G02B5/1814 ,  G02B2005/1804

Abstract: 本发明涉及一种透射光栅结构，具体涉及一种用于激光告警多闪耀波长的透射光栅结构；提供一种均衡零级与正负一级衍射效率的多闪耀波长的透射光栅结构，该结构光栅一级具有较高衍射效率且宽光谱的优点，并且提高闪耀光栅零级的效率；包括透射闪耀光栅A、透射材料、透射闪耀光栅B、透镜组和焦平面阵列探测器，所述透射闪耀光栅A通过透射材料与透射闪耀光栅B联接，所述透射闪耀光栅A、透射材料和透射闪耀光栅B组成透射式闪耀光栅，所述透射式闪耀光栅和焦平面阵列探测器放置在透镜组的两侧，所述透射闪耀光栅B与透射闪耀光栅A完全相同，且通过透射材料与透射闪耀光栅A反向联接；本发明主要应用在激光探测方面。

公开(公告)号：CN111781401B

公开(公告)日：2025-05-13

申请号：CN202010743487.8

申请日：2020-07-29

Applicant: 中北大学

Inventor： 李克武 ,  邓祎昕 ,  李元振 ,  许涛 ,  温斐旻

IPC: G01Q60/24

Abstract: 一种基于原子力显微镜的光路集成结构，包括：基板，用于提供支撑基础；载物台组件，设置在基板上用于放置待测物；激光发生组件，设置在基板上用于发出激光束；第一反射组件，设置在所述基板上用于将激光发生组件产生的激光束反射到载物台组件；第二反射组件，设置在所述基板上用于将载物台组件反射回来的激光束反射到探测器单元；探测器单元，设置在所述基板上用于接收第二反射组件反射来的激光束并感应激光束的落点位置。本发明的有益效果在于，本发明的结构通过双反射镜精准定位，定位精度可达纳米级，载物台组件和探针调节器可实现对探针的移动控制更加细微精确，省去大量光路调节时间，使得实验效率得到提升。

公开(公告)号：CN118149975A

公开(公告)日：2024-06-07

申请号：CN202410286936.9

申请日：2024-03-13

Applicant: 中北大学

Inventor： 李克武 ,  崔波渝 ,  吴倩楠 ,  李孟委 ,  王志斌

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明属于波前和偏振检测技术领域，具体涉及一种应用消色差超表面的波前和偏振检测装置及方法，所述入射光源的光路方向上设置有低折射的熔融石英衬底上刻蚀纳米柱超表面，所述低折射的熔融石英衬底上刻蚀纳米柱超表面和微镜阵列均固定在探测器转接环内，所述低折射的熔融石英衬底上刻蚀纳米柱超表面的光路方向上设置有微镜阵列，所述探测器转接环与探测器CCD芯片固定连接，所述微镜阵列的光路方向上设置有探测器CCD芯片。实现了轻量化及像素配准的偏振矢量测量，多个通光通道采集的偏振矢量信息图像，与分孔径偏振测量相比，减少空间分辨率的牺牲，能够在实现偏振矢量测量的高分辨率，更加高速的完成偏振矢量的探测。

公开(公告)号：CN112129983B

公开(公告)日：2024-05-10

申请号：CN202011021173.3

申请日：2020-09-25

Applicant: 中北大学

Inventor： 张敏娟 ,  王志斌 ,  李克武 ,  景宁 ,  李晋华 ,  张瑞 ,  王耀利 ,  王爽

IPC: G01R13/02

Abstract: 本发明属于波形恢复数据处理技术领域，具体涉及一种基于等时间间隔等效取样的波形恢复数据处理方法，包括下列步骤：S1、采用等时间间隔脉冲信号对超高频信号进行等效取样；S2、在频域内逐次逼近超高频信号的幅值最大值所对应的频率值；S3、通过欠取样时域波形和频率值的确定，重建原始信号。所述S1中对超高频信号进行取样的方法为：采用三个相邻采样频率对被测超高频信号分别进行取样，得到采样值。本发明采用三个相邻采样频率对被测信号进行取样，可克服被测信号含有整倍频采样率成分时的漏频问题，同时也可以基于三个不同取样率的取样信号进行频谱信号的频率计算。本发明用于波形的恢复及数据处理。

公开(公告)号：CN115855261A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202211458821.0

申请日：2022-11-17

Applicant: 中北大学

Inventor： 张瑞 ,  薛鹏 ,  杨帅 ,  李克武 ,  王志斌 ,  李孟委

IPC: G01J4/00

Abstract: 本发明属于椭偏测量装置技术领域，具体涉及一种基于弹光调制干涉具的高速傅里叶光谱椭偏测量装置，所述宽波段复色红外光源的光路方向上设置有第一偏振片，所述第一偏振片的光路方向上设置有样品，所述样品设置在载物台上，所述样品的反射光路上设置有第一可旋转补偿器，所述第一可旋转补偿器的光路方向上设置有第二偏振片，所述第二偏振片的光路方向上设置有高速弹光调制干涉具，所述高速弹光调制干涉具的光路方向上设置有第三偏振片，所述第三偏振片的光路方向上设置有高速宽波段探测器。本发明通过对高速弹光调制傅里叶光谱技术，结合对光谱椭偏技术，解决宽波段光谱椭偏测量速度慢的问题，实现了可见到红外宽波段，毫秒级光谱椭偏测量。

公开(公告)号：CN115684027A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202211182428.3

申请日：2022-09-27

Applicant: 中北大学

Inventor： 张瑞 ,  薛鹏 ,  李克武 ,  王志斌

IPC: G01N21/21

Abstract: 本发明属于椭偏精确测量装置及方法技术领域，具体涉及一种基于单弹光调制自反馈的超高速椭偏精确测量装置及方法，所述光源的光路方向上依次设置有起偏器、四分之一波片、被测样品，所述被测样品的反射光路上依次设置有弹光调制器、检偏器、探测器，所述弹光调制器电性连接有弹光调制器驱动控制及多路数字锁相放大电路。本发明通过对单个弹光调制调制后的光电信号进行多倍频信号锁相放大，以弹光调制器驱动频率为参考，获得一倍频、二倍频、三倍频、四倍频的信号幅值，结合理论计算实时获得两个弹光调制器自身长期工作温度影响及环境影响导致调制相位幅值，进而实现被测样品的椭偏参数Δ和Ψ的精确测量。

公开(公告)号：CN115575329A

公开(公告)日：2023-01-06

申请号：CN202211180170.3

申请日：2022-09-27

Applicant: 中北大学

Inventor： 李克武 ,  王志斌 ,  王爽 ,  张敏娟 ,  张瑞 ,  景宁 ,  薛鹏 ,  薛锐

IPC: G01N21/21 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明属于全范围椭偏测量装置技术领域，具体涉及一种基于双弹光级联差频调制的全范围椭偏测量装置，包括检测光源、起偏器、第一弹光调制器、样品、第二弹光调制器、检偏器、光电探测器，所述检测光源的光路方向上依次设置有起偏器、第一弹光调制器、样品，所述样品的反射光路上依次设置有第二弹光调制器、检偏器、光电探测器。本发明利用弹光调制器的调制频率高、调制纯度大、通光光谱范围宽和视场角大等优势，选用两个调制频率不一致的弹光调制器联合使用，构建双弹光级联差频调制，基于该调制技术能够实现出射光全部4个Stokes矢量测量，进而能够实现椭偏参量全范围测量。

公开(公告)号：CN112945864B

公开(公告)日：2022-11-08

申请号：CN202110138831.5

申请日：2021-02-01

Applicant: 中北大学

Inventor： 李克武 ,  王爽 ,  王志斌

IPC: G01N21/21 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明属于本发明属于广义椭偏分析方法及仪器设备技术领域，具体涉及一种基于双快轴可调弹光调制的广义椭偏分析装置，所述准直光源的光路方向上依次设置有偏振发生器、样品夹具，所述样品夹具上固定有待测样品，所述样品夹具的底部与仪器旋转台转动连接，所述待测样品的光路方向上依次设置有偏折分析器、光谱测量系统，所述光谱测量系统通过导线连接有控制电脑PC，所述控制电脑PC连接有弹光调制系统控制模块，所述弹光调制系统控制模块分别与偏振发生器、偏折分析器连接。本发明无需机械调节，并且本发明快速、准确，能够为偏振测量相关领域提供新装置和新方法。本发明用于广义椭偏分析。