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公开(公告)号：CN118149975A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410286936.9
申请日：2024-03-13
Applicant: 中北大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明属于波前和偏振检测技术领域，具体涉及一种应用消色差超表面的波前和偏振检测装置及方法，所述入射光源的光路方向上设置有低折射的熔融石英衬底上刻蚀纳米柱超表面，所述低折射的熔融石英衬底上刻蚀纳米柱超表面和微镜阵列均固定在探测器转接环内，所述低折射的熔融石英衬底上刻蚀纳米柱超表面的光路方向上设置有微镜阵列，所述探测器转接环与探测器CCD芯片固定连接，所述微镜阵列的光路方向上设置有探测器CCD芯片。实现了轻量化及像素配准的偏振矢量测量，多个通光通道采集的偏振矢量信息图像，与分孔径偏振测量相比，减少空间分辨率的牺牲，能够在实现偏振矢量测量的高分辨率，更加高速的完成偏振矢量的探测。
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