等离子体成膜装置
    22.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103890229B

    公开(公告)日:2015-12-16

    申请号:CN201180072547.7

    申请日:2011-09-26

    Inventor: 铃木正康

    Abstract: 本发明提供一种等离子体成膜装置,具备:腔室,搬入有基板固定器,基板固定器具有搭载面,该搭载面搭载着基板;阴极电极,以与搭载面相对向的方式而配置,上述搭载面于腔室内、在上下方向延伸地配置;气体供给装置,将工艺气体导入至腔室内的基板固定器与阴极电极之间;以及交流电源,将交流电力供给至基板固定器与阴极电极之间,使工艺气体于基板固定器与阴极电极之间达到等离子体状态,将以工艺气体中所含的原料作为主成分的薄膜形成于基板上。

    等离子体成膜方法以及等离子体CVD装置

    公开(公告)号:CN101874293B

    公开(公告)日:2011-11-30

    申请号:CN200880117487.4

    申请日:2008-02-26

    Inventor: 铃木正康

    Abstract: 在利用电容耦合型等离子体CVD装置的成膜过程中,对低频RF电源进行脉冲控制。脉冲控制中,将实施电力供给的接通时间与停止电力供给的断开时间作为一个期间,以周期性地反复实施电力供给。脉冲控制中,将停止电力供给之后的等离子体中的电子密度的下降过程中、电子密度自停止电力供给起直至达到产生电弧放电的残留等离子体临限值为止的时间,与停止电力供给之后的等离子体中的高温电子的密度下降过程中、自停止电力供给起直至达到特定的等离子体状态为止的时间之间的时间间隔,作为停止电力供给的断开时间,并将开始电力供给之后等离子体中的高温电子密度的上升过程中的饱和时间作为电力供给的接通时间的上限,在上述条件下间断地供给电力。

    沉积用于有机电致发光的保护薄膜的设备和方法

    公开(公告)号:CN1543272A

    公开(公告)日:2004-11-03

    申请号:CN200410042096.4

    申请日:2004-04-30

    CPC classification number: C23C16/463 C23C16/4586 C23C16/466 C23C16/511

    Abstract: 本发明公开了一种沉积用于有机电致发光的保护薄膜的设备和方法,在通过表面波等离子体化学气相沉积(SWP-CVD)法沉积薄膜的薄膜沉积设备中,对上面放置有基底(9)的基底支架(8)配置冷却装置,由此防止在薄膜沉积期间可能引起的基底(9)温度升高。在基底支架(8)中形成冷却剂通道(81),从冷却器(4)输送的冷却剂经冷却剂通道(81)循环,由此冷却基底支架(8)。另外,在被放置基底的基底支架的表面形成槽(82),并且通过使He气流经槽(82)来冷却基底(9)。

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