表面波激发等离子体处理装置

    公开(公告)号:CN101099419A

    公开(公告)日:2008-01-02

    申请号:CN200680001834.8

    申请日:2006-04-26

    CPC classification number: H01J37/32192 H05H1/46

    Abstract: 一种表面波激发等离子体处理装置,其可一直维持以大面积生成均匀的等离子体。此表面波激发等离子体处理装置的等离子源(10)包括:微波产生装置、微波导波管(12)、以及介电体块(13),等离子源(20)亦同样包括:微波产生装置、微波导波管(22)、以及介电体块(23)。于腔室(1)的盖体(3)上,并列安装有微波导波管(12、22),并将介电体块(13、23)配设于腔室(1)内。使反射板(30)设于介电体块(13)与(23)之间,以阻止传播于介电体块(13、23)内的电磁波(微波)作为反射波而相互进入。藉此,独立控制等离子源(10、20)。又,于介电体块(13、23)的外周部配设有侧反射体(40),以形成传播于介电体块(13、23)内的电磁波的驻波,并以大面积均匀地形成表面波SW的驻波模式。

    沉积用于有机电致发光的保护薄膜的设备和方法

    公开(公告)号:CN100442574C

    公开(公告)日:2008-12-10

    申请号:CN200410042096.4

    申请日:2004-04-30

    CPC classification number: C23C16/463 C23C16/4586 C23C16/466 C23C16/511

    Abstract: 本发明公开了一种沉积用于有机电致发光的保护薄膜的设备和方法,在通过表面波等离子体化学气相沉积(SWP-CVD)法沉积薄膜的薄膜沉积设备中,对上面放置有基底(9)的基底支架(8)配置冷却装置,由此防止在薄膜沉积期间可能引起的基底(9)温度升高。在基底支架(8)中形成冷却剂通道(81),从冷却器(4)输送的冷却剂经冷却剂通道(81)循环,由此冷却基底支架(8)。另外,在被放置基底的基底支架的表面形成槽(82),并且通过使He气流经槽(82)来冷却基底(9)。

    沉积用于有机电致发光的保护薄膜的设备和方法

    公开(公告)号:CN1543272A

    公开(公告)日:2004-11-03

    申请号:CN200410042096.4

    申请日:2004-04-30

    CPC classification number: C23C16/463 C23C16/4586 C23C16/466 C23C16/511

    Abstract: 本发明公开了一种沉积用于有机电致发光的保护薄膜的设备和方法,在通过表面波等离子体化学气相沉积(SWP-CVD)法沉积薄膜的薄膜沉积设备中,对上面放置有基底(9)的基底支架(8)配置冷却装置,由此防止在薄膜沉积期间可能引起的基底(9)温度升高。在基底支架(8)中形成冷却剂通道(81),从冷却器(4)输送的冷却剂经冷却剂通道(81)循环,由此冷却基底支架(8)。另外,在被放置基底的基底支架的表面形成槽(82),并且通过使He气流经槽(82)来冷却基底(9)。

    带金属膜的物体
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114929926A

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN202080092190.8

    申请日:2020-02-28

    Abstract: 本发明的带金属膜的物体包括:基材,包含树脂或玻璃;金属膜,覆盖基材的至少一部分;第一层,位于基材与金属膜之间,以构成金属膜的金属的氧化物为主成分;以及第二层,位于所述基材与所述第一层之间,以所述基材的组合物的氧化物为主成分,所述第一层对所述第二层的密接强度为3[N/cm]以上。

    样品支持器
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103451628A

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201310109475.X

    申请日:2013-03-27

    Abstract: 本发明是有关于一种样品支持器,可改善在利用等离子化学气相沉积法的成膜处理步骤中,形成在基板上的薄膜的膜厚分布。本发明的样品支持器被储存在等离子处理装置中,且样品支持器被安装在与呈梳齿状配置的电极对向的位置;且样品支持器具有搭载面,该搭载面沿着定义搭载处理对象的基板的搭载区域的垂直方向延伸,且搭载面的外缘的角部被进行C修角或R修角。

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