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公开(公告)号:CN117518119A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202310199257.3
申请日:2023-02-28
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G01S7/48 , G01S7/4861 , G01S17/10
Abstract: 本发明公开信号处理装置、光检测器以及距离测量装置。提供能够抑制制造成本且提高测距性能的距离测量装置。实施方式的信号处理装置包括多个输入端、第1至第N输出端(N是2以上的整数)以及控制电路。第1至第N输出端与各自包括连续的M个(M是2以上的整数)的输入端的第1至第N群组分别关联起来。控制电路使分别输入到第k群组(k是1以上且N以下的整数)的连续的M个输入端的多个信号被累计而成的信号输出到第k输出端,将作为M个输入端而分配的输入端的组合以在第1设定至第M设定的各设定中互不相同的方式切换。
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公开(公告)号:CN109507681B
公开(公告)日:2023-05-26
申请号:CN201810047330.4
申请日:2018-01-18
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝电子元件及存储装置株式会社
IPC: G01S17/08
Abstract: 本发明提供即使提高镜的旋转速度也能够稳定地进行距离计测的距离计测装置。实施方式的距离计测装置具备光源、照射光学系统、受光光学系统、传感器、提取部、调整部、信号生成部和距离计测部。光源间歇性地发出激光。照射光学系统经由镜向计测对象进行照射。受光光学系统经由镜接收激光的反射光。传感器具有将反射光转换为电气信号的多个受光元件。提取部提取在与计测对象物之间的距离计测中使用的受光元件。调整部以与提取部提取出的受光元件对应的放大率,对受光元件的电气信号的信号值进行调整。信号生成部生成时间序列性测定用信号。距离计测部基于激光的发光定时与时间序列性测定用信号的信号值的峰值位置的定时之间的时间差,对距离进行计测。
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公开(公告)号:CN112305556A
公开(公告)日:2021-02-02
申请号:CN202010724144.7
申请日:2020-07-24
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝电子元件及存储装置株式会社
IPC: G01S17/14
Abstract: 实施方式涉及距离测量装置以及距离测量方法。实施方式的距离测量装置处理根据与激光的反射光相应的传感器输出而生成的第1时间序列亮度信号,其中,所述距离测量装置具备测量信号生成电路和测量处理电路。测量信号生成电路生成第3时间序列亮度信号,该第3时间序列亮度信号是从所述第1时间序列亮度信号减去与基于激光的来自测定对象物外的反射光相应的第2时间序列亮度信号而得到的。测量处理电路根据第3时间序列亮度信号,生成距测定对象物的距离值。
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公开(公告)号:CN111722239A
公开(公告)日:2020-09-29
申请号:CN201911270128.9
申请日:2019-12-12
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝电子元件及存储装置株式会社
IPC: G01S17/08 , G01S17/14 , G01S7/4914 , G01S7/4863 , G01S7/481
Abstract: 实施方式涉及受光装置以及距离测定装置。实施方式的受光装置具备受光部。所述受光部具备多个像素,该多个像素在第1方向以及作为与所述第1方向交叉的方向的第2方向上配置成阵列状,能够根据接收到的光的强度来输出信号。所述多个像素分别具备1个或者多个受光元件。所述受光部具有由多个连续的所述像素构成的受光区域,根据表示所述第1方向上的所述受光区域的位置以及所述第2方向上的所述受光区域的位置的信号来指定所述受光部中的所述受光区域。
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公开(公告)号:CN110907942A
公开(公告)日:2020-03-24
申请号:CN201910021293.4
申请日:2019-01-10
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝电子元件及存储装置株式会社
IPC: G01S17/08
Abstract: 本发明公开距离测量装置以及距离测量方法。本实施方式所涉及的距离测量装置具有时刻取得电路和距离测量电路。时刻取得电路取得对激光的反射光进行信号化而得到的测量信号达到第一阈值的上升时刻和在达到第一阈值后测量信号达到第二阈值的下降时刻。距离测量电路根据基于第一时刻以及第二时刻的时刻与激光的照射时刻的时间差,测量距对象物的距离,所述第一时刻是对上升时刻用第一权重系数进行加权而得到的,所述第二时刻是对下降时刻用第二权重系数进行加权而得到的。
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公开(公告)号:CN109521435A
公开(公告)日:2019-03-26
申请号:CN201810053142.2
申请日:2018-01-19
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝电子元件及存储装置株式会社
IPC: G01S17/10
Abstract: 实施方式提供能够高精度地判断检测的光是正规的反射光还是干扰光的距离计测装置。实施方式的距离计测装置具备:出射部,间歇地出射光;以及计测部,基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间,计测到上述被测定物的距离。上述出射部每规定周期延迟随机的时间长的偏移的量地出射光。而且,上述计测部使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计而生成累计检测信号,基于上述累计检测信号,判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光。
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公开(公告)号:CN100338568C
公开(公告)日:2007-09-19
申请号:CN02148248.9
申请日:2002-10-31
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G06F9/00
CPC classification number: G06F17/5045 , G06F17/5022
Abstract: 本发明揭示一种开发片上系统用的开发环境的生成方法及存储该程序的媒体。片上系统开发环境生成方法包含根据配置指定文件构筑编译程序的编译程序定制单元、构筑汇编程序的汇编程序定制单元及构筑仿真程序的仿真程序生成单元,配置指定文件包含指定的执行指令的硬件。
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公开(公告)号:CN1231836C
公开(公告)日:2005-12-14
申请号:CN02148251.9
申请日:2002-10-31
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: G06F11/3648
Abstract: 本发明提供一种排错(debug)装置及排错方法。在第1存储装置存储多个程序码。各程序码具有识别符。第2存储装置至少具有一个存储区域,在该存储区域存储在第1存储装置存储的多个程序码中的被执行的程序码。第1变数存储区域保持在第2存储装置存储的程序码的识别符。控制部在命令的内容与第1变数区域的内容一致的情况下使其中断。
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公开(公告)号:CN1453699A
公开(公告)日:2003-11-05
申请号:CN02148248.9
申请日:2002-10-31
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G06F9/00
CPC classification number: G06F17/5045 , G06F17/5022
Abstract: 本发明揭示一种开发片上系统用的开发环境的生成方法及存储该程序的媒体。片上系统开发环境生成方法包含根据配置指定文件构筑编译程序的编译程序定制单元、构筑汇编程序的汇编程序定制单元及构筑仿真程序的仿真程序生成单元,配置指定文件包含指定的执行指令的硬件。
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