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公开(公告)号：CN105953817A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610265230.X
申请日：2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C25/00
CPC classification number: G01C25/00
Abstract: 本发明提供的是一种光纤陀螺核心敏感光路的组装方法。在Y波导芯片与2×2保偏耦合器、Y波导芯片和光纤环组装时，利用白光干涉分布式测量的特点，对Y波导输入、输出处的保偏光纤的对准情况进行测量，使用特征峰的幅值大小确定组装角度，将光纤陀螺与Y波导的制作过程合并，对器件进行筛选、对准和固化状态进行调整，实现2×2保偏耦合器、Y波导和光纤环之间无焊点的连接，提高光纤陀螺的一体化水平。本发明具有光纤陀螺核心敏感光路焊点少、一体化程度高、监测装置搭建简单、Y波导输入与输出口串扰低等优点，广泛用于光纤陀螺核心敏感光路的组装中。
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公开(公告)号：CN103900680B
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201410120580.8
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明提供的是一种利用光源抑制偏振串音测量噪声的装置及检测方法。装置由宽谱光源、待测偏振器件、光程相关器、差分探测装置、光电信号转换与信号记录装置组成，特征是宽谱光源是具有高偏振度的低相干光源，光源之后放置具有高消光比的偏振器件；方法是：光源和偏振器件之间连接偏振态控制器，通过对光源输出光的偏振状态调节，使线偏振光与偏振器件的起偏角严格重合。该装置将高偏振度光源与高消光比偏振器件进行组合，通过提高注入到待测器件中信号光的消光比，来抑制光学相干域偏振计中的测量噪声，提高对器件偏振特性的测量精度。本发明结构简单、性能优良、调节容易，可广泛应用于光纤型保偏器件光学性能的高精度测量与分析等领域。
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公开(公告)号：CN104792503A
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201510223974.0
申请日：2015-05-05
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种增强测量信号的信噪比，提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围，用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析的光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置。一种光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置，包括宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、第一光纤旋转连接器、第二光纤旋转连接器、光程解调与信号探测器、信号检测与处理装置。本发明在单一相关器测量极限的基础上，采用光程相关器两支路同步测量的结构，使用偏振分束器将传输在两偏振主轴上的信号光分离，两路干涉信号同步扫描后线性叠加，在将测量信噪比提升倍的同时，又能测量分布式串扰的绝对强度，大幅提高测量系统灵敏度和准确性。
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公开(公告)号：CN103743487A
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN201310739314.9
申请日：2013-12-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到差分对称光程扫描的一种光学相干域偏振测量装置。本发明的宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、检偏器、光程相关器、差分探测装置、光电信号转换与信号记录装置按照上述顺序连接在一起。本发明利用光学相干域偏振测量装置信号输出幅度与光程扫描延迟器透射光强的乘积成正比的特点，使处于光程相关器两干涉臂中的差分对称光程扫描装置实现光强自动补偿，极大地抑制了单一扫描器强度浮动对测量的影响，提高偏振串音的测量精度，降低对扫描器强度浮动性能的要求。
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公开(公告)号：CN105841928B
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201610157528.9
申请日：2016-03-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光纤偏振器件的高消光比测量方法。一种光纤偏振器件的高消光比测量方法，在待测高消光比偏振器件即Y波导的输入、输出端分别焊接两段不同长度的保偏光纤，构成带有定量串扰标记的测量组件；焊接时利用集总式消光比测试仪对焊接点的消光比进行定量控制并记录其测量值，同时对起偏器尾纤、检偏器尾纤、高消光比偏振器件尾纤、焊接保偏光纤的长度进行设定；将测量组件接入分布式光纤偏振串扰测试装置中，利用外接光纤焊接点之间的二阶串扰测量值对待测偏振器件消光比进行标定和自校准。在测量过程时，可对串扰标记和测量峰进行同步测量，杜绝测量环境改变和器件连接精度等引入的误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105784336B
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201610265283.1
申请日：2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种光纤器件的透射和反射性能同时测试的装置及方法。向待测器件中注入宽谱光，产生能反映其透射和反射性能的两路光信号，并将光信号注入到光学相干域偏振测量技术透射性能测试结构和光学低相干反射技术的反射性能测试结构中，使用共用延迟部件进行扫描，对两路光信号进行测量，同时得到待测光纤器件的透射和反射特征。在使用同一光源和同一延迟部件的情况下，光纤器件的透射和反射性能测试装置可精确测量待测器件的偏振性能、色散特性、损耗特性、相干光谱特性等特征参数。本发明具有集成程度高、测试参数全、抗电磁干扰、器件组成简单等优点，可广泛用于保偏光纤、集成波导调制器等光学器件性能的高精度测量与分析。
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公开(公告)号：CN107289922A
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201710050099.X
申请日：2017-01-23
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C19/72
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种共光路的光纤陀螺环正反向同时测量装置。一种共光路的光纤陀螺环正反向同时测量装置，包括光源装置、测试装置11、光程相关器12、光电信号转换与信号记录装置13；光程相关器12包括由第1六端口耦合器121、第2六端口耦合器122、第1准直透镜123、第2准直透镜124和扫描台125组成。本发明减少了光纤陀螺环偏振耦合测量装置的测试时间，提高测量效率，消除温度等环境因素的影响，能够准确地获得光纤陀螺环的偏振耦合对称性。
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公开(公告)号：CN104280217B
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201410535211.5
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置：待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接，构成马赫‑泽德干涉仪；光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能，两个通道不会交叉干扰，这样使测试结果更加准确。
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公开(公告)号：CN104280216B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201410535202.6
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置，包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，双通道光耦合装置第一输入端，第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端，将两个通道的光信号合并为一路，由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行，其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路，然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性，提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN104280215B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201410535191.1
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导的双通道光学性能双向多对轴角度自动测试装置。包括高偏振稳定度宽谱光源、光信号换轴机构、光信号通道方向切换机构、待测集成波导调制器即Y波导、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，光信号换轴机构具有第一输入端尾纤、第二输入端尾纤，第三输出端尾纤、第四输出端尾纤分别与高偏振稳定度宽谱光源、光程解调装置、光信号通道方向切换机构的第一输入端、第二输入端连接。使用计算机控制装置的换轴、换向、换通道功能，可以对待测波导器件实现多对轴角度、双向、双通道的测试。其测试结果更加详细、全面和精确。
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