公开(公告)号：CN108920839A

公开(公告)日：2018-11-30

申请号：CN201810726726.1

申请日：2018-07-04

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 翟国富 ,  郑博恺 ,  司爽 ,  林义刚 ,  叶雪荣

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的滚控电子模块贮存可靠性评估方法，所述方法首先通过建立滚控电子模块功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响滚控电子模块输出特性的底层关键元器件；然后，结合失效模式及失效机理分析、输出特性参数初始分布及加速贮存退化试验实测数据，得到具有分布特性的底层关键元器件贮存退化数据；最后，结合失效阈值及所建立的滚控电子模块可靠性框图中，得到滚控电子模块贮存可靠度。本发明解决了小子样问题下滚控电子模块贮存可靠性评估准确度低的问题，为滚控电子模块的贮存可靠性评估提供了一种新的思路。

公开(公告)号：CN108897961A

公开(公告)日：2018-11-27

申请号：CN201810726731.2

申请日：2018-07-04

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 翟国富 ,  叶雪荣 ,  郑博恺 ,  司爽 ,  林义刚

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5009

Abstract: 本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过EDA仿真模型及多物理场耦合模型对电子类单机进行描述，建立电子类单机功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响电子类单机输出特性参数的关键底层单元；然后，对关键底层单元进行失效模式及失效机理分析，结合底层单元工艺数据及加速贮存试验中实测的贮存退化数据，建立具有分布特性的底层单元贮存退化模型；最后，通过可靠性框图对电子类单机结构特征进行描述，并将各底层单元贮存失效率注入其中，完成电子类单机贮存可靠性评估。本发明解决了因进行加速贮存试验时电子类单机样本量过小，而导致的贮存可靠性评估结果准确度较低的问题。

公开(公告)号：CN108710745A

公开(公告)日：2018-10-26

申请号：CN201810470432.7

申请日：2018-05-16

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  林义刚 ,  陈岑 ,  付饶 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5018

Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺数据的机电产品可靠性评估方法，所述方法首先根据机电产品的组成特点、制造工艺数据以及退化机理确定其输出特性退化模型的函数形式；之后以该机电产品的制造工艺数据为基础，通过有限元仿真及近似建模方法得到退化模型中随机影响系数的k个集合；同时，基于机电产品试验样本的退化数据，通过多次迭代的方式估计出退化模型中固定影响系数的值；随后，根据所得到的k组随机影响系数集合、固定影响系数估计值以及所述机电产品的退化失效阈值，得到该产品的k个退化失效伪寿命；最后，基于得到的退化失效伪寿命，计算并给出该机电产品在各时刻的可靠度。本发明为解决小子样条件下的批次产品可靠性评价问题提供了有效手段。

公开(公告)号：CN108647458A

公开(公告)日：2018-10-12

申请号：CN201810470417.2

申请日：2018-05-16

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  林义刚 ,  王清敏 ,  郑博恺 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺数据的机电产品退化建模方法，所述方法首先根据机电产品的组成特点、制造工艺数据以及退化机理确定其输出特性退化模型函数形式；之后以该机电产品的制造工艺数据为基础，通过有限元仿真及近似建模方法确定退化模型中随机影响系数的分布情况；同时基于机电产品试验样本的退化数据，估计出退化模型中固定影响系数的值；最后，根据所确定退化模型函数形式以及随机影响系数与固定影响系数，给出结合制造工艺数据的机电产品退化模型。本发明解决了目前的退化建模方法由于无法对由制造工艺所决定的随机影响系数进行量化表述，而需要对其分布情况进行主观假设的问题。

公开(公告)号：CN107862130B

公开(公告)日：2018-09-11

申请号：CN201711073253.1

申请日：2017-11-04

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  王清敏 ,  武旸 ,  林义刚 ,  郑博恺 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

Abstract: 一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法，包括如下步骤：建立继电器动态特性仿真模型；基于动态特性仿真建立继电器输出特性快速计算模型；通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；按照拟合结果分散程度筛选出对输出特性影响大的前若干个设计参数；确定选定设计参数最长贮存期对应的退化量；以该退化量为中心值，通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；计算继电器的可靠度，并以可靠度大小为指标确定导致其贮存退化的内部关键因素。本发明可对继电器输出特性进行快速、准确计算。解决了在进行继电器贮存可靠性设计与优化时，难以准确界定导致其贮存退化关键因素的问题。

公开(公告)号：CN107885930A

公开(公告)日：2018-04-06

申请号：CN201711082103.7

申请日：2017-11-01

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 翟国富 ,  郑博恺 ,  吴岳 ,  武旸 ,  林义刚 ,  叶雪荣

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5018

Abstract: 本发明提供一种继电器弹性金属材料加速贮存退化失效机理变化判别方法，包括如下步骤：对触簧系统弹性金属材料进行贮存退化试验并加测应力松弛数据；建立继电器动态特性仿真模型；通过修改模型的方式将弹性金属材料的贮存退化注入到仿真模型中，实现继电器的贮存退化仿真；基于所获取的仿真贮存退化数据及贮存失效阈值，估计不同应力等级下的继电器贮存伪寿命；根据失效机理一致判别准则及继电器贮存伪寿命，判断不同加速应力等级下继电器的贮存退化失效机理是否发生改变。本发明所提方法能够准确找出导致继电器贮存失效机理改变的加速应力等级，可为确定继电器产品加速贮存试验中所能够加载的最大加速应力等级提供依据。

公开(公告)号：CN107831459A

公开(公告)日：2018-03-23

申请号：CN201711053047.4

申请日：2017-11-01

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 叶雪荣 ,  武旸 ,  王清敏 ,  林义刚 ,  邓杰 ,  翟国富

IPC: G01R33/12

CPC classification number: G01R33/12

Abstract: 一种继电器永磁材料加速贮存退化失效机理变化判别方法，属于继电器产品性能分析与试验方法研究技术领域。对继电器电磁系统中的永磁材料进行贮存退化试验并监测其退化数据；建立继电器动态特性仿真模型；修改模型中的永磁材料属性，实现永磁贮存退化注入并仿真对应的继电器输出特性退化情况；基于所获取的仿真贮存退化数据，计算对应于不同应力等级的继电器输出特性贮存退化速率；根据加速应力下的失效机理一致判别准则以及贮存退化速率计算结果，判断不同加速应力等级下继电器的贮存退化失效机理是否发生改变。本发明所提方法能够准确找出导致继电器贮存失效机理改变的加速应力等级，可为确定继电器加速贮存试验的最大加速应力等级提供依据。

公开(公告)号：CN107766655A

公开(公告)日：2018-03-06

申请号：CN201710994392.1

申请日：2017-10-23

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 梁慧敏 ,  廖晓宇 ,  刘德龙 ,  林义刚 ,  叶雪荣 ,  翟国富

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5009

Abstract: 本发明提供一种电磁继电器永磁贮存退化表征参数的确定方法，包括如下步骤：实现电磁继电器动态特性仿真；建立永磁的贮存退化模型；将试验的数据采集时刻代入永磁贮存退化模型中，得到所对应的永磁贮存退化状态；按照各时刻永磁贮存退化状态修改电磁系统仿真模型相应参数，实现永磁贮存退化的注入；分别对注入了永磁不同贮存退化程度的电磁继电器仿真模型进行动态特性仿真；对所述外特性仿真退化数据进行拟合，并分别构建各外特性的贮存退化模型；对所构建的外特性贮存退化模型进行趋势分析；确定所选定的输出特性是否为电磁继电器永磁贮存退化表征参数。本发明解决了电磁继电器在贮存过程中无法直接监测其永磁退化程度的问题。