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公开(公告)号：CN103713329A
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201210375312.1
申请日：2012-09-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G06T7/004 , A61B6/4085 , A61B6/466 , A61B6/469 , A61B6/5258 , G06T7/0012 , G06T7/55 , G06T7/70 , G06T11/006 , G06T2211/421 , G06T2211/436 , G16H40/63
Abstract: 提出了一种在CT成像中定位多个感兴趣物体的方法和设备。利用三幅近似垂直视角下的投影图像，实现感兴趣物体的三维空间定位。该方法对于扫描视野中存在多个感兴趣物的情况，仍然能够快速的确定CT图像中的感兴趣区物体的位置，并且无需对CT图像进行预重建，算法中也不涉及迭代步骤，方法快速、有效，能够很好地适用于工程应用。
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公开(公告)号：CN102456227A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201010529974.0
申请日：2010-10-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/006 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种CT图像重建方法及装置。本发明CT图像重建方法包括步骤：选取与扫描圆轨道近似曲率的曲线上的同高度的投影数据；对所选取的投影数据进行加权处理；对经过加权处理的投影数据沿水平方向进行滤波；对滤波后的投影数据沿射线方向进行三维反投影。本发明CT图像重建装置包括重排单元、加权单元、滤波单元和反投影单元。采用本发明的技术方案能够有效地消除大锥角下的锥束伪影。
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公开(公告)号：CN102376096A
公开(公告)日：2012-03-14
申请号：CN201010257010.5
申请日：2010-08-18
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: A61B6/03 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
Abstract: 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。
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公开(公告)号：CN102221565A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN201010149869.4
申请日：2010-04-19
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/083 , G01N23/20 , G03B42/02
CPC classification number: G01N23/046 , A61B6/4291 , A61B6/484 , G01N2223/419
Abstract: 一种X射线成像系统，包括：X射线源、源光栅、固定光栅模块和X射线探测器，依次位于X射线的传播方向上；被检测物体位于所述源光栅和固定光栅模块之间；所述源光栅可在垂直于光路方向和光栅条纹的方向上作步进移动；其中，该系统还包括计算机工作站，其控制所述X射线源、源光栅、X射线探测器从而实现下述过程：源光栅在其至少一个周期范围内进行步进运动；在每个步进步骤，X射线源向被测物体发射X射线，同时所述探测器接收X射线；其中，经过至少一个周期的步进和数据采集，探测器上每个像素点处的X射线的光强表示为一个光强曲线；将探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线相比较，由所述光强曲线的变化计算得出在每个像素点的像素值；根据所计算得出的像素值重建被检测物体的图像。
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公开(公告)号：CN101231254B
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200710062994.X
申请日：2007-01-24
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明提出了一种新型三维立体成像系统及成像方法，采用双X射线源和双探测器，两个X射线源分别沿两条成一定角度且错开布置的直线导轨运动，探测器阵列固定，而被检测物体则沿垂直于X射线源和探测器所在平面的直线运动。该成像系统和成像方法能够实现真正的三维立体成像，并且具有结构相对简单，待检测物体或者X射线源及探测器不需要旋转，检查速度较快，货物通过速度较高等特点；因此本发明具有应用于快速安全检查领域和大物体检查领域的潜力。和单源单直线扫描结构相比，本发明能够实现真正意义的三维图像检查，图像质量明显好于单源单直线扫描系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101683271A
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200810223267.1
申请日：2008-09-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 本发明公开了一种X射线CT设备、一种用于X射线CT成像的图像重建方法和使用该图像重建方法的X射线CT成像方法。所述设备包括：支撑装置；可旋转地支撑在支撑装置上的旋转装置；X射线发生装置，设置在旋转装置上，用于向被检测对象辐射X射线；探测装置，其固定在旋转装置上并且与X射线发生装置相对，用于探测透射通过被检测对象的X射线作为投影数据；与旋转装置连接的驱动装置，用于驱动旋转装置使其连续往复地做小于或等于360度的旋转；控制装置，用于控制X射线CT扫描过程，以及与探测装置之间通过线缆通信的数据处理装置，用于接收和处理通过线缆从探测装置传输来的投影数据，以重建被检测对象的三维立体图像。通过本发明，能够缩短被检测对象的成像时间，并且提高成像精度。
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公开(公告)号：CN118938044A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411255039.8
申请日：2024-09-06
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01R31/385 , G01R31/378 , G01R31/01 , G01R1/02 , B07C5/344 , B07C5/02
Abstract: 本发明的实施例提供一种电芯检测装置及其检测方法、电芯检测系统及其检测方法，电芯检测装置包括：检测装置设于检测工位；输送装置用于将电芯由第一放置位输送至第二放置位，第一放置位和第二放置位位于检测装置相对的两侧；第一移送装置设于检测装置的第一侧，用于将抓取的电芯移送至检测工位，以及将检测后的电芯放置于第一放置位；第二移送装置设于检测装置的第二侧，用于抓取第二放置位的电芯，以及将抓取的电芯移送至检测工位，第一移送装置被配置为将电芯的待检测部移动至第一预设位置，第二移送装置被配置为将电芯的待检测部移动至第二预设位置；检测装置被配置为对第一移送装置抓取的电芯和/或第二移送装置抓取的电芯进行检测。
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公开(公告)号：CN118770713A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202411252570.X
申请日：2024-09-06
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明的实施例提供一种托盘、转运装置及检测设备，托盘包括托板、压板组件和磁吸组件，托板用于承载电芯；压板组件包括连接座和压板，连接座连接于托板，压板可转动地连接于连接座，压板可操作地在第一位置状态和第二位置状态之间切换；磁吸组件设置于连接座，用于使压板保持在第一位置状态或第二位置状态；压板包括第一接触部和第二接触部，压板处于第一位置状态，第一接触部与电芯相抵触，以将电芯压紧于托板；压板处于第二位置状态，第二接触部与连接座相抵触，以释放电芯。本发明的托盘，通过磁吸组件和压板之间的磁吸力，使得压板能够稳定保持在第一位置状态或第二位置状态，能够方便、快捷地实现对电芯的压紧或松开。
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公开(公告)号：CN109471185B
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN201811542627.4
申请日：2018-12-17
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/226 , G01N23/046
Abstract: 本发明公开了一种CT系统和用于CT系统的探测装置。该装置包括：高能探测器组件，高能探测器组件包括沿预定轨迹排布的多排高能探测器；低能探测器组件，与高能探测器组件层叠设置，低能探测器组件包括沿预定轨迹间隔排布的多排低能探测器；其中，低能探测器的排数小于高能探测器的排数；每排低能探测器均覆盖一排高能探测器。根据本发明实施例提供的CT系统和用于CT系统的探测装置，提高了对材料的分辨能力。
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公开(公告)号：CN118549993A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410708059.X
申请日：2024-06-03
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明的实施例提供一种检测设备，包括输送机构、检测机构和安装架；输送机构包括主动滚筒、改向滚筒、从动滚筒和输送带，输送带套设于主动滚筒、改向滚筒和从动滚筒，输送带包括相互平行的承载层和待承载层，承载层用于承载并输送被检物体；检测机构包括辐射源、探测器部件和通道部件，通道部件构造有第一通道和第二通道，承载层和辐射源均位于第一通道，探测器部件位于第二通道；输送机构和检测机构均安装于安装架。本发明的检测设备，从动滚筒位于输送带的内侧，探测器部件靠近承载层设置，从动滚筒位于输送带的外侧，探测器部件靠近待承载层设置，通过这样的设置方式减小了探测器与被检物体之间的竖向间距，进而有利于提升扫描图像的质量。
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