公开(公告)号：CN118447067A

公开(公告)日：2024-08-06

申请号：CN202410584982.7

申请日：2024-05-11

Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  清华大学

Inventor： 易茜 ,  刘必成 ,  党永乐 ,  宗春光 ,  李元景 ,  张丽

IPC: G06T7/50 ,  G06T7/13 ,  G06T3/4038 ,  G06T7/11

Abstract: 本公开提出了一种图像处理方法、装置和透射扫描系统，涉及辐射成像技术领域。其中，图像处理方法包括：对透射图像进行抽样处理，以得到待处理图像，所述透射图像为利用多列探测器，对物体进行透射扫描时的透射强度进行检测得到；从所述待处理图像中确定待识别区域；利用候选深度，对所述待识别区域进行重建处理，以得到所述待识别区域的重建结果；确定所述重建结果的边缘清晰度；在所述边缘清晰度大于清晰度阈值的情况下，将所述候选深度作为所述待识别区域的深度。通过以上方法，能够在无需对探测器结构做调整的情况下，得到物体的深度信息，有助于提高物体检查的效率和识别效果。

公开(公告)号：CN118362587A

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202410353825.5

申请日：2024-03-26

Applicant: 同方威视技术股份有限公司

Inventor： 宗春光 ,  刘必成 ,  宋全伟 ,  王伟珍 ,  王东宇 ,  王锋

IPC: G01N23/04 ,  G21K1/02 ,  G05D3/12 ,  G01C21/00

Abstract: 本公开提出了一种校准控制方法、装置和系统，涉及安检技术领域。其中，校准控制方法由校准控制装置执行，包括：在辐射检查系统中的射线源与准直器对准的情况下，控制所述射线源与所述辐射检查系统中的探测器相对运动；记录所述探测器在所述相对运动中多个位姿下检测到的射线强度数据；根据所述探测器在所述相对运动中多个位姿下检测到的射线强度数据，确定使所述射线源与所述探测器对准的位姿调节参数，并根据所述位姿调节参数控制所述射线源与所述探测器对准。通过以上方法，能够在改善射线源、准直器和探测器的对准效果的同时，提高校准效率，节省人力物力。

公开(公告)号：CN117555034A

公开(公告)日：2024-02-13

申请号：CN202311829691.1

申请日：2023-12-28

Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司 ,  同方威视科技(北京)有限公司

Inventor： 李元景 ,  张丽 ,  宗春光 ,  刘必成 ,  刘磊 ,  马媛 ,  迟豪杰 ,  喻卫丰 ,  宋涛 ,  季峥 ,  谭惠文

IPC: G01V5/22

Abstract: 本发明涉及一种检测系统，包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器，第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线，第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧，第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线，第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧，第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线，第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧，第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线，第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧，第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。

公开(公告)号：CN117346707A

公开(公告)日：2024-01-05

申请号：CN202210750832.X

申请日：2022-06-28

Applicant: 同方威视科技江苏有限公司 ,  同方威视技术股份有限公司

Inventor： 孙尚民 ,  宗春光 ,  刘必成 ,  曾磊 ,  李伟 ,  郭亮 ,  苏凯 ,  陆银

IPC: G01B15/00

Abstract: 本公开提供一种货物检测方法、装置与电子设备。方法包括：通过图像获取装置获取待测货物的扫描图像；确定所述扫描图像中的目标参照物；根据所述目标参照物的像素信息与所述目标参照物的实际尺寸确定所述扫描图像的第一方向距离参数和第二方向距离参数范围，第二方向与第一方向垂直；根据所述扫描图像的第一方向距离参数和第二方向距离参数范围以及所述扫描图像中所述待测货物的像素信息，确定所述待测货物的第一方向尺寸和第二方向尺寸范围；根据所述第一方向尺寸和所述第二方向尺寸范围与所述待测货物的申报信息确定所述待测货物是否通过检测。本公开可以通过扫描图像准确测得货物的实际外形尺寸，根据货物的实际外形尺寸对货物进行核查。

公开(公告)号：CN117291965A

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202311572096.4

申请日：2023-11-23

Applicant: 清华大学 ,  同方威视技术股份有限公司

Inventor： 李元景 ,  张丽 ,  张健 ,  易茜 ,  刘必成 ,  王东宇 ,  倪秀琳 ,  李亮 ,  孙尚民 ,  宗春光

IPC: G06T7/50

Abstract: 本公开提供一种CT图像重建方法、装置和系统、存储介质。CT图像重建方法包括：获取目标物上的N个目标点在指定时刻的坐标值，N为大于1的自然数，其中目标物为在CT扫描设备中进行CT扫描的物体；利用N个目标点在指定时刻的坐标值和CT扫描设备的旋转中心坐标值，确定目标物的偏转角度；利用偏转角度和旋转中心坐标值，对位于目标物的当前扫描区域中的每个点的坐标值进行校正，以得到每个点的校正坐标值；利用每个点的校正坐标值和在指定时刻获取的投影数据，得到重建的CT图像。

公开(公告)号：CN117191833A

公开(公告)日：2023-12-08

申请号：CN202311047705.4

申请日：2023-08-18

Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  同方威视科技(北京)有限公司

Inventor： 季峥 ,  刘磊 ,  宋全伟 ,  喻卫丰 ,  史俊平 ,  迟豪杰 ,  刘必成 ,  宗春光

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/20016 ,  G01N23/20008

Abstract: 提供了一种对象扫描装置，涉及射线扫描领域。该对象扫描装置包括：对象识别模块，被配置为在扫描前预先识别被检对象的尺寸信息；控制模块，被配置为根据所述尺寸信息确定移动设备的移动行程；所述移动设备，与所述背散射成像设备连接，被配置为在所述移动行程内带动所述背散射成像设备沿预定方向移动；所述背散射成像设备，被配置为在沿所述预定方向移动过程中，扫描所述被检对象的底部，以获得背散射图像。能够兼容多种类别或尺寸的被检对象，均可进行底部扫描，可以根据背散射图像实现安全检查、物体识别、材料分析和无损检测等目的，具有较广的使用范围。

公开(公告)号：CN116413822A

公开(公告)日：2023-07-11

申请号：CN202111668982.8

申请日：2021-12-30

Applicant: 同方威视技术股份有限公司

Inventor： 宗春光 ,  于昊 ,  宋全伟 ,  刘必成 ,  印炜 ,  王伟珍 ,  孙尚民 ,  胡煜

IPC: G01V5/00 ,  G01N23/046

Abstract: 本发明涉及一种扫描检查装置，包括第一旋转架(1)、第一驱动装置、射线源(2)、探测器(3)、用于冷却射线源(2)的冷却装置和第二驱动装置，第一旋转架(1)的中心设有用于供被检物(6)通过的输送通道，第一驱动装置与第一旋转架(1)驱动连接以驱动第一旋转架(1)转动，射线源(2)、探测器(3)、用于冷却射线源(2)的冷却装置均安装在第一旋转架(1)上并随第一旋转架(1)转动，第二驱动装置被配置为驱动冷却装置朝着与第一旋转架(1)的旋转方向相反的方向转动，以使冷却装置在随第一旋转架(1)转动的过程中保持固定的姿态。本发明能够实现对射线源的冷却，同时使冷却装置在旋转过程中能够保持固定的姿态，防止冷却装置倾斜或倒置。

公开(公告)号：CN116184516A

公开(公告)日：2023-05-30

申请号：CN202211724738.3

申请日：2022-12-30

Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  同方威视科技(北京)有限公司

Inventor： 刘明 ,  张琦 ,  高克金 ,  孟辉 ,  樊旭平 ,  宋涛 ,  宋全伟 ,  史俊平 ,  宗春光 ,  刘必成 ,  马媛 ,  迟豪杰 ,  喻卫丰 ,  刘磊

IPC: G01V5/00 ,  G01C9/00 ,  F16M11/04 ,  F16M11/06

Abstract: 本申请涉及检查系统及其安装方法。检查系统包括：第一成像系统，包括：第一舱体以及平台组件，平台组件为一体式n型平台，该一体式n型平台具有平台结构和位于平台结构两侧的第一竖臂结构和第二竖臂结构，第一舱体附接于平台结构上，第一探测器组件被设置在平台组件中；以及第二成像系统，包括：第二舱体、上臂架和竖臂架，上臂架为一体式n型臂架，上臂架的第三竖臂结构与第二舱体附接，上臂架的第四竖臂结构与竖臂架的上端附接，第二舱体的侧部、竖臂架和上臂架中的至少一者包括第二探测器组件，其中平台组件的第一竖臂结构附接到第二舱体。

公开(公告)号：CN115855990B

公开(公告)日：2023-04-28

申请号：CN202310112882.X

申请日：2023-02-15

Applicant: 同方威视技术股份有限公司

Inventor： 迟豪杰 ,  宗春光 ,  刘必成 ,  郭俊伟 ,  曹金国 ,  刘磊 ,  季峥 ,  王伟珍

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/203

Abstract: 本发明提供了一种用于检测m层结构被检物的背散射检查装置，应用于探测技术领域，m层结构被检物至少包括外层结构体和内层结构体，m为大于等于2的整数，背散射检查装置包括射线发生器、n个探测器和屏蔽组件，射线发生器设于外层结构体的上方，被构造为向m层结构被检物发射入射射线；n个探测器设于外层结构体的上方，且位于入射射线的周向方向上，以接收入射射线射在内层结构体上散射的内层散射射线，n为大于等于1的整数；屏蔽组件被构造为至少部分包围探测器，以遮挡部分入射射线射至探测器，和遮挡入射射线射在外层结构体上散射的外层散射射线射至探测器。背散射检查装置具有防干扰能力强，可以实现精准检查的优点。

公开(公告)号：CN106249270B

公开(公告)日：2023-04-25

申请号：CN201610798761.5

申请日：2016-08-31

Applicant: 同方威视技术股份有限公司

Inventor： 张岚 ,  杜迎帅 ,  李波 ,  吴宗桂 ,  李军 ,  曹雪朋 ,  胡海帆 ,  顾建平 ,  徐光明 ,  刘必成

IPC: G01T1/00

Abstract: 公开了一种半导体探测器。根据实施例，该半导体探测器可以包括：半导体探测材料，包括彼此相对的第一侧面和第二侧面；设置于第一侧面上的阴极；以及设置于第二侧面上的阳极，其中，阳极包括限定半导体探测器的探测像素的像素阳极阵列以及设置于相邻的像素阳极之间的中间阳极。根据本公开的实施例，可以实现信号修正，提高探测器的能量分辨率和信噪比。