一种基于二倍角相位编码的解包裹方法

    公开(公告)号:CN115830154B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202310150142.5

    申请日:2023-02-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于二倍角相位编码的解包裹方法,将灰度条纹数量缩减并获取阶梯码字,包括以下步骤:步骤一:确定阶梯码字数,得到理想阶梯相位,步骤二:将理想阶梯相位嵌入二倍角的余弦相移条纹,形成量化的余弦条纹,通过投影仪投射至被测物体表面,步骤三:采集被物体高度调制的变形图像,进行解相位操作,获取包裹相位和变形的阶梯相位,步骤四:对变形的阶梯相位进行归一化、量化、取整等操作,获取阶梯码字,步骤五:重建被测物体表面形貌信息,投影仪对灰度条纹的投影帧率远远低于对二值条纹的投影帧率,减少了三维测量系统中灰度图像的投影,提高了投影效率,通过一幅灰度相移图像、两幅黑白图像便可以获取8个以上阶梯码字。

    一种基于二值条纹的快速测量方法

    公开(公告)号:CN115950378A

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202310227688.6

    申请日:2023-03-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于二值条纹的快速测量方法,首先根据条纹级次分布特点,利用二值投影条纹和掩膜将整个图像分割成两个条纹掩膜,再通过连通域对白色像素点进行阶梯式标记,以此获得条纹左右级次;然后,将左级次和右级次逐像素相加,合并为完整的条纹级次;其次,利用二分之一周期的二值条纹,获得与条纹级次半周期错位的互补级次;最后,根据条纹级次和互补级次实现解相;本发明的方法能够达到消除边沿跳变误差的效果,且投影图像数少,能够在实现高精度测量的同时提升测量速度。

    一种基于相位值化的叠加编码相位展开方法

    公开(公告)号:CN115790451A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211474123.X

    申请日:2022-11-22

    Abstract: 本发明公开了光学测量技术领域的一种基于相位值化的叠加编码相位展开方法,包括以下步骤:确认图像中每个周期的像素宽度W1,生成N步相移条纹;设计辅助相位展开的叠加编码条纹,将其每个周期统一赋值,生成黑白条纹图像;采集调制后的投影条纹传入计算机;提取包裹相位,提取级次条纹k1;通过级次k1叠加二值条纹确定另一组条纹级次k2;对包裹相位进行相位解包裹操作,获取被测物体的绝对相位。本发明方法在获取级次的过程中,编码条纹通过数字叠加运算即可获取阶梯级次,算法简单,不需进制运算、映射数组或相位计算等繁琐计算,且利用包裹相位二值化的方法辅助修正跳变误差,提高包裹相位利用率,减少额外编码的投影。

    一种用于结构光投影的二进制编码条纹设计方法

    公开(公告)号:CN114941999A

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202210862093.3

    申请日:2022-07-22

    Abstract: 本发明涉及结构光三维测量技术领域,具体是一种用于结构光投影的二进制编码条纹设计方法,利用多幅二值条纹代替灰度正弦条纹,以减小系统的非线性误差;首先,根据所需投影一幅正弦条纹的像素宽度和周期数,确定出每个周期内包含的像素个数;然后,在一个正弦周期区间内进行采样,采样个数与每个值占多少像素有关,以获得像素的十进制灰度值,通过进制转换的方式可以得到对应的“0”“1”编码;最后,将所有“0”“1”编码中的同一位次的码字组合成二值条纹,以此扩展到所有的周期,得到多幅二值条纹;通过投影二值条纹获取被测物体的调制信息,多幅二进制条纹可以叠加出带有调制信息的正弦条纹图像,从而避免了直接投影灰度条纹。

Patent Agency Ranking