一种用于制备高结合强度低孔隙率涂层的碳化钨热喷涂粉末

    公开(公告)号:CN107794483B

    公开(公告)日:2020-07-24

    申请号:CN201711123412.4

    申请日:2017-11-14

    Abstract: 本发明公开了一种用于制备高结合强度低孔隙率涂层的碳化钨热喷涂粉末及其制备方法,该粉末由以下组分组成:碳化钨基金属陶瓷粉末和占该碳化钨基金属陶瓷粉末总重量0.3~2%的金属单质粉末;其中,金属单质粉末附着在所述碳化钨基金属陶瓷粉末的表面。该热喷涂粉末喷涂过程中金属单质粉末在高温焰流的环境下与喷涂气氛中的氧发生放热反应,反应放出的热量提高了粉末颗粒的表面温度,提高粉末在不同工艺条件下的熔融程度,喷涂粉末的扁平化效果更好,从而提高了扁平化颗粒之间的结合强度,降低涂层的孔隙率,很好的解决了现有热喷涂粉末喷涂过程中涂层结合强度低、孔隙率高的问题。

    一种球形喷涂钼粉的制备方法

    公开(公告)号:CN105397094A

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201510979892.9

    申请日:2015-12-23

    CPC classification number: B22F9/026 B22F1/0081 B22F2201/013

    Abstract: 本发明公开了一种球形喷涂钼粉的制备方法,将钼粉、仲钼酸铵、聚乙烯醇和聚乙二醇按一定的比例加入蒸馏水中,并在搅拌机中进行搅拌,使其均匀,形成悬浮液状态;将混合均匀的料浆在一定的参数下,采用离心式喷雾干燥机进行喷雾干燥,获得球形度良好的钼粉;将喷雾干燥后的球形钼粉在氢气氛围下置于脱脂烧结一体炉中进行烧结;通过筛网,将烧结处理后的钼粉筛出所需要的钼粉粒度段,获得球形喷涂钼粉。上述方法能够制备出球形度好、松装密度高、流动性好、耐磨性能好以及寿命长的球形喷涂钼粉,且工艺简单、能耗低。

    一种光谱分析方法
    23.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101788507B

    公开(公告)日:2012-10-03

    申请号:CN201010106805.6

    申请日:2010-02-03

    Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法,分析标样光谱,确定谱峰波长和峰位之间的关系,以及谱峰波长和谱峰宽度之间的关系; 利用确定的所述关系,计算待测样品拟包含的元素的激发光谱中可能存在的所有谱峰的峰位以及谱峰宽度;在待测样品全谱范围内进行寻峰,将寻峰得到的峰位与所述计算的峰位进行比较,以及将寻峰得到的谱峰宽度与所述计算的谱峰宽度比较,确定是否存在完全重叠峰并确定重叠区域宽度;在各重叠区域内进行谱峰分解,计算高斯函数及本底函数的数学表达式;利用得到的高斯函数和本底函数进行光谱分析。本发明实施例达到谱峰分解的目的,为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。

    一种光谱分析方法
    24.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101819168B

    公开(公告)日:2012-06-13

    申请号:CN201010033922.4

    申请日:2010-01-06

    Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法,利用寻峰算法锁定谱峰的峰位,作为高斯函数的均值初始值;以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值;在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差,根据误差最小值对应的谱峰宽度计算高斯函数的方差初始值;在均值、系数及方差取值范围内,计算均值、系数及方差在每种取值下的拟合谱峰面积与原始谱峰面积的误差,所有误差中计算最小的误差所对应的均值、系数及方差作为高斯函数的最终特征参数;使用所述最终特征参数对应的高斯函数进行光谱分析。本发明实施例提高了光谱峰的重现性,为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。

    提高分光器性能的方法及分光器、X射线测量分析设备

    公开(公告)号:CN101806757A

    公开(公告)日:2010-08-18

    申请号:CN201010126507.3

    申请日:2010-03-16

    Abstract: 本发明提供一种提高分光器性能的方法及分光器、X射线测量分析设备,属光学测量技术领域。该方法适用的分光器包括:壳体、入射狭缝组件、分光晶体和出射狭缝组件;其中,所述入射狭缝组件和出射狭缝组件均设置在壳体上,所述分光晶体设置在壳体内作为入射狭缝组件与出射狭缝组件之间的反射体;该方法包括:在分光器壳体内设置射线挡块,使所述射线挡块设置在壳体内分光晶体周围,通过射线挡块吸收或阻挡从入射狭缝组件进入的能照射到壳体内壁上的部分X射线,及吸收或阻挡通过分光晶体反射后能照射到壳体内壁上的部分X射线。采用该方法后,可以对射线在分光器内的传播路径进行校正,避免漫反射的X射线的影响,显著提高分光器的性能。

    一种基于重量法的矿浆浓度计

    公开(公告)号:CN101799390A

    公开(公告)日:2010-08-11

    申请号:CN201010149728.2

    申请日:2010-04-19

    Abstract: 本发明涉及一种基于重量法的矿浆浓度计,包括执行机构、传感器和测量筒,所述的测量筒安装在传感器的底部,传感器安装在执行机构的输出端,执行机构驱动传感器和测量筒上升或下降。本发明所述的矿浆浓度计结构简单,可简单方便地实现矿物加工工艺过程中的矿浆浓度测量,尤其适用于开口容器内的矿浆浓度测量。与现有的矿浆浓度计相比,本发明所述的基于重量法的矿浆浓度计可以对矿浆浓度进行间歇测量,减少与矿浆的接触时间,突破了测量装置必须长期处于矿浆中的传统设计,解决了结钙和堵塞的问题,可以稳定、可靠地获得生产过程中矿浆浓度信息,对指导生产有重要意义。

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