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公开(公告)号:CN101819168A
公开(公告)日:2010-09-01
申请号:CN201010033922.4
申请日:2010-01-06
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/223 , G06F17/00
Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法,利用寻峰算法锁定谱峰的峰位,作为高斯函数的均值初始值;以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值;在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差,根据误差最小值对应的谱峰宽度计算高斯函数的方差初始值;在均值、系数及方差取值范围内,计算均值、系数及方差在每种取值下的拟合谱峰面积与原始谱峰面积的误差,所有误差中计算最小的误差所对应的均值、系数及方差作为高斯函数的最终特征参数;使用所述最终特征参数对应的高斯函数进行光谱分析。本发明实施例提高了光谱峰的重现性,为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。
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公开(公告)号:CN101819168B
公开(公告)日:2012-06-13
申请号:CN201010033922.4
申请日:2010-01-06
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明实施例涉及元素光谱分析领域一种光谱分析方法,利用寻峰算法锁定谱峰的峰位,作为高斯函数的均值初始值;以所述谱峰的峰位对应的峰值作为高斯函数的系数初始值;在全能谱范围内计算所有谱峰宽度下的拟合谱峰面积和原始谱峰面积的误差,根据误差最小值对应的谱峰宽度计算高斯函数的方差初始值;在均值、系数及方差取值范围内,计算均值、系数及方差在每种取值下的拟合谱峰面积与原始谱峰面积的误差,所有误差中计算最小的误差所对应的均值、系数及方差作为高斯函数的最终特征参数;使用所述最终特征参数对应的高斯函数进行光谱分析。本发明实施例提高了光谱峰的重现性,为后续的元素定性、定量分析提供更加准确、翔实的数据。
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公开(公告)号:CN101813646A
公开(公告)日:2010-08-25
申请号:CN201019114089.3
申请日:2010-02-26
Applicant: 北京矿冶研究总院
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明公开了一种X射线荧光定量检测时仪器漂移的校正方法及装置,在X光管与测量样品盒之间,设置一个受仪器控制的参比机构;按待测金属元素压制成的参比样品安装在该机构上;使用X荧光分析仪测量参比样品,得到参比样的脉冲计数率作为原始目标强度值。X荧光分析仪在线运行测量时,每次测量矿浆样本之前都要测量一次参比样的计数率,并将此计数率与参比样原始目标强度的比值作为标准化系数,利用计算的标准化系数对每次测量的矿浆样本的脉冲计数率加以修正,得到在线矿浆测量的标准脉冲计数率。能够实时补偿仪器因长期或短期带来的性能指标上的漂移,提高仪器的稳定性能和测量精度指标。
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