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公开(公告)号：CN108710035B
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN201810167800.0
申请日：2018-02-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种改善混响室均匀性的方法和装置，解决现有方法改善因素单一、改善效果差的问题。所述方法，包括以下步骤：通过双因素方差分析法，对影响所述混响室场均匀特性的两个因素，搅拌叶片长宽比、搅拌叶片夹角进行建模分析，确定影响大的因素为第一因素、影响小的因素为第二因素；对所述第一因素进行优化，得到第一因素优化值；在所述第一因素优化值基础上，对所述第二因素进行优化，得到第二因素优化值；确定所述第一、第二因素优化值的组合为所述混响室的最优设计值。本发明可以推广到其它尺寸的混响室设计中，为混响室搅拌器的优化设计提供依据，从而实现改善混响室场均匀性的目的。
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公开(公告)号：CN109374990A
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201811464521.7
申请日：2018-12-03
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/10
CPC classification number: G01R29/10
Abstract: 本申请公开了一种天线相位中心校准方法，解决了天线相位中心校准的问题，所述方法包含以下步骤：增加所述接收天线俯仰自由度，使接收天线可在-90°～+90°的俯仰角度内转动；使所述接收天线在水平面内沿顺时针方向从-90°旋转到+90°，在垂直面内沿俯仰方向从-90°旋转到+90°；记录所述接收天线在水平方向和垂直方向上旋转角度与该角度下的幅度和相位信息；各角度下的幅度均对0°下的幅度进行归一化处理，记录归一化后水平方向和垂直方向上半功率波束宽度；计算得到接收天线相位中心的坐标。本申请的方法能够快速、准确的进行天线相位中心校准，可满足天线的计量保障需求。
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公开(公告)号：CN106443207B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201610964124.0
申请日：2016-10-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请公开了一种同心锥形横电磁波室的终端负载，解决测试区电磁场不均匀的问题。本申请实施例提供一种终端负载，用于同心锥形横电磁波室，所述同心锥形横电磁波室的传输段包含内导体和外导体，所述终端负载的形状为锥台，所述锥台的上底半径与所述传输段的内导体末端半径相同，下底半径与所述传输段的外导体末端半径相同，锥台角度为布儒斯特角；所述终端负载包含基底和涂层；所述基底为泡沫材料，所述涂层为吸波材料。本发明实施例还提供一种同心锥形横电磁波室，包含本发明任意一项实施例所述终端负载，所述涂层和所述内导体、外导体紧密接触。本发明在宽频范围内有效地减少场辐射反射，从而确保腔体的场均匀性。
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公开(公告)号：CN108710035A
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201810167800.0
申请日：2018-02-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种改善混响室均匀性的方法和装置，解决现有方法改善因素单一、改善效果差的问题。所述方法，包括以下步骤：通过双因素方差分析法，对影响所述混响室场均匀特性的两个因素，搅拌叶片长宽比、搅拌叶片夹角进行建模分析，确定影响大的因素为第一因素、影响小的因素为第二因素；对所述第一因素进行优化，得到第一因素优化值；在所述第一因素优化值基础上，对所述第二因素进行优化，得到第二因素优化值；确定所述第一、第二因素优化值的组合为所述混响室的最优设计值。本发明可以推广到其它尺寸的混响室设计中，为混响室搅拌器的优化设计提供依据，从而实现改善混响室场均匀性的目的。
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公开(公告)号：CN105485496A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201510958846.0
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开一种探头支撑装置，该装置应用于同心锥形TEM室内，所述装置包括：底座(1)、横杆(2)、连接件(3)、连接件锁紧螺钉(4)。该装置通过与安置在同心锥形TEM室外锥体内表面的屏蔽门进行配合，从而达到了在腔室内部放置探头的目的。此外，由于可以在横杆(2)的轴向进行位移、沟槽内进行转动，以及在连接杆上进行位移，也就在腔体内具备了一定的自由度，对测试区的变化有了一定的适应能力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103605102A
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201310618504.5
申请日：2013-11-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法，包括如下步骤：测量得到参考天线的天线系数；测量得到电磁波信号的功率的第一标准值；测量得到电磁波信号的功率的第一测量值；计算第一标准值与第一测量值的差值得到参考天线与传递天线之间的插入损耗；测量得到电磁波信号的功率的第二标准值；测量得到电磁波信号的功率的第二测量值；计算第二标准值与第二测量值的差值得到待校准天线与传递天线之间的插入损耗；由参考天线的天线系数、参考天线与传递天线之间的插入损耗、以及待校准天线与传递天线之间的插入损耗计算得到待校准天线的天线系数。所述现场校准方法适用于30MHz-1GHz频段的辐射发射测量天线的校准。
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公开(公告)号：CN119827847A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411966073.6
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种针对芯片引脚传导发射电压的测试装置及方法，包括设置有供电电源的测试电路板、测试探头、和接收机，测试探头包含测试探针和阻抗匹配网络，测试探针直接接触待测芯片的待测引脚，阻抗匹配网络的输入端连接测试探针，输出端连接接收机，待测芯片放置于测试电路板上，供电电源给待测芯片供电形成噪声源，接收机在预设频率范围内扫频得到芯片发射电压测试数据。利用芯片级测试探头测量芯片引脚处的对外发射电压幅值，为芯片的集成电路设计阶段，对无用信号的传导发射输出抑制能力和电路间的电磁兼容性提供评估方法和测量手段，也可作为芯片电磁兼容性筛选的依据。
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公开(公告)号：CN118209789A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202311871439.7
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明属于微波电场强度测量领域，具体涉及了一种用于里德堡原子场强测量的场强衔接方法、系统及设备，旨在解决现有技术中对于微波场强，无法做到有效溯源，以及超外差方案场强测量的不确定度较高的问题。本发明包括：调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号，结合微波频率绘制净功率和场强之间的关系图，作为第一关系图，计算第一关系图的斜率k1；调整里德堡原子系统的参数得到EIT信号，结合加入的耦合光绘制净功率和差频谱峰高度之间的关系图，作为第二关系图，计算第二关系图的斜率k2；基于斜率k1和斜率k2计算得到线性比率K。本发明可以降低里德堡原子场强测量的不确定度，且原理清晰、易于实现与应用。
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公开(公告)号：CN118190178A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202311372146.4
申请日：2023-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01J9/02
Abstract: 本申请公开了一种光频标尺频率间隔测量方法，包括以下步骤：生成射频线性频移扫描信号，用所述射频线性频移扫描信号对激光进行频率调制，生成扫频激光；所述扫频激光接入待测的光频标尺模块，获取干涉条纹；根据干涉条纹相邻峰值的时间间距和所述扫频激光在所述时间间距内的频移量，标定所述干涉条纹相邻峰值间距所表示的频移。本申请还包含用于实现所述方法的装置。本申请的技术方案解决现有技术的扫频测量设备价格高、测量精度低的问题，尤其涉及激光频率变化测量装置的频率准确性考核的应用。
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公开(公告)号：CN118133597A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311855190.0
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种芯片校准夹具的阻抗特性仿真分析方法及装置，所述方法包括：通过电磁场仿真的方式，建立测试探头和校准夹具的仿真模型；对所述仿真模型进行有限元分析计算，确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素，并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正，确定探头的校准信息。本发明通过电磁场仿真的方式，建立测试探头和校准夹具的仿真模型并开展有限元分析计算，确定测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素，可并根据测试过程中影响校准夹具阻抗特性的各类因素对芯片校准夹具阻抗特性的影响进行修正，确定探头的校准信息。
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