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公开(公告)号：CN113091773B
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN202110254601.5
申请日：2021-03-09
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供一种惠斯通电桥式传感器的零位温度漂移估算方法，该方法建立了描述惠斯通电桥式传感器零位温度漂移的准线性模型。利用这一准线性模型，能够推导惠斯通电桥式传感器零位的理论温度依赖关系，估算惠斯通电桥式传感器在任意温度下的零位温度漂移量。为惠斯通电桥式传感器的校准提供数据支持，提高惠斯通电桥式传感器的校准精度。上述准线性模型为解释惠斯通电桥式传感器的零位温度漂移的原因提供了一个清晰的物理图像，有助于理解惠斯通电桥式传感器产生温度漂移的原因。并且该准线性模型适用于惠斯通电桥式磁阻传感器、采用惠斯通电桥结构的称重元件、温度传感器、电场传感器等其它惠斯通电桥结构传感器。
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公开(公告)号：CN113091773A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202110254601.5
申请日：2021-03-09
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供一种惠斯通电桥式传感器的零位温度漂移估算方法，该方法建立了描述惠斯通电桥式传感器零位温度漂移的准线性模型。利用这一准线性模型，能够推导惠斯通电桥式传感器零位的理论温度依赖关系，估算惠斯通电桥式传感器在任意温度下的零位温度漂移量。为惠斯通电桥式传感器的校准提供数据支持，提高惠斯通电桥式传感器的校准精度。上述准线性模型为解释惠斯通电桥式传感器的零位温度漂移的原因提供了一个清晰的物理图像，有助于理解惠斯通电桥式传感器产生温度漂移的原因。并且该准线性模型适用于惠斯通电桥式磁阻传感器、采用惠斯通电桥结构的称重元件、温度传感器、电场传感器等其它惠斯通电桥结构传感器。
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公开(公告)号：CN109799467B
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN201910096719.2
申请日：2019-01-31
Applicant: 北京大学
IPC: G01R33/02
Abstract: 本发明提供一种无需伸杆的空间磁场测量装置、测量系统及测量方法，测量装置包括磁强计，磁强计包括分布在不同的平面上呈立体分布的多个磁场探测器单体，用于测量待测空间内的磁场；以及与磁强计电连接的数据处理单元，其接收和处理磁强计测量的空间磁场的数据；磁强计直接固定连接至其支撑部件上，测量待测空间内的磁场。本发明采用无伸杆的磁强计，有利于三轴稳定型卫星，不会影响卫星的转动惯量，也就不会影响卫星姿态。在无需伸杆磁场测量系统中，磁强计的多个磁场探测器单体设置在不同的平面内，形成立体分布样式，使得能够根据球谐展开原理，将测量的磁场分为外源场和内源场两部分，获得更加精确的待测磁场分布。
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公开(公告)号：CN112649886A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN202011502517.2
申请日：2020-12-18
Applicant: 北京大学
IPC: G01V5/00
Abstract: 本发明提供一种中性原子二维成像装置及成像方法，该成像装置包括具有成像平面的卫星平台及成像模块单元，成像模块单元沿不同的方向布置在成像平面内，例如沿成像平面的中心呈放射状分布。成像模块单元包括至少一个半导体探测器线阵列，及至少一个设置在至少一个半导体探测器线阵列前方的调制栅格。在成像平面内，成像模块单元的调制栅格一侧沿成像平面的法线方向朝向待测空间。每一个成像模块单元对应一个方向，每一个成像模块单元覆盖45°×10°的视场范围，多个成像模块单元实现45°×45°视场内的二维成像。卫星平台可以是三轴稳定或自旋稳定的卫星平台，不同的卫星平台内设置不同的成像模块单元的分布，通过不同的方式实现中性原子的二维成像。
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公开(公告)号：CN108490475B
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201810239613.9
申请日：2018-03-22
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供一种星上数据采集处理方法、系统以及空间粒子探测器，系统包括：电荷脉冲信号处理模块、脉冲幅度分析模块、控制模块和存储器；控制模块用于在空间粒子探测器的开门时间内，控制所述电荷脉冲信号处理模块、所述脉冲幅度分析模块和所述存储器，进行一个或多个所述粒子传感器形成的粒子事件所对应的事件数据帧的累计存储；在关门时间内，依据所述数据处理单元的指令对存储在所述存储器中事件数据帧进行统计，并将统计后的事件数据帧记录为计数值回传所述数据处理单元；所述存储器用于存储事件数据帧。本发明提高了空间粒子探测器星上数据采集处理的灵活性，减少了仪器的“死时间”。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109870664A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201910241469.7
申请日：2019-03-28
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供一种磁场测量系统及测量方法，该磁场测量系统包括磁强计，磁强计，用于测量磁场，磁强计具有输入端和输出端；其中，磁强计包括aichi磁场探头、信号提取电路和反馈系统，aichi磁场探头探测磁场，探测到的磁场数据由输出端输出；反馈系统具有输入端和输出端，反馈系统的输入端与磁强计的输出端电连接，接收由所述磁强计的输出端输出的磁场数据，并将磁场数据反馈至磁强计的输入端。本发明通过在Aichi磁场探头中增加反馈系统，使得整个磁强计的电路工作在闭环模式，闭环的工作模式能够稳定电路的工作状态和放大倍数，减小非线性失真，扩展频带。另外，磁强计的零点偏移量会大大减小，从而提高磁场测量的精确度。
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公开(公告)号：CN109870662A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201910241473.3
申请日：2019-03-28
Applicant: 北京大学
IPC: G01R33/00 , G01V13/00 , G01R33/02 , G01R33/025 , G01R33/028 , G01R33/06 , G01R33/10 , G01V3/40
Abstract: 本发明提供一种交流磁强计测量范围及线性度标定方法及标定装置，方法包括将交流磁强计放置在标定设备中，交流磁强计位于标定设备的交流磁场的均匀区域；在交流磁强计的测量轴的方向上施加交流磁场，交流磁强计的其余轴方向上施加零磁场；调整交流磁强计的测量轴的朝向，获取测量点并在测量点处固定交流磁强计；在记录时间内记录测量点处的输出数据，并对输出数据进行处理，得到交流磁强计在测量轴方向上的测量范围及线性度指标。本申请的方法及装置能够分别在不同轴方向上标定交流磁强计的测量范围及线性度，从而更加准确全面地获得交流磁强计的测量范围和线性度数据，使得标定结果准确。本发明的标定测试装置的操作简单、计算方便，能够完成全部误差项的标定。
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公开(公告)号：CN109870153A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201910241470.X
申请日：2019-03-28
Applicant: 北京大学
IPC: G01C17/38
Abstract: 本发明提供一种磁强计正交性标定测试方法及标定测试装置，方法包括将所述磁强计放置在标定设备中，所述磁强计位于所述标定设备的交流磁场的均匀区域；在所述交流磁场中转动所述磁强计，所述磁强计在所述交流磁场中转动多个不同的方位；在记录时间内记录所述磁强计在每个所述方位上探测的所述交流磁场的输出数据，采用线圈给定的所述交流磁场的磁场模量对所述磁强计的交流正交性进行标定测试。本申请的方法及装置能够标定测试磁强计的交流正交性，填补了磁强计，尤其是三轴磁强计交流标定测试领域的空白。本发明对磁强计交流正交性的标定测试，标定测试结果准确。本发明的标定测试装置的操作简单、计算方便，能够完成全部误差项的标定。
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公开(公告)号：CN109613594A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201811548420.8
申请日：2018-12-18
Applicant: 北京大学
IPC: G01T1/24
Abstract: 本发明提供一种中性原子成像单元、成像仪、成像方法及空间探测系统，中性原子成像单元包括至少一组探测单元，至少一组探测单元包括：至少一个半导体探测器线阵列；以及设置在至少一个所述半导体探测器线阵列的前方并且与至少一个所述半导体探测器线阵列一一对应设置的至少一个调制栅格，调制栅格对入射的中性原子进行傅里叶变换；半导体探测器线阵列的方向与所述调制栅格的狭缝方向一致。本发明首次将栅格成像技术应用于中性原子探测及成像领域，大大提高了中性原子的成像效率，缩短了成像所需的时间，提高了中性原子成像探测的计数率。本发明的中性原子成像方法，不会受到空间极紫外/紫外辐射的影响，获得更好的成像效果。
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公开(公告)号：CN108490475A
公开(公告)日：2018-09-04
申请号：CN201810239613.9
申请日：2018-03-22
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供一种星上数据采集处理方法、系统以及空间粒子探测器，系统包括：电荷脉冲信号处理模块、脉冲幅度分析模块、控制模块和存储器；控制模块用于在空间粒子探测器的开门时间内，控制所述电荷脉冲信号处理模块、所述脉冲幅度分析模块和所述存储器，进行一个或多个所述粒子传感器形成的粒子事件所对应的事件数据帧的累计存储；在关门时间内，依据所述数据处理单元的指令对存储在所述存储器中事件数据帧进行统计，并将统计后的事件数据帧记录为计数值回传所述数据处理单元；所述存储器用于存储事件数据帧。本发明提高了空间粒子探测器星上数据采集处理的灵活性，减少了仪器的“死时间”。
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