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公开(公告)号：CN118392301A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410611467.3
申请日：2024-05-16
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及光学领域，提供一种利用光压或光辐射压力效应的测量方法及测量装置，方法包括：将物体静止悬浮设置；将准直、连续、功率稳定的光束垂直入射于物体的表面；测量物体在光束作用下的加速度；根据物体的加速度、质量、透射比、反射比以及受到的阻力，确定光束的光辐射功率；或，根据光束的光辐射功率、物体的加速度、透射比、反射比以及受到的阻力，确定物体的质量。本发明提供的方法，可以根据已知参数测量特定光束的光辐射功率或特定物体的质量，而且通过合理的数学转换，可以实现特定光束的光辐射功率与特定物体的质量的双向测量，即在同一测量中既可以测量光辐射功率也可以测量物体质量，提高了测量的灵活性和多功能性。
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公开(公告)号：CN108362726B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201810151308.4
申请日：2018-02-14
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N25/12
Abstract: 本发明提供的一种超导相变温度传感器及其制备方法，其中所述传感器包括：依次镀在基板上的第一层薄膜和第二层薄膜；第一层薄膜为超导材料；第二层薄膜的宽度与第一层薄膜的宽度的比值沿所述第一层薄膜的长度方向逐渐变化；所述第一层薄膜的厚度与所述第二层薄膜的厚度之和为0.2‑200nm。在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最大处的超导相变温度为第一温度，在所述第二层薄膜的宽度与所述第一层薄膜的宽度的比值的最小处的超导相变温度为第二温度，超导相变温度传感器的最佳工作范围为所述第一温度至所述第二温度。本发明提供的超导相变温度传感器具有较宽的工作范围，使得超导相变温度传感器的适用范围更广泛。
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公开(公告)号：CN110702236A
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201911084805.8
申请日：2019-11-08
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提出了一种用于光纤波长标准器的高精度光谱定标方法，包括以下步骤：S1、利用可调谐激光器发射激光；S2、利用光纤分束器对激光进行分束处理，得到第一光束和第二光束；S3、将第一光束通过待定标的光纤波长标准器，利用光功率计分别测量第一光束和第二光束的光功率，利用光波长计测量第二光束的波长；S4、基于第一光束和第二光束的光功率、第二光束的波长获得吸收峰扫描曲线，计算吸收峰波长；S5、将计算得到的吸收峰波长赋予待定标的光纤波长标准器，实现光纤波长标准器的光谱定标。本发明方法可以为光纤波长标准器提供高精度定标，为高分辨率、高精度光纤波长提供了量值溯源的可靠途径与保障。
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公开(公告)号：CN118392301B
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202410611467.3
申请日：2024-05-16
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及光学领域，提供一种利用光压或光辐射压力效应的测量方法及测量装置，方法包括：将物体静止悬浮设置；将准直、连续、功率稳定的光束垂直入射于物体的表面；测量物体在光束作用下的加速度；根据物体的加速度、质量、透射比、反射比以及受到的阻力，确定光束的光辐射功率；或，根据光束的光辐射功率、物体的加速度、透射比、反射比以及受到的阻力，确定物体的质量。本发明提供的方法，可以根据已知参数测量特定光束的光辐射功率或特定物体的质量，而且通过合理的数学转换，可以实现特定光束的光辐射功率与特定物体的质量的双向测量，即在同一测量中既可以测量光辐射功率也可以测量物体质量，提高了测量的灵活性和多功能性。
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公开(公告)号：CN117666172A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311531748.X
申请日：2023-11-16
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供一种光开关及基于光开关的光脉冲生成方法，该光开关包括：第一光开关；第二光开关，第二光开关的光信号输入端与第一光开关的光信号输出端连接；脉冲发生器，脉冲发生器的电信号输出端与第一光开关的电信号输入端连接，且与第二光开关的电信号输入端连接，所述脉冲发生器用于向所述第一光开关提供第一电脉冲信号作为驱动，向所述第二光开关提供第二电脉冲信号作为驱动，第一电脉冲信号和第二电脉冲信号相同或不同；光源，所述光源用于为光路提供入射光。本发明通过将两个光开关以不同形式叠加使用，降低了漏光量，提高截止率，提高短脉冲光信号信噪比，缩短脉冲宽度，提高光开关的开关效率，同时还可进行脉冲采样和选择。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115479679A
公开(公告)日：2022-12-16
申请号：CN202211056837.9
申请日：2022-08-31
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及光子数分辨技术领域，提供一种光子数分辨探测装置，其包括信号接收模块、光纤分束器、多根延时调节光纤以及单光子探测器，信号接收模块用于接收光信号；光纤分束器具有至少一个光纤分束器入口和多个光纤分束器出口，光纤分束器入口连接信号接收模块；多根延时调节光纤的一端与多个光纤分束器出口一一对应连接，且不同延时调节光纤的长度不同；多根延时调节光纤的另一端均对接至单光子探测器的传感芯片表面。本发明的光子数分辨探测装置，通过光纤分束器和不同长度的延时调节光纤配合，协同探测多个光子，实现基于时分复用的光子数分辨探测，而且结构简单，能够利用多种单光子探测器实现光子数的分辨，扩展单光子探测器的应用领域。
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公开(公告)号：CN110702236B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201911084805.8
申请日：2019-11-08
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提出了一种用于光纤波长标准器的高精度光谱定标方法，包括以下步骤：S1、利用可调谐激光器发射激光；S2、利用光纤分束器对激光进行分束处理，得到第一光束和第二光束；S3、将第一光束通过待定标的光纤波长标准器，利用光功率计分别测量第一光束和第二光束的光功率，利用光波长计测量第二光束的波长；S4、基于第一光束和第二光束的光功率、第二光束的波长获得吸收峰扫描曲线，计算吸收峰波长；S5、将计算得到的吸收峰波长赋予待定标的光纤波长标准器，实现光纤波长标准器的光谱定标。本发明方法可以为光纤波长标准器提供高精度定标，为高分辨率、高精度光纤波长提供了量值溯源的可靠途径与保障。
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公开(公告)号：CN109580172B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201811312322.4
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明实施例提供一种显微成像辐射校准基片及其制备方法，该基片包括：积分球、若干个光源、光源驱动控制电路和基板，其中，积分球的底端位于基板上，积分球的顶端处设置第一通孔，若干个光源发出的光能直接或者间接照射到积分球的内壁，每一光源可直接或者间接连接至光源驱动控制电路，光源驱动控制电路可直接或间接与基板连接。本发明实施例提供的一种显微成像辐射校准基片及其制备方法，制备多个子基片分别实现积分球、光源、光源驱动控制电路等部件的整体或者局部功能，依次堆叠这些子基片后可构建成第一通孔处具有均匀辐射亮度的基片，以满足显微成像设备辐射校准需求。
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公开(公告)号：CN101958754A
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN201010251498.0
申请日：2010-08-11
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 一种色散标准器，包括：一输入光纤；一波导，该波导一端的端面与输入光纤耦合对准连接；一输出光纤，该输出光纤与波导的另一端的端面耦合对准连接。本发明是采用波导器件结构，采用光纤耦合方式，能够直接与被测设备连接，采用不同标称值的一系列色散标准器，能够完成在较大测量范围内的被测设备的检测校准工作。
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公开(公告)号：CN209485964U
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201821471378.X
申请日：2018-09-07
Applicant: 中国计量科学研究院 , 陕西省计量科学研究院
Abstract: 本实用新型公开了一种超高光谱透射比标准量具，包括固定件和滤光片，所述滤光片为扇形结构，相间设置在所述固定件上，用于过滤或遮挡光源发射的连续光。通过在固定件上相间设置至少一个固定透射比的滤光片，设定滤光片的扇形面积/圆心角占比提高透射比的测量上限或降低透射比的测量下限，大幅提升了光谱透射比标准量具的测量范围，同时大幅减小透射比的测量不确定度，提升透射比曲线的光谱平坦性，提升透射比测量的均匀性。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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