透射比标准量具、透射比测量装置

    公开(公告)号:CN109752348A

    公开(公告)日:2019-05-14

    申请号:CN201811044239.3

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 本发明公开了一种透射比标准量具及透射比测量装置,该透射比标准量具包括:一固定件和一个或多个遮光体,所述遮光体为扇形结构;所述遮光体设置在所述固定件上,通过旋转所述遮光体将接收的连续光调制成相应频率的光,根据所述调制的相应频率的光计算透射比及不确定度。通过在固定件上相间设置至少一个超精密加工的遮光体,设定遮光体的占比提高透射比的测量上限,大幅提升了透射比测量装置的透射比量值校准时的测量范围,同时大幅减小透射比测量装置透射比量值的测量结果不确定度,大幅提升了透射比测量装置透射比分辨率的校准能力。

    透射比标准量具、透射比测量装置

    公开(公告)号:CN209471047U

    公开(公告)日:2019-10-08

    申请号:CN201821471377.5

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 本实用新型公开了一种透射比标准量具及透射比测量装置,该透射比标准量具包括:一固定件和一个或多个遮光体,所述遮光体为扇形结构;所述遮光体设置在所述固定件上,通过旋转所述遮光体将接收的连续光调制成相应频率的光,根据所述调制的相应频率的光计算透射比及不确定度。通过在固定件上相间设置至少一个超精密加工的遮光体,设定遮光体的占比提高透射比的测量上限,大幅提升了透射比测量装置的透射比量值校准时的测量范围,同时大幅减小透射比测量装置透射比量值的测量结果不确定度,大幅提升了透射比测量装置透射比分辨率的校准能力。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    太阳辐射计的高精度功率测量溯源装置及其溯源方法

    公开(公告)号:CN118518198A

    公开(公告)日:2024-08-20

    申请号:CN202410584294.0

    申请日:2024-05-11

    Abstract: 本发明涉及辐射计量技术领域,提供一种太阳辐射计的高精度功率测量溯源装置及其溯源方法,其中,太阳辐射计的高精度功率测量溯源装置包括光源、光束调制系统、位移台、探测器和太阳辐射计,光源用于向预设方向发出功率可控的光束;光束调制系统设于预设方向上,光束调制系统用于对光束进行调制处理,以得到目标光束;位移台沿预设方向设于光束调制系统的后方,位移台具有与预设方向对应的第一位置;探测器安装于位移台上,探测器可活动的切换至第一位置;太阳辐射计安装于位移台上,太阳辐射计可活动的切换至第一位置。本申请实现在精确的小功率水平下获得等同于太阳辐射的大功率水平下的功率溯源。

    光子通量标准源与光子通量响应度测量方法

    公开(公告)号:CN115077867A

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202210583523.8

    申请日:2022-05-25

    Abstract: 本申请涉及显微成像辐射校准技术领域,提供一种光子通量标准源与光子通量响应度测量方法。光子通量标准源包括积分球光源与光阑;所述积分球光源出口外侧包括具有第一面积的第一平整表面,所述光阑靠近所述积分球光源一侧为具有第二面积的第二平整表面,所述第一平整表面与所述第二平整表面之间平行且存在平面间隔,所述积分球光源出口在所述光阑限定的立体角内具有平均亮度;其中,所述平面间隔、所述平均亮度、所述第一面积与所述第二面积,用于计算确定待测探测器的光子通量响应度的光子通量。本申请可以准确地确定出进入显微成像系统的光子通量,因此可以提高根据光子通量标定的显微成像系统的光子通量响应度精确度。

    基于振镜的高稳定性均匀积分球亮度源系统

    公开(公告)号:CN112964358A

    公开(公告)日:2021-06-15

    申请号:CN202110437535.5

    申请日:2021-04-22

    Abstract: 本发明涉及一种基于振镜的高稳定性均匀积分球亮度源系统,包括依次设置的激光器、光阑、偏振器、功率稳定器、振镜和积分球,振镜与信号发生器连接;激光器,用于发射激光;光阑,用于调整光束大小;偏振器,用于调整光束的偏振方向,使光束的偏振方向与功率稳定器相匹配;功率稳定器,用于稳定光束;信号发生器,用于向振镜发送变化的控制信号,使振镜形成变化光场;积分球上设有光束入口、光束出口,光束入口与光束出口在同一直线上,积分球的光束出口处设有辐射亮度计,辐射亮度计放置在电动平移台上,积分球的光束出口处设有监视探测器,监视探测器与电压表连接。本发明将振镜与积分球相结合能够有效的抑制散斑,具有良好的稳定性和均匀性。

    一种液体散射测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN109540844B

    公开(公告)日:2021-03-16

    申请号:CN201811312029.8

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本发明涉及光辐射测量领域,公开了一种液体散射测量装置及其测量方法,其中的测量装置包括:容器、第一积分球和第二积分球;所述容器设置在所述第一积分球及所述第二积分球之间,用于装待测液体;所述第一积分球的球心及所述第二积分球的球心所在的直线与水平方向平行;在所述容器与所述第一积分球相连的一侧设有第一光学窗口,以及在所述第一积分球上与所述第一光学窗口的相对处设有进光口;在所述容器与所述第二积分球相连的一侧设有第二光学窗口,以及在所述第二积分球上与所述第二光学窗口的相对处设有出光口。本发明提供的测量装置可以同时测量得出液体的透射(前向)散射特性和反射(后向)散射特性。

    一种基于矩阵变换的测量材料光学性能的方法及系统

    公开(公告)号:CN108037078B

    公开(公告)日:2020-12-25

    申请号:CN201711250397.X

    申请日:2017-12-01

    Abstract: 本发明提供的一种基于矩阵变换的测量材料光学性能的方法及系统,其中所述方法包括:S1,获取光强周期性变化的光源在不同电流和不同波长下的光谱分布矩阵;S2,用所述光强周期性变化的光源照射探测器,以获取所述探测器的响应矩阵;S3,用所述光强周期性变化的光源照射测量对象,获取所述探测器的输出信号,并结合所述响应矩阵和所述光谱分布矩阵,获取所述测量对象在不同波长下的光学性能。本发明提供的基于矩阵变换的测量材料光学性能的方法,简化了测量步骤,且该光谱仪的电路简单,使得整个测量系统的成本较低,提高了该方法和系统的实用性。

    一种光功率探测器及其测量方法与制备方法

    公开(公告)号:CN109540284A

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201811312385.X

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本发明涉及辐射测量领域,公开了一种光功率探测器及其测量方法与制备方法,其中该探测器包括光纤、第一吸光层、导热层和温度传感器;所述第一吸光层包覆于所述光纤的终端的表面,且所述第一吸光层的材料为吸光材料;所述导热层包覆于所述第一吸光层的表面,且所述导热层的材料为导热材料;所述温度传感器设置在所述导热层的表面,用于检测所述导热层的温度。本发明提供的探测器能够较准确的测量光功率,且不会因光的发散特性而影响测量结果,故该探测器能够保证检测结果的高精确度。

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