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公开(公告)号：CN102901924A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201210355797.8
申请日：2012-09-21
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明提供一种部分三模冗余SRAM型FPGA的单粒子翻转特性的测试方法，包括：在设定的注量率下辐照被测器，当器件输出特性不正确且停止粒子束辐照T1时间内器件功能未恢复正常，则记录1次单粒子错误，多次重复后计算单粒子错误截面；使粒子注量率不断降低，直到单粒子错误截面趋于稳定；提供另一不进行三模冗余加固的对比器件，在对比注量率下，辐照对比器件并计算单粒子错误截面算对比器件的单粒子错误截面与被测器件的单粒子错误截面的比值。
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公开(公告)号：CN102332307A
公开(公告)日：2012-01-25
申请号：CN201110214108.7
申请日：2011-07-28
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G11C29/08
Abstract: SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法包括：单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元，可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验，实现SRAM型FPGA的单粒子功能中断检测、单粒子锁定检测和单粒子翻转检测，包括配置存储区、BRAM和触发器的单粒子翻转检测。本发明具有操作简单、检测全面、准确度高、实时性好、通用性强的优点。
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公开(公告)号：CN106646177B
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN201610972906.9
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种宇航用半导体器件总剂量辐射试验通用偏置电路板，包括母板、多块相互独立的通用子板和多个试验器件夹具。通用子板用于为不同的被辐照器件配置电压与偏置负载，垂直插装在母板的背面；试验器件夹具用于插装被辐照器件，集中布局在母版的正面。对于封装形式相同，管脚定义与加电偏置不同的器件，通过配置不同的通用子板，即可使用同一块母板完成总剂量辐射试验，对于封装形式不同，管脚定义与加电偏置相同的器件，通过焊接不同的试验器件夹具，即可使用同一块母板完成总剂量辐射试验。本发明减少阻容元件在母板的占用空间，有效地增加了有效辐射面积，且制作简单、成本低、效率高、可重复使用、通用性强，具有推广应用价值。
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公开(公告)号：CN112034321A
公开(公告)日：2020-12-04
申请号：CN202010769032.3
申请日：2020-08-03
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及一种快速软恢复二极管功能性能的评估方法，特别涉及一种基于安全工作区验证的快速软恢复二极管功能性能的评估方法，属于元器件应用验证技术领域。通过对快速软恢复二极管进行全面的功能性能评估来检验快速软恢复二极管是否满足应用要求，评估内容包括不同温度条件下正向电压与正向电流关联特性、不同温度条件下反向耐压与反向漏电流关联特性、不同温度条件下反向恢复特性、反向恢复时间与温度的关联特性、反向恢复电流与温度的关联特性、稳态功率安全工作区验证和浪涌功率安全工作区验证。该方法结合用户需求和器件特性给出了基于安全工作区验证的快速软恢复二极管的功能性能的全面的验证项目。
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公开(公告)号：CN107966715B
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201711140013.9
申请日：2017-11-16
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种对应用加固器件进行单粒子效应评估的试验方法，特别涉及与空间环境结合的应用加固器件单粒子效应评估试验方法，属于粒子辐照测试技术领域。本发明的方法能够更加准确地测试器件采取的EDAC、TMR、定时刷新等应用加固效果。本发明的方法对器件连续辐照至一定总注量(如107ions/cm2)之后再统计单粒子效应数的做法，考虑加固措施的有效性与加固纠错周期内入射粒子累积注量的相关性，通过结合器件实际应用情况和在轨空间环境条件，设置辐照单次注量，每辐照至该注量则停止辐照，将应用加固器件配置为初始状态再继续试验。以解决现有地面试验累积注量过大造成单粒子错误异常累积，导致严重低估应用加固效果的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107966715A
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201711140013.9
申请日：2017-11-16
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种对应用加固器件进行单粒子效应评估的试验方法，特别涉及与空间环境结合的应用加固器件单粒子效应评估试验方法，属于粒子辐照测试技术领域。本发明的方法能够更加准确地测试器件采取的EDAC、TMR、定时刷新等应用加固效果。本发明的方法对器件连续辐照至一定总注量(如107ions/cm2)之后再统计单粒子效应数的做法，考虑加固措施的有效性与加固纠错周期内入射粒子累积注量的相关性，通过结合器件实际应用情况和在轨空间环境条件，设置辐照单次注量，每辐照至该注量则停止辐照，将应用加固器件配置为初始状态再继续试验。以解决现有地面试验累积注量过大造成单粒子错误异常累积，导致严重低估应用加固效果的问题。
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公开(公告)号：CN103577643B
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201310547929.1
申请日：2013-11-06
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种SRAM型FPGA单粒子翻转效应仿真方法，包括如下步骤：1：获取待仿真器件的设计和工艺参数；2：使用建模工具构造器件的三维几何形状，并设定器件掺杂的区域、浓度以及离散化策略等；3：根据器件的I-V特性曲线，对器件的工艺和设计参数进行校准；4：生成网格化的器件结构，在沟道、轻掺杂区以及PN结边界对网格进行细化；5：根据器件电路规模和实际情况，选取器件级TCAD仿真方法或器件级TCAD和电路级Spice混合仿真方法；6：利用辐射粒子特性工具计算获得入射重离子特性；7：设定好物理模型参数、仿真时间和边界条件等，利用TCAD工具进行器件单粒子效应仿真；8：根据仿真结果，选择不同能量的粒子再次进行模拟；9：通过仿真数据分析工具获取仿真结果。
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公开(公告)号：CN105548861A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510917665.3
申请日：2015-12-10
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种用于测量纳米器件低能质子单粒子翻转敏感性的试验方法，该方法考虑入射质子方向与器件沟道宽度的方向的相关性，给出了进行低能质子单粒子试验时的质子入射方向、角度的选取方法和确定原则；同时给出了金属膜粗调降能和空气层精调降能结合的质子能量选择和获取方法，通过获取金属膜层厚度和降能空气层厚度，从而获得低能质子单粒子试验所需能量，实现宇航用元器件，尤其是高集成度、小特征尺寸的深亚微米、纳米器件的低能质子单粒子效应评估，最大程度满足卫星抗辐射加固设计的需求；本发明方法为空间项目选用纳米级器件以及应用加固设计提供参考数据，也为研制抗辐照加固纳米器件提供参考数据。
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公开(公告)号：CN103105548B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201210576317.0
申请日：2012-12-27
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种可移动的单粒子试验板调试平台，该调试平台包括样品架、样品架的两侧为左侧支板和右侧支板，样品架下方设有台钳卡头，台钳卡头上设有台钳锁紧把手以及顶帽。在进行器件单粒子试验前先将被试器件的试验板安装在该调试平台上进行调试，从而节省传统试验中需在试验预约时段内将被试器件的试验板安装在加速器上的试验支架上的时间，进而节省大量的试验经费，且该调试平台设有台钳卡头，结构简单，便于安装。
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