CT系统金属伪影校正方法
    21.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103745440B

    公开(公告)日:2017-02-08

    申请号:CN201410007036.2

    申请日:2014-01-08

    Abstract: 本发明提供了一种CT系统金属伪影校正方法,根据初始化参数创建所述CT系统的系统矩阵,基于所述系统矩阵计算CT图像重建的过程中的物体衰减系数f,再优化所述物体衰减系数f,实现对CT系统的金属伪影校正。本发明提供的金属伪影校正算法,能够在SART算法的迭代重建过程中,通过逐网格计算衰减系数f的方法,抑制因投影数据跃变和射束硬化引起的金属伪影,提高重建效果。

    集成分割功能的肺CT图像配准方法及系统

    公开(公告)号:CN113327274B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202110408013.2

    申请日:2021-04-15

    Abstract: 本发明公开了一种集成分割功能的肺CT图像配准方法及系统,该方法包括以下步骤:S1、数据预处理;S2、建立肺分割‑配准集成网络,所述肺分割‑配准集成网络包括特征编码模块、肺分割模块和肺配准模块;S3、构建肺分割模块;S4、构建肺配准模块;S5、建立用于肺配准的自适应正则约束项:S6、训练肺分割‑配准集成网络;S7、将待配准的肺部4D‑CT图像输入到训练后的肺分割‑配准集成网络中,自动输出配准结果。本发明能够获得滑移和平滑运动模式兼容的理想的肺部位移场,本发明根据像素点位置特征不同,计算自适应正则项,并将两种正则项进行空间加权结合,保障了图像的局部差异和配准精度。

    一种X射线光栅成像莫尔条纹漂移校准方法及装置

    公开(公告)号:CN116485690B

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310730802.7

    申请日:2023-06-20

    Abstract: 本发明公开了一种X射线光栅成像莫尔条纹漂移校准方法及装置,属于X射线光栅成像领域,包括以下步骤:调节光栅形成莫尔条纹;获取背景莫尔条纹相位信息图像;获取检测物体莫尔条纹相位信息图像;获取莫尔条纹相位信息偏移量,基于莫尔条纹相位信息偏移量,对实际检测物体相位信息图像进行补偿以得到不含莫尔条纹漂移伪影的检测物体相位信息图像,从而实现莫尔条纹漂移校准。本发明能够在保证实验效率和检测物体完整视场区域的同时,实现莫尔条纹漂移全局域精确校准,消除伪影,保证成像质量。

    一种针对髋关节脱位的磁共振T2定量成像和评估方法及系统

    公开(公告)号:CN111685768B

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202010603125.9

    申请日:2020-06-29

    Abstract: 本发明属于磁共振成像技术领域,本发明提供的磁共振T2定量成像和评估方法,包括构建髋关节软骨模体,自定义设置T2弛豫值;选出最优成像序列和最优扫描参数;基于最优成像序列和最优扫描参数,对比不同T2定量算法的精确度,得到最优T2定量拟合算法;对髋关节软骨进行分割,从而获得T2测量值分布和T2‑mapping伪彩图,以此作为磁共振T2定量成像技术临床可行性的参考依据。该方法能够为髋关节软骨的T2定量成像提供最优成像序列及最优扫描参数组合,同时对比了不同T2定量算法的精度,为髋关节软骨的T2定量成像提供最优的定量算法和精度指标,为DDH的临床诊断提供髋关节各部分软骨的T2定量精度的参考依据。

    阵列线圈的激发参数确定及激发方法、装置

    公开(公告)号:CN109725271B

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN201811631528.3

    申请日:2018-12-29

    Abstract: 本发明公开了阵列线圈的激发参数确定及激发方法、装置,其中激发参数确定方法包括:获取待激发阵列线圈的模型;模型包括多个元线圈,每个元线圈包括至少一个独立驱动的线圈;确定待产生预期磁场矢量的目标区域与模型的相对位置关系;计算通以预定驱动电流时各个元线圈分别在目标区域产生的磁场矢量;采用预定向量基对将各个元线圈产生的磁场矢量进行分解;筛选出在预定向量基的每个基向量方向上,磁场强度的幅值较大的预定个数个元线圈;利用优化算法求解出当需要在目标区域产生预期磁场矢量时,所筛选出的各个元线圈中需要通以的驱动电流最优值。本发明能够减少待求解的变量的个数,使得求解结果的冗余较少,且极大地减少所耗费的时间。

    一种基于X射线的LED芯片缺陷自动检测设备及方法

    公开(公告)号:CN107505341B

    公开(公告)日:2020-10-20

    申请号:CN201710829085.8

    申请日:2017-09-14

    Abstract: 本发明公开了一种基于X射线的LED芯片缺陷自动检测设备,其具有X射线检测主体及屏蔽壳体;其中,X射线检测主体具有:X射线源,其产生的X射线照射置于载物台上的待检芯片;探测器,其探测穿过待检芯片的X射线;芯片夹具,其以可脱离的形式定位于载物台上,芯片夹具设有若干个芯片槽;运动平台,其被配置为实现载物台在X、Y和Z三方向上的运动;以及控制系统,其被配置为实时获取运动平台的位置坐标,并按一定路径驱动运动平台。本发明还提供了一种基于X射线的LED芯片缺陷自动检测方法。本发明可将隐藏的芯片内部的缺陷呈现在图像当中,并通过对缺陷部分的自动识别和提取,实现LED芯片的快速、无损和自动化批量检测。

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