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公开(公告)号：CN109870804A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201910246100.5
申请日：2019-03-29
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种离轴三反五通道可见红外成像与激光接收光学系统。大视场2.5度*2.5度景物经过离轴三反望远镜，利用离轴三反中间像面位置进行分光，再通过两个离轴三镜、四个分色片和四组中继透镜实现从可见光到长波红外的全波段分离成像。本发明既能实现大口径大相对口径高分辨率成像，又能实现大视场凝视成像，避免了运动扫描部件，结构简单紧凑；成像波段宽，涵盖了可见到红外以及激光测距接收功能共计五个通道，解决了多通道难以布局的问题，明显地提升了仪器的探测性能；光学系统孔径光阑达到500mm，中波和长波红外通道相对孔径高达1/1.1，设计的实出瞳与杜瓦冷光阑位置匹配，有效抑制了背景辐射对红外成像的影响。
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公开(公告)号：CN109239916A
公开(公告)日：2019-01-18
申请号：CN201811176451.5
申请日：2018-10-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于施密特望远镜和奥夫纳分光的高光谱成像仪光学系统。其特征在于：地面目标的一个条带经过改进型施密特望远镜汇聚成像在焦面位置狭缝上，再经自由曲面OFFNER光谱仪色散后分波长成像在面阵探测器上，随着平台运行推扫获得图谱合一的图像。本发明解决了现有大视场快焦比高光谱成像仪光路复杂、非球面众多、制造和装调困难的问题。采用改进型施密特式望远镜，仅含有一个非球面，结构简单、加工难度低，具有像质优良、畸变小、中心遮拦比小特点；采用自由曲面凹面镜光谱仪形式，避免使用大口径透镜，实现了大视场像差校正。因此本发明适合大口径宽视场快焦比小畸变高分辨率的高光谱成像领域，极大程度降低仪器的研制难度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN208350332U
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201820901568.4
申请日：2018-06-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本专利公开了一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置。立方棱镜光校装置采用一个立方棱镜办法折转两束激光束成180度夹角，实现了望远镜光学系统光轴与参考标准平面镜法线平行的初始调节；再采用两块平行平板的平行关系，解决了望远镜光轴与参考平面镜法线平行的高精度精密调节。本专利攻克了望远镜装调过程光轴漂移引起像质变化的难题，实现了被测试系统状态的实时高精度监控，光路结构简单，粗调与精调相结合，大大提高了光校效率。采用本专利所述的光校装置，不仅适用望远镜光学系统光轴与标准平面镜法线的配准与实时监测，还适用于标定相对的两块反射镜面的夹角、两块光学平板的夹角等其它光校领域。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN211669359U
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201921983830.5
申请日：2019-11-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01S7/497
Abstract: 本专利公开了一种基于测角法的长焦距激光三维成像仪畸变测试装置。照明平行光管焦面星点，经平行光管准直，光线入射到激光三维成像仪光学系统后，聚焦到成像探测器上，形成星点影像，转动测高仪支撑转台，获取一系列星点坐标与转台角度的对应关系。测试装置采用高精度的光电自准直仪监视转台转动角度，大大提高了测角精度；建立畸变数学模型，编制专用软件处理质心位置和数据处理，排除转台抖动、气流等环境因素引入误差。本专利解决了传统畸变测试装置在长焦距激光三维成像仪畸变测试中数据不稳定，从而影响畸变测试精度的问题。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN208902974U
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201821638592.X
申请日：2018-10-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开了一种基于施密特望远镜和奥夫纳分光的高光谱成像仪光学系统。其特征在于：地面目标的一个条带经过改进型施密特望远镜汇聚成像在焦面位置狭缝上，再经自由曲面OFFNER光谱仪色散后分波长成像在面阵探测器上，随着平台运行推扫获得图谱合一的图像。本专利解决了现有大视场快焦比高光谱成像仪光路复杂、非球面众多、制造和装调困难的问题。采用改进型施密特式望远镜，仅含有一个非球面，结构简单、加工难度低，具有像质优良、畸变小、中心遮拦比小特点；采用自由曲面凹面镜光谱仪形式，避免使用大口径透镜，实现了大视场像差校正。因此本专利适合大口径宽视场快焦比小畸变高分辨率的高光谱成像领域，极大程度降低仪器的研制难度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN210863099U
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN201921494783.8
申请日：2019-09-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本专利公开了一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置，该装置由波长可调谐单色光光源模块、起偏器、待检波片、检偏器、能量探测组件组成，待检波片位于起偏器与检偏器中间，旋转待检波片导致出射光能量变化，通过测试出光能量的变化来准确标定波片相位延迟量。本专利优点在于：测量方法简单，可以测量不同波长处波片的相位延迟角度，测量精度高。
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公开(公告)号：CN209928138U
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201920411691.2
申请日：2019-03-29
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本专利公开了一种离轴三反五通道可见红外成像与激光接收光学系统。大视场2.5度*2.5度景物经过离轴三反望远镜，利用离轴三反中间像面位置进行分光，再通过两个离轴三镜、四个分色片和四组中继透镜实现从可见光到长波红外的全波段分离成像。本专利既能实现大口径大相对口径高分辨率成像，又能实现大视场凝视成像，避免了运动扫描部件，结构简单紧凑；成像波段宽，涵盖了可见到红外以及激光测距接收功能共计五个通道，解决了多通道难以布局的问题，明显地提升了仪器的探测性能；光学系统孔径光阑达到500mm，中波和长波红外通道相对孔径高达1/1.1，设计的实出瞳与杜瓦冷光阑位置匹配，有效抑制了背景辐射对红外成像的影响。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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