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公开(公告)号：CN105445232A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201510864444.4
申请日：2015-12-01
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/49
CPC classification number: G01N21/49
Abstract: 本发明公开了一种后向散射系数线性约束的水体固有光学量反演方法，本发明基于可见近红外-短波光谱水面以上高光谱数据，通过步骤(1)利用1600-1700nm波段数据校正离水反射率，计算水下反射率和单次发射率；(2)利用700-850nm波段的后向散射系数光谱线性约束，计算参考波段颗粒吸收系数的最优值；(3)计算的700-850nm波段一系列波长的颗粒后向散射系数，进行回归得到颗粒后向散射系数估算模型中的参数，计算所有波长的后向散射系数和吸收系数。本发明可以适用于内陆浑浊水体的固有光学量反演，对内陆水体水质监测具有重要的作用。
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公开(公告)号：CN105241429A
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201510607456.9
申请日：2015-09-22
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01C13/00
CPC classification number: G01C13/00
Abstract: 本发明公开了一种基于航空遥感的近海工业温排水提取方法，具体步骤包括，1)利用MODTRAN5.3软件计算大气参数，输入至大气辐射传输方程简化形式，对航空热红外遥感数据进行海面温度反演，将像元辐射亮温转变成温度；2)将1)中反演得到的海面温度与地面同步测量温度进行对比，计算温度反演结果的误差，若误差大于0.5K，利用地面同步测量温度对结果进行修正。3)用图像分割技术提取温升区；4)基于非温升区海面温度模拟温升区海面自然温度，用温升区海面温度减去同区域模拟的海面自然温度，得到温升区域的温升值。本方法的优点在于:反演精度高，既能够满足近海工业温排水时间分辨率的需求，也满足了其对空间分辨率的需求。
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公开(公告)号：CN104535538A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410748105.5
申请日：2014-12-09
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/55
Abstract: 本发明公开一种基于高光谱技术的海冰密度原位测量方法，该测量方法步骤如下：1)测量海冰表面反射光谱；2)计算海冰密度光谱指数(1088nm反射峰高度)，计算方法为其中，s海冰密度光谱指数；r为1088nm波段的反射率；为由1028nm波段的反射率和1220nm波段反射率线性插值而得到的插值反射率；3)将海冰密度光谱指数(s)代入海冰密度估算模型：ρ＝a·s+b；其中a和b为拟合系数；最后得到海冰密度。本发明的测量方法具有准确性好，测定速度快，可原位测量，不需要采样到实验室测量的特点。
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公开(公告)号：CN112284687B
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202010992382.6
申请日：2020-09-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开一种适用于深空探测成像光谱仪的成像模拟系统和方法，本发明系统包括低温箱、透光窗口、摆镜、反射镜、步进电机、低温箱控制器、低温箱数据和控制线，步进电机控制器，步进电机数据和控制线。该系统通过步骤(1)确定成像场景，安置成像光谱仪，连接各组件之间的数据和控制线；(2)确定低温箱的温度控制曲线；(3)确定摆镜的转动速度曲线；(4)高光谱数据采集和三维模型数据采集；(5高光谱数据辐射定标和几何校正；(6)根据所获取的辐射亮度图像，从图像和三维模型数据中选择验证点评价模拟成像环境下辐射和几何畸变。本发明的成像模拟系统和方法可用于成像光谱仪研制和发射前的成像质量评价。
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公开(公告)号：CN114969615A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210259813.7
申请日：2022-03-16
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于光谱分辨率降级的热红外高光谱温度发射率反演方法，涉及红外高光谱遥感领域。所要解决的是热红外高光谱数据的温度发射率反演问题。该方法步骤如下：(1)获取热红外高离地辐射亮度光谱及其同步的大气下行辐射亮度光谱；(2)候选温度集合确定；(3)黑体辐射亮度光谱计算；(4)光谱分辨率降级；(5)候选发射计算；(6)代价函数计算；(7)最优温度确定；(8)最终发射率计算。本发明以提高温度求解精度为切入点，通过提高温度的求解精度实现温度和发射率求解精度的同步提高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113029339A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110268809.2
申请日：2021-03-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开一种用于深空探测成像光谱仪的在轨多溯源光谱辐射定标方法，该方法步骤如下：(1)当环绕器抵达环绕器轨道的远天体轨道时，进行对日定标；(2)对日定标数据采集完成后，进行对冷空间及积分球定标；(3)扣除对日定标辐射数据与对积分球定标辐射数据中的暗背景，分别计算光谱辐射定标系数。用对日定标的光谱辐射定标系数校准对积分球定标的辐射定标系数；(4)环绕器抵达近天体轨道，同时采集成像光谱数据与暗背景数据；(5)用所得在轨光谱辐射定标系数将成像光谱数据转换为辐射亮度。本方法克服了因积分球辐射强度的定标系数偏移，保证了在轨辐射定标的实时性、持续性与数据的准确性。
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公开(公告)号：CN110672031B
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN201910850368.X
申请日：2019-09-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种同时以点与面特征约束的三维激光扫描的检校方法，包括以下步骤：(1)获取点与面目标的扫描观测值和参考真实值，对两目标点集三维配准与粗差探测；(2)将配准转换参数作为初始位姿参数，对观测值与参考值间的系统性偏差采用误差模型描述；(3)将系统误差参数设为零与初始位姿参数进行最小二乘估计，获得优化的位姿参数和观测量权重；(4)以点与面为约束的附有参数条件平差，对系统误差参数与位姿参数进行最优估计；(5)利用估计的参数改正扫描观测值，采用数学统计改正前后观测值与参考值间的偏差，评价提高精度与程度。与现有方法相比，本发明具有综合多种约束，所有参数同时最优估计，准确性好，精度高，易操作特点。
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公开(公告)号：CN112284537A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202010966364.0
申请日：2020-09-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种推扫式高光谱成像仪光谱弯曲和梯形畸变检测方法，该方法步骤如下：(1)制作适用于光谱弯曲检测和梯形畸变检测的参考靶标；(2)暗背景数据测量；(3)光谱弯曲检测靶标成像数据测量；(4)梯形畸变检测靶标成像数据测量；(5)成像数据处理；(6)时间维方向平均；(7)光谱弯曲计算；(8)梯形畸变计算。本发明的以推扫式高光谱成像仪的光谱弯曲和梯形畸变的产生机理为基础，以参考靶标测量的方式，通过一定数据处理获取了高光谱成像仪全幅的光谱弯曲和梯形畸变，在保证测量精度的同时，提高了工作效率。
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公开(公告)号：CN110672031A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201910850368.X
申请日：2019-09-10
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种同时以点与面特征约束的三维激光扫描的检校方法，包括以下步骤：(1)获取点与面目标的扫描观测值和参考真实值，对两目标点集三维配准与粗差探测；(2)将配准转换参数作为初始位姿参数，对观测值与参考值间的系统性偏差采用误差模型描述；(3)将系统误差参数设为零与初始位姿参数进行最小二乘估计，获得优化的位姿参数和观测量权重；(4)以点与面为约束的附有参数条件平差，对系统误差参数与位姿参数进行最优估计；(5)利用估计的参数改正扫描观测值，采用数学统计改正前后观测值与参考值间的偏差，评价提高精度与程度。与现有方法相比，本发明具有综合多种约束，所有参数同时最优估计，准确性好，精度高，易操作特点。
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公开(公告)号：CN105929380B
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201610236447.8
申请日：2016-04-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开一种卫星激光高度计全波形激光雷达数据去噪方法，该去噪方法步骤如下：(1)确定全波形激光雷达数据滤波窗口和多项式次数变化范围；(2)用最小二乘法对原始全波形激光数据进行滑动拟合，并求出卷积系数。用卷积系数对原始全波形激光数据进行卷积计算，完成SG滤波，得到去噪后的全波形激光数据；(3)重复(1)‑(2)，遍历所有可能的全波形激光雷达数据滤波窗口和多项式次数组合；(4)最优滤波结果的提取。本发明所提出的方法可有效去除全波形激光雷达数据的噪声，计算复杂度低，可有效保持原始全波形激光波形数据的相对极大值、相对极小值和脉冲宽度。
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