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公开(公告)号：CN109323852A
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201811345019.4
申请日：2018-11-13
Applicant: 清华大学 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 一种激光倍频晶体频率转换效率测量系统及性能表征方法，该系统包括高刚度基板、载物板、晶体固定架、X、Y向精密电动平移台、激光器、激光接收器；通过X向和Y向平移台的交替间续运动，激光接收器对倍频晶体通光口径表面进行逐点采样，获取倍频后的激光功率值；在高洁净光学测量环境中进行大口径激光倍频晶体频率转换性能表征操作时，在完成初始操作后，测量系统可在其控制器模块的控制下自动按特定轨迹完成采样并计算出用来表征倍频晶体频率转换性能的值；本发明测量系统可满足大口径激光倍频晶体频率转换效率高效精密测量需求，表征方法科学、简明，适用于高功率惯性约束聚变激光器中倍频晶体频率转换效率影响研究和现场装配校准测试。
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公开(公告)号：CN109270651A
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201811314249.4
申请日：2018-11-06
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 , 江苏西顿科技有限公司
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明公开了一种大口径光学元件自动化离线精密装配系统，包括光学元件就位模块、机械框体就位模块和光学元件入框洁净机器人，所述光学元件入框洁净机器人位于洁净暂存平台和框体接驳与装配转台之间，该光学元件入框洁净机器人能够将洁净暂存平台上的光学元件从包装盒中取出，并装入到框体接驳与装配转台上的机械框体中。采用本发明提供的一种大口径光学元件自动化离线精密装配系统，结构新颖，设计巧妙，自动化程度极高，大幅减少了作业人员的流动，从而大大减少了粉尘的产生，提高了环境和光学元件表面的洁净度，同时，整套系统运载能力强，稳定可靠，装配效率高。
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公开(公告)号：CN104483098B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201410672266.0
申请日：2014-11-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明公开了一种晶体匹配角离线测量误差实时修正方法，应用激光自准直仪监测晶体匹配角测量过程中入射激光漂移角度，若激光漂移角度大于预设阈值0.4″则舍去该角漂过大的测量数据，应用自准直仪监测晶体测量过程中待测晶体发生的旋转角度偏差，将其中保留的旋转角度偏差代入进匹配角计算中。其显著效果是：通过自准直仪对测量过程中光路基准偏移和光学角漂进行实时修正，并在晶体匹配角测量过程中的对动态误差进行了修正，改变了过去只针对基准的静态误差修正情况，保证了晶体匹配角测量的精确性，可以最大程度消除大口径晶体离线测量系统中的动态测量误差。
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公开(公告)号：CN105729493A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201610243104.4
申请日：2016-04-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B25J15/06
CPC classification number: B25J15/0616
Abstract: 本发明公开了一种用于光学元件的真空吸附抓取机构及其控制方法，包括机械手臂，所述机械手臂通过机械手法兰盘连接于固定盘上表面；在固定盘的下表面上沿边缘线均匀分布有多个朝下的真空吸盘，用于吸附待抓取的光学元件；所述固定盘的四周侧壁固接有至少两个平移气缸；该平移气缸呈纵向设置，在每个平移气缸的活塞杆上均连接有一个夹紧气缸，夹紧气缸的活塞杆呈水平设置并朝向光学元件侧面，平移气缸驱动夹紧气缸纵向运动，通过所述夹紧气缸侧向夹持所述光学元件；所述机械手臂、真空吸盘、平移气缸以及夹紧气缸均连接在控制装置上。本发明能够牢固地抓住光学元件并将其逐步稳妥地装入光学元件的安装框中，快速方便，不会损坏光学元件。
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公开(公告)号：CN104501742A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201410672006.3
申请日：2014-11-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明公开了一种基于单色光自准直仪二次准直原理的劈角测量方法，首先利用单色光自准直仪对待测劈板前表面进行自准直，测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角；然后利用单色光自准直仪对待测劈板后表面进行自准直，测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角；最后基于反射、折射定律，得出劈板劈角计算公式并将两次测量结果联立二元一次方程组，解出劈板劈角。其显著效果是：本发明基于光学自准直、折射、反射定律的基本光学原理，测量精度高，成本低，操作简单，具有很高的通用性与实用性；通过本方法不仅能准确测出待测劈板劈角，还能测出待测劈板材料对于自准直仪光源的折射率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114799842B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202210379212.X
申请日：2022-04-12
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: B23P19/06
Abstract: 本发明公开了一种光机模块组合式装配系统，包括沿传送平台输送方向设置的第一末端工具和第二末端工具，第一末端工具和第二末端工具均通过二维桁架悬置在传送平台上方，二维桁架用于带动对应的末端工具在水平面内移动；第一末端工具包括基板，基板下侧转动安装有两根平行设置的丝杆，丝杆上均螺纹套装有两组夹持块，基板上设有用于驱动丝杆转动的第二驱动机构，夹持块与基板滑动配合。第二末端工具用于抓取光机模块在空间内移动，传送平台在靠近第二末端工具的位置设有六轴机械臂，六轴机械臂上设有螺钉自动安装装置。本发明的有益效果是：能够实现高能固体激光器中各个光机模块的自动化组装。
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公开(公告)号：CN107037558B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN201710367052.6
申请日：2017-05-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明公开了一种大径厚比光学元件的支撑系统和方法，该方法采用四个支撑点替代了常规的巨大环形支撑面对光学元件进行支撑，有效的利用了光学元件自身的重力来降低重力对光学元件面型的影响，在理论上实现了完全的自相互补偿。所提出的方法大大的降低的对于光学元件支撑表面的加工精度要求，减少了制造成本，提高了光学元件支撑系统工程实施过程的效率。支撑系统采用弧形面与平面之间的点接触对作为光学元件支撑模块的传递环节，能够自适应的将顶壳的上支撑表面调整到与光学元件下表面完全接触的状态，能够有效的减少支撑过程中对光学元件产生的局部应力集中，提高光学元件的面型精度。
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公开(公告)号：CN106873114B
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN201710038973.8
申请日：2017-01-19
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明公开了一种大口径KDP晶体自适应夹持装置，包括正对设置的底框和压框，底框的三个棱边上各设有一个夹持铜头，该夹持铜头包括夹持圆台和支撑杆，支撑杆上套设有压簧并嵌入底框上对应的安装孔中；压框上设有压紧铜头，该压紧铜头包括压紧圆台和调整螺杆，所述压紧圆台与夹持圆台正对，调整螺杆与压紧圆台之间通过连接块连接，该连接块通过轴承与压紧圆台可转动地连接，所述连接块与调整螺杆之间为万向铰接结构。本发明能够可靠保护KDP晶体元件，避免对晶体元件造成损伤，夹持铜头和压紧铜头均采用了自找平设计，元件夹持时，不需要过于复杂的调试过程，大大提高了工作效率，对底框及压框的加工精度要求相对较低，有助于降低生产成本。
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公开(公告)号：CN115657330A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211379235.7
申请日：2022-11-04
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种用于阵列激光同轴调试方法，其过程为：在阵列激光输出装置前方设置主自准直仪，该主自准直仪位于设计的激光合束输出方向上，调节以使该主自准直仪的光轴与阵列激光输出装置的第一台激光器出射光束平行；接着在阵列激光输出装置与主自准直仪之间设置反射镜组，调节两块反射镜以使其相互平行且二者间距为设定值；在反射镜组与主自准直仪之间设置路线观测组件和功率检测组件；首先开启第一台激光器，调节反射镜组以使出射光束与主自准直仪的光轴同轴；然后逐个开启其余激光器，先调节其位置使其光束与第一台激光器光束空间同轴，再调节使光束相干，依次完成合束。本方法能够精确调整各个装置的位置关系，实现高精度合束。
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公开(公告)号：CN115574716A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211180010.9
申请日：2022-09-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/00
Abstract: 本申请属于测量与制造技术领域，公开了一种基于光学检测的结构件对接用位姿测量系统，包括平行设置的两导轨和测量用基准板，导轨上滑动设置有光学平台，光学平台前后两端设置第一调整架和第二调整架，第一调整架和第二调整架上分别设置第一、第二内调焦望远镜，第一、第二内调焦望远镜与测量系统连接，第一调整架、第二调整架在光学平台进行上、下、左、右位移以及偏摆、俯仰动作，测量用基准板用于与基准结构件、待对接结构件连接，其前后两端分别设置有第一、二测量十字标。通过内调焦望远镜对焦测量用基准板上的第一、二测量十字标，分别对基准结构件和待对接结构件精准定位，实现基准结构件和待对接结构件高精度对接，提高产品组装质量。
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