直线电机的推力检测方法及检测系统

    公开(公告)号:CN103926031A

    公开(公告)日:2014-07-16

    申请号:CN201410167899.6

    申请日:2014-04-24

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明涉及电机检测技术领域,公开了一种直线电机的推力检测方法,利用气浮装置使待测直线电机的定子悬浮;利用气浮导轨使待测直线电机的动子悬浮;启动待测直线电机,使用力传感器检测直线电机定子所受的推力,进而测得直线电机电磁推力。本检测方法将动子和定子悬浮,检测定子所受的推力大小确定电机推力,较检测动子推力大小更为精确。本发明还提供一种适用于直线电机的推力检测方法的直线电机的推力检测系统。

    一种五轴运动平台的运动学参数辨识方法和系统

    公开(公告)号:CN114332239B

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202111581031.7

    申请日:2021-12-22

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本申请公开了一种五轴运动平台的运动学参数辨识方法和系统,该方法包括:获取对位于不同空间位置的标定板进行拍照得到的多张照片;使用所述多张照片对所述相机的内部参数进行标定;建立起执行坐标系与工作台坐标系之间的其次坐标关系,其中,所述执行坐标系为固定在所述第一轴上的相机坐标系,所述工作台坐标系为在所述第二轴上的标定板坐标系;根据标定内部参数之后的相机在不同位置拍摄的多张照片对所述其次坐标关系中的其次坐标位姿矩阵进行求解,辨识出所述五轴运动平台的运动学参数。通过本申请解决了现有技术中五轴运动平台运动学标定方法效率低成本高的问题,从而提高了五轴运动平台运动学标定的效率,并降低了成本。

    一种电机柔性机构的设计方法、系统及磁阻电机

    公开(公告)号:CN118520749B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410987551.5

    申请日:2024-07-23

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明公开了一种电机柔性机构的设计方法、系统及磁阻电机,电机柔性机构的设计方法包括如下步骤:建立电机的机械结构的三维模型及材料信息,并通过所述三维模型和材料信息得到所述电机的有限元模型,并计算得到电机在行程范围内的磁势能曲线;建立电机动子在行程内不同位置的势能模型;建立优化算法的目标函数;建立所述柔性机构的设计参数与弹性势能的梯度数学模型;建立磁势能的梯度数学模型;利用优化算法得到最优个体,取最优个体的所述设计参数为最优设计参数。本发明利用优化算法得到优化参数后的柔性机构,利用柔性机构的变形存储和释放弹性势能,从而保证在抵消负刚度的情况下,不削弱磁阻电机的推力密度和推力效率。

    一种基于数字图像特征的复杂背景电力线提取方法

    公开(公告)号:CN111739042B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202010499513.7

    申请日:2020-06-04

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于数字图像特征的复杂背景电力线提取方法,包括:针对待处理的电力线图像进行处理,获取去除背景的电力线灰度图像矩阵;根据预先获取的待处理的电力线图像中电力线的呈向,按照列或行依次提取去除背景的电力线灰度图矩阵中像素点的像素值,并对像素值进行平滑处理,获取每一列或每一行像素值所对应的像素值曲线和所述像素值曲线中波峰点的位置以及与所述波峰点的位置所对应的波宽、峰值;根据所述每一列或每一行像素值曲线的所有波峰点的位置以及与所述波峰点的位置所对应的波宽、峰值和第一阈值和第二阈值,确定电力线。没有大量样本训练的情况下对电力线进行提取,减少电力线提取的时间,提高复杂背景下电力线提取的效率。

    用于光电子器件封装的单边直线电机驱动的共面运动装置

    公开(公告)号:CN113691098B

    公开(公告)日:2023-01-24

    申请号:CN202110907974.8

    申请日:2021-08-09

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明公开了一种用于光电子器件封装的单边直线电机驱动的共面运动装置,通过将两个垂直方向的第一运动模块和第二运动模块设计在同一底座,并且每个运动模块从上到下形成一个整体并独立于另一个运动模块,不仅能实现动平台在不同方向的运动互不干扰,还可以保证动平台具有更高的精度,实现更高的负载,而且装置整体结构简单紧凑,便于加工和装配。

    一种适用于光通信器件封装的运动平台

    公开(公告)号:CN111761552B

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202010610950.1

    申请日:2020-06-30

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明公开了一种适用于光通信器件封装的运动平台,所述适用于光通信器件封装的运动平台包括基座、载物台、可移动地设置在所述基座上的十字台、具有中孔的框架台、分别沿x方向导向的一对第一导轨机构和分别沿y方向导向的一对第二导轨机构,十字台包括彼此垂直交叉设置的上板和下板,上板位于所述中孔上方,所述下板位于所述中孔下方,且十字台始终不与所述框架台接触,所述框架台的两端下方分别连接所述一对第一导轨机构,所述下板的两端下方分别连接所述一对第二导轨机构。该适用于光通信器件封装的运动平台旨在解决现有技术中光通信器件相关平面运动平台效率和精度差、空间利用率差的技术问题。

    一种用于光栅精密测量的结构光条纹校正方法

    公开(公告)号:CN114739321A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210514853.1

    申请日:2022-05-12

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本申请公开了一种用于光栅精密测量的结构光条纹校正方法,该方法包括:使用相机对投影仪投射的图像进行拍摄,得到相机拍摄图像;获取相机拍摄图像和投影仪烧录图像中的多对对应角点的坐标;根据多对对应角点的坐标求解方程得到位姿转换矩阵;根据位姿转换矩阵对结构光条纹进行位姿矫正;使用相机对投影仪投射到参考面上的空白图案进行拍摄得到空白图案A0;根据空白图案A0的灰度数据,确定结构光条纹的强度在参考面上的衰减程度;根据衰减程度对结构光条纹的强度进行补偿。通过本申请解决了现有技术中的用于光栅精密测量的结构光条纹校正方法所存在的不足,从而提高了光栅精密测量系统的精度。

    一种五轴运动平台的运动学参数辨识方法和系统

    公开(公告)号:CN114332239A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202111581031.7

    申请日:2021-12-22

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本申请公开了一种五轴运动平台的运动学参数辨识方法和系统,该方法包括:获取对位于不同空间位置的标定板进行拍照得到的多张照片;使用所述多张照片对所述相机的内部参数进行标定;建立起执行坐标系与工作台坐标系之间的其次坐标关系,其中,所述执行坐标系为固定在所述第一轴上的相机坐标系,所述工作台坐标系为在所述第二轴上的标定板坐标系;根据标定内部参数之后的相机在不同位置拍摄的多张照片对所述其次坐标关系中的其次坐标位姿矩阵进行求解,辨识出所述五轴运动平台的运动学参数。通过本申请解决了现有技术中五轴运动平台运动学标定方法效率低成本高的问题,从而提高了五轴运动平台运动学标定的效率,并降低了成本。

    FAC自动耦合封装方法
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113794101A

    公开(公告)日:2021-12-14

    申请号:CN202111088817.5

    申请日:2021-09-16

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明提供了一种FAC自动耦合封装方法,包括如下步骤:通过俯视相机获取透镜在料盘中的位置信息;根据获取到的透镜在料盘中的位置信息,从前后两侧夹取透镜并移送至中转台;通过水平相机和俯视相机获取透镜在中转台上的位置信息;根据获取到的透镜在中转台上的位置信息,从上下两侧夹取透镜并移送至激光器芯片处进行耦合;通过光斑检测透镜与激光器芯片是否完成耦合;耦合成功后,对激光器芯片与透镜的耦合处点胶,令激光器芯片与透镜通过胶体固化完成封装。本发明通过透镜的中转二次夹取,精确定位透镜的位置与姿态从而提高夹持精度以及耦合精度,有效提高了耦合成功率与效率。

    硅光芯片自动耦合测试设备及方法

    公开(公告)号:CN113702004A

    公开(公告)日:2021-11-26

    申请号:CN202111006781.1

    申请日:2021-08-30

    Applicant: 中南大学

    Abstract: 本发明提供了一种硅光芯片自动耦合测试设备,包括:光纤入射组件,所述光纤入射组件夹持有入射光纤,所述入射光纤连通光源,所述光纤入射组件用于调整所述入射光纤的位置和角度,将所述入射光纤与硅光芯片的光栅入口进行耦合;光纤出射组件,所述光纤出射组件夹持有出射光纤,所述出射光纤连通检测器件,所述光纤出射组件用于调整所述出射光纤的位置和角度,将所述出射光纤与硅光芯片的光栅出口进行耦合;视觉检测组件,所述视觉检测组件用于检测所述入射光纤和出射光纤的位置和角度;精确测距组件,所述精确测距组件用于精确检测各组件到硅光芯片的距离;载物组件,所述载物组件用于装载硅光芯片。本发明提供了一种硅光芯片自动耦合测试方法。

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