一种隐形眼镜参数测量装置及方法

    公开(公告)号:CN113483679A

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202110762599.2

    申请日:2021-07-06

    Inventor: 王毅 张傲 马振鹤

    Abstract: 本发明涉及一种隐形眼镜参数测量装置及方法,包括低相干光源,通过光纤依次连接第一分光元件和准直器,准直器另一侧依次放置第二分光元件、第二透镜、反射镜;第一分光元件的另一个输出端通过光纤与光谱仪连接,光谱仪与计算机电连接;第二分光元件另一个输出端一侧设置有X‑Y振镜,X‑Y振镜另一侧依次设置第一透镜、样品台;低相干光源发出的光进入第一分光元件,从第一分光元件的一端输出的光经准直器变成平行光,第二分光元件将平行光分为参考光和样品光,样品台的表面与样品光垂直。本发明实现了在一台装置上进行隐形眼镜的中心厚度、含水量和曲率半径参数的测量,避免对样品损伤、节省检测时间、减少主观误差。

    一种磁动式光学相干层析成像的降噪装置

    公开(公告)号:CN110186873B

    公开(公告)日:2021-09-24

    申请号:CN201910553244.5

    申请日:2019-06-25

    Abstract: 本发明公开了一种磁动式光学相干层析成像的降噪装置,该装置包括顶盖、圆筒和角度调节底座,顶盖的上端面镶嵌有光学平晶,顶盖与圆筒通过内螺纹与外螺纹的配合实现螺纹传动连接;角度调节底座包括面板和底板,面板与底板的一端通过合页结构连接,另一端通过启盖螺钉连接,圆筒固定连接在面板上,拧动启盖螺钉,面板带动圆筒绕合页结构的转轴转动;圆筒内设置有可移动的样品放置台。本发明提供的磁动式光学相干层析成像的降噪装置,结构简单,调节方便,参考光与样品光共用一个光学路径,减小了扫描振镜对样品光与参考光之间光程差的影响,有效抑制磁场调制噪声,在确保高扫描速度条件下,提高了成像质量。

    一种测量薄膜厚度与折射率的装置及方法

    公开(公告)号:CN113175887A

    公开(公告)日:2021-07-27

    申请号:CN202110536390.4

    申请日:2021-05-17

    Abstract: 本发明提供了一种测量薄膜厚度与折射率的装置和方法,属于光学测量领域。本发明装置包括低相干光源、分光组件、反射镜、样品槽、光谱仪和信号处理单元,从低相干光源发出的光进入分光组件,经分光组件将光分为参考光和样品光。参考光照射在反射镜上;样品光垂直于样品槽侧面射入样品槽。经反射镜反射的参考光,以及经样品槽和待测样品反射的样品光反射进入分光组件,并输出进入光谱仪。结合傅里叶变换的频率和相位进行解调,分别测量样品槽空置、放置样品后的光程,对于薄薄膜,还在样品槽倒入折射率已知液体进行光程测量。本发明基于相敏光学相干层析的测量方法,具有纳米级精度、操作简单、可适用于各种状态薄膜的优点。

    双扫描线光学相干层析的流速横向分量测量系统及方法

    公开(公告)号:CN110192852B

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN201910524581.1

    申请日:2019-06-18

    Applicant: 东北大学

    Abstract: 本发明提供了双扫描线光学相干层析的流速横向分量测量系统及方法,所述测量系统包括短相干光源、环形器、光纤耦合器、参考臂系统、光谱仪、样品臂系统和计算机。本发明通过两束探测光以不同角度进入扫描系统,形成具有一定间隔的平行双扫描线;使用双探测光同时连续扫描待测样品的两个横断面,得到待测样品两个扫描面上各点背向散射光强随时间变化的信号;再由这两个扫描面的光强信号通过互相关算法计算粒子流流速横向分量。本发明可以保证穿过第一扫描横断面的粒子,在穿过第二扫描横断面时,能被第二个探测光检测到,从而使在这两个扫描横断面采集的信号具有相关性。

    一种非接触光声成像装置及方法

    公开(公告)号:CN110243763B

    公开(公告)日:2020-08-25

    申请号:CN201910587193.8

    申请日:2019-07-02

    Applicant: 东北大学

    Abstract: 本发明提供了一种非接触光声成像装置及方法,属于光声成像技术领域。该光声成像装置包括探测光源、光纤隔离器、2×2光纤耦合器、光纤环形器、3×3光纤耦合器、准直器、透镜、反射镜、二向色镜、激光器、光电探测器、高通滤波器、数据采集卡和电脑。本发明探测原位声压,利用高通滤波器及3×3光纤耦合器解调光声信号,提高系统灵敏度和稳定性;本发明解决了使用水层对实际应用的限制,实现了完全非接触光声成像。

    一种角膜测量方法及系统
    27.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108634928B

    公开(公告)日:2020-08-11

    申请号:CN201810367783.5

    申请日:2018-04-23

    Abstract: 本发明公开了一种角膜测量方法及系统,所述方法包括:首先,采用光学相干层析法测量获得角膜前表面到后表面的光程L0;移动聚焦透镜,当探测光的焦点位于角膜前后表面时,信号强度为极大值,获得当探测光的焦点位于角膜前后表面时,聚焦透镜所处的对应的两个位置的间距L1;其次,利用光线追迹技术获得角膜的折射率和角膜厚度。本发明实现了非接触的在体角膜折射率及角膜厚度的准确测量,可以作为人眼进行屈光手术的参考,为眼睛参数计算提供可靠依据,从而使得人眼在术后获得更为理想的屈光效果。

    一种眼科光学参数测量系统

    公开(公告)号:CN108784644A

    公开(公告)日:2018-11-13

    申请号:CN201810762532.7

    申请日:2018-07-12

    CPC classification number: A61B3/102 A61B3/1225 A61B3/14

    Abstract: 本发明公开了一种眼科光学参数测量系统。该系统包括:扫频光源、眼前节成像系统、眼后节成像系统和采集模块,扫描光源发出的光分为四束,第一束光经过眼前节成像系统的眼前节样品臂组件后聚焦于眼角膜,经眼角膜后向散射后返回所述眼前节样品臂组件,并与第二束光经过眼前节参考臂模块后返回的光发生干涉,第三束光经过眼后节成像系统的眼后节样品臂组件后聚焦于视网膜,经视网膜后向散射后返回所述眼后节样品臂组件,并与第四束光经过眼后节参考臂模块后返回的光发生干涉,眼前节干涉光和眼后节干涉光光电转换后经加法器叠加进入采集模块成像。本发明提供的眼科光学参数测量系统具有高分辨率、测量准确、结构简单、采集效率高的特点。

    一种角膜测量方法及系统
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108634928A

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201810367783.5

    申请日:2018-04-23

    Abstract: 本发明公开了一种角膜测量方法及系统,所述方法包括:首先,采用光学相干层析法测量获得角膜前表面到后表面的光程L0;移动聚焦透镜,当探测光的焦点位于角膜前后表面时,信号强度为极大值,获得当探测光的焦点位于角膜前后表面时,聚焦透镜所处的对应的两个位置的间距L1;其次,利用光线追迹技术获得角膜的折射率和角膜厚度。本发明实现了非接触的在体角膜折射率及角膜厚度的准确测量,可以作为人眼进行屈光手术的参考,为眼睛参数计算提供可靠依据,从而使得人眼在术后获得更为理想的屈光效果。

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