公开(公告)号：CN221223684U

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN202323260504.0

申请日：2023-11-30

Applicant: 上海市计量测试技术研究院(中国上海测试中心、华东国家计量测试中心、上海市计量器具强制检定中心) ,  上海计测信息科技有限公司

Inventor： 吴俊杰 ,  魏佳斯 ,  蔡潇雨 ,  李源 ,  孙恺欣 ,  周勇

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/24 ,  G01B11/02

Abstract: 本实用新型提供一种基于探针干涉的三维微接触测头，包括探测组件、悬挂组件和传感单元，探测组件的下端形成测球，测球用于与样品表面相接触；悬挂组件将探测组件悬挂在空中；测球不受外力时，悬挂组件使探测组件的水平基准面保持水平；测球受外力时，悬挂组件限制探测组件只能沿中心轴线的方向上下移动或以转动中心为中心转动。上述三维微接触测头，可实现兼顾高精度、高动态特性的三维传感测量；通过优化设计，可实现三轴分辨力及刚度各向同性；传感单元和探测组件的分离式设计，使测头具备探测组件的互换性，可根据被测对象灵活更换具有不同尺寸和型号的测针的探测单元。

公开(公告)号：CN220398407U

公开(公告)日：2024-01-26

申请号：CN202321259010.8

申请日：2023-05-23

Applicant: 上海市计量测试技术研究院 ,  上海计测信息科技有限公司

Inventor： 吴俊杰 ,  蔡潇雨 ,  魏佳斯 ,  李源 ,  周勇 ,  孙恺欣

IPC: G01B5/02

Abstract: 本实用新型涉及一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置，通过采用两台共聚焦显微镜直接定位量块的两个测量面，实现量块长度的测量，无需借助辅助面，避免了采用其他原理单方向测量时存在的量块与辅助面研合间隙造成的测量误差，结果更为准确可靠。本实用新型涉及的一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置采用两台共聚焦显微镜对顶测量的方式，通过定位量块两个测量面实现测量，无需进行全范围扫描，仅需在量块的测量面附近进行慢速扫描，其余位置均可快速移动，在测量长度较长的量块时，可有效提升测量效率。

公开(公告)号：CN217819686U

公开(公告)日：2022-11-15

申请号：CN202222130615.9

申请日：2022-08-12

Applicant: 上海市计量测试技术研究院

Inventor： 于志强 ,  何万清 ,  龚辰 ,  周勇 ,  张瀚云

IPC: G01N3/02 ,  G01N3/04 ,  G01N3/08

Abstract: 本实用新型属于电子产品检测技术领域，尤其是涉及一种电子产品可靠性检测装置，包括检测箱和压力传感器，所述检测箱的前端左右两侧均设有导向杆，导向杆的外侧安装有防护板，所述防护板的后方位于检测箱的内部安装有压力传感器，所述压力传感器的左右两侧均设有提升机构。本实用新型将智能手机等电子产品夹持安装于产品承载机构上，随后旋转螺纹杆控制挤压板下移，当挤压板带动固定杆下移远离推动杆的顶部时，在涡卷弹簧的作用下，可使推动杆自动向上转动，此时利用其前端内部的导向槽能够挤压固定架，使固定架带动防护板沿着导向杆向上稳定自动升起，能够在对产品进行施力挤压检测的过程中起到防护效果，避免玻璃碎片飞溅。

公开(公告)号：CN210922540U

公开(公告)日：2020-07-03

申请号：CN201921943497.5

申请日：2019-11-12

Applicant: 上海市计量测试技术研究院

Inventor： 吴俊杰 ,  李源 ,  王阳 ,  傅云霞 ,  蔡潇雨 ,  魏佳斯 ,  周勇 ,  孙恺欣

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/00

Abstract: 本实用新型涉及一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置，在利用本实用新型的一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置对样品表面参数进行测量时，开启激光光源并对X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器进行校正之后，将测端球沿被测样品的表面接触扫描；测端球通过测针以及中心连接部带动四棱锥反射镜产生位置变化，从而使得四棱锥反射镜的三个反射面反射至X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器上的光斑产生偏移量；根据光斑所产生的偏移量可以得出测端球与样品表面接触点的X轴方向、Y轴方向、Z轴方向的坐标参数。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利