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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119743328A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202510139261.X
申请日：2025-02-08
Applicant: 鹏城实验室
Abstract: 本申请实施例提供一种漏洞扫描方法、装置、存储介质及计算机设备，通过获取流图描述，所述流图描述为对概念验证库中的多个概念验证的概念验证名称按照流图规则进行编译得到；将所述流图描述转换为语法树，所述语法树包括每个所述概念验证的概念验证名称，以及每个所述概念验证之间的执行规则；按照所述语法树中的执行规则调用每个所述概念验证进行漏洞扫描，得到扫描结果，通过流图描述，将多个POC的组合逻辑以流图规则的抽象方式表示出来，从而使计算机设备将流图描述转换为语法树，以树状形式直观地呈现了POC之间的执行规则，从而依次调用每个POC进行漏洞扫描，避免对存储于POC库中的POC进行重新编译，提高POC复用性以及漏洞扫描效率。
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公开(公告)号：CN119676059A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202510180754.8
申请日：2025-02-19
Applicant: 鹏城实验室
IPC: H04L41/0631 , H04L41/0677 , H04L41/0853 , H04L41/0866 , H04L41/12
Abstract: 本申请实施例提供了一种面向C2F场景下的故障检测方法、装置、设备及介质，属于工业报文处理技术领域。该方法包括：基于拓扑信息确定目标工业系统中各设备节点之间形成的目标链路，选定任一目标链路下正常工作的设备节点为参考节点，并确定目标链路下的其他设备节点为待检测节点；以参考节点的参考报文信息为基础，基于各个待检测节点相应的功能信息，沿着目标链路确定目标检测节点在正常工作状态下期望输出的期望报文信息，其中，目标检测节点是从多个待检测节点中任意选取一个得到的；并将目标检测节点实际输出的实际报文信息、与期望报文信息进行比较，确定目标工业系统的目标故障检测结果。本申请能够提高工业系统的故障检测准确性和实时性。
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公开(公告)号：CN113312226B
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202110694728.9
申请日：2021-06-22
Applicant: 鹏城实验室
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开了一种测试逻辑设计异常特性的验证平台，包括：异常激励生成器，用于生成随机异常测试激励，获取随机异常测试激励的激励特征，并将激励特征发送至配置生成器；配置生成器，用于获取与激励特征对应的第一配置信息与第二配置信息，以及将第一配置信息发送至参考模型，将第二配置信息发送至比较器。本发明还公开了一种测试逻辑设计异常特性的验证装置以及存储介质。本发明通过不同异常测试激励生成的配置信息对参考模型以及比较器的功能进行动态配置，使得验证平台可适应不同异常特性的验证，从而可支持异常特性的随机激励测试，无需针对不同异常特性单独开发定向测试用例，提高了异常特性的验证效率和质量。
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公开(公告)号：CN113485882A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202110827775.6
申请日：2021-07-21
Applicant: 鹏城实验室
Abstract: 本发明公开了一种芯片验证方法、装置和计算机可读存储介质，通过在接收到验证指令后，对待验证模块的环境参数进行初始化；根据脚本从预设目录中解析并提取第一电子表单中的配置信息，并根据所述配置信息进行验证，获得对应的验证结果；将所述验证结果映射预设第二电子表单，以判断验证是否通过。本发明能够实现全自动化验证。
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公开(公告)号：CN113407393A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110575993.5
申请日：2021-05-25
Applicant: 鹏城实验室
IPC: G06F11/22
Abstract: 本发明公开一种芯片验证方法，用于终端设备，方法包括以下步骤：基于目标验证计划，创建目标测试用例；将目标测试用例发送到现场可编程逻辑门阵列FPGA测试装置，以使FPGA测试装置利用目标测试用例，对FPGA测试装置中的待测试芯片进行测试，以获得测试数据；从FPGA测试装置获取测试数据；将测试数据发送至验证平台，以使验证平台，基于测试数据，获得待测试芯片的功能覆盖率；基于接收到的验证平台返回的功能覆盖率，获得待测试芯片的验证结果。本发明还公开一种终端设备、验证平台以及计算机可读存储介质。利用本发明的芯片验证方法，达到了提高芯片验证效率的技术效果。
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