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公开(公告)号：CN107689793B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201710653717.X
申请日：2017-08-03
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Abstract: 本发明涉及在SAR ADC中产生共模补偿电压的系统和方法。在SAR ADC的操作期间，可以通过呈现超过可接受的输入电压的限制范围的比较器输入处的电压来超过比较器的电压限制。本公开提供系统和方法例如用于递送共模补偿电压，使得在所述比较器输入处呈现的电压可以在可接受的输入电压的限制范围内。
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公开(公告)号：CN107046422B
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN201710068692.7
申请日：2017-02-08
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Abstract: 本发明公开模数转换器中减少偏移的技术。在一个例子中，逐次逼近寄存器模数转换器包括开关电容数模转换器(DAC)第一阵列，以采样输入信号并将输入信号的样本转换成由多个比特表示的数字值，所述第一阵列包括表示至少一些所述多个位的第一组电容器，开关电容器DAC第二阵列包括表示至少一些所述多个位的第二组电容器，其中，由第二组电容器表示的多个位的至少一个由至少两个电容器表示，并且其中所述两个电容器中的每一个被配置为誓选择性地连接到至少两个基准电位中选定的一个，使得由第二组电容器表示的至少一个比特在至少三个状态之间可切换。
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公开(公告)号：CN105720979B
公开(公告)日：2021-01-19
申请号：CN201510939899.8
申请日：2015-12-16
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/10
Abstract: 本申请涉及具有片内储能电容的SAR ADC的校准技术。当储能电容移动芯片上用于单个位决定时，逐次逼近寄存器模数转换器(SAR ADC)具有附加的误差源，其可以显著影响SAR ADC的性能。校准技术可适用于使用决定和设置切换测量和校正SAR ADC中的这些误差。具体而言，校准技术可以使用多个专用输入电压和存储测试下的每一位的校准字而暴露测试的每一位的有效位权重，以校正误差。这种校准技术可减少需要存储每个可能的输出字的校准字，以纠正附加的误差源。此外，另一校准技术可以暴露测试下每位的有效位加权，而不生成多个特殊输入电压。
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公开(公告)号：CN110365340A
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201910229737.3
申请日：2019-03-26
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/46
Abstract: 本公开涉及一种执行模数转换的方法。一种使用逐次逼近(SAR)模数转换器(ADC)执行模数转换的方法。基于先前数字输出的第一M位将先前数字输出与范围进行比较。如果先前数字输出在该范围内，在开始位试验之前，使用先前数字输出的第一M位预加载SAR ADC的数模转换器(DAC)。如果先前数字输出在该范围外，在执行位试验之前，将偏移施加到先前数字输出的第一M位并且基于M位和偏移预加载DAC。该方法降低下一个输入超出预加载限定的另一范围的可能性。
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公开(公告)号：CN107689793A
公开(公告)日：2018-02-13
申请号：CN201710653717.X
申请日：2017-08-03
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
CPC classification number: H03M1/466 , H03M1/1295 , H03M1/0607 , H03M1/468
Abstract: 本发明涉及在SAR ADC中产生共模补偿电压的系统和方法。在SAR ADC的操作期间，可以通过呈现超过可接受的输入电压的限制范围的比较器输入处的电压来超过比较器的电压限制。本公开提供系统和方法例如用于递送共模补偿电压，使得在所述比较器输入处呈现的电压可以在可接受的输入电压的限制范围内。
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