-
公开(公告)号：CN102656478B
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201080057215.7
申请日：2010-11-18
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T7/00
CPC classification number: G01T7/005
Abstract: 一种成像系统（100）的探测器瓦片（116）包括光传感器阵列（204）；以及电耦合至所述光传感器阵列（204）的电子装置（208），其中所述电子装置包括剂量确定器（402），所述剂量确定器确定所述探测器瓦片（116）的沉积剂量以及产生指示所述沉积剂量的信号。在一个非限制性的示例中，该信号用于校正诸如增益和热系数的、可能随着辐射剂量变化的参数。
-
公开(公告)号：CN102448376A
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN201080022949.1
申请日：2010-04-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/4452 , G01T1/1644 , G01T1/2985
Abstract: 一种成像系统(100)包括辐射源(108)和探测系统(114)，辐射源(108)发射贯穿检查区域(106)的辐射，探测系统(114)探测贯穿检查区域(106)的辐射并生成指示所述辐射的信号。探测系统(114)包括第一探测器阵列(1141-114N)和第二探测器阵列(1141-114N)。第一和第二探测器阵列(1141-114N)是分离独立的探测器阵列，探测器阵列(1141-114N)的至少一个能够相对于辐射射束移动。重建器(116)重建所述信号并生成指示所述信号的体图像数据。
-
公开(公告)号：CN101374464A
公开(公告)日：2009-02-25
申请号：CN200780003190.0
申请日：2007-01-04
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 一种电离辐射探测器模块(22)，包括探测器阵列(200)、存储器(202)、信号处理电子器件(208)、通信接口(210)以及连接器(212)。存储器包含探测器性能参数(204)和探测器校正算法(206)。信号处理电子器件(208)根据探测器校正算法(206)使用探测器性能参数(204)校正来自探测器阵列(200)的信号。
-
公开(公告)号：CN1735818A
公开(公告)日：2006-02-15
申请号：CN200380108336.X
申请日：2003-12-17
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2018 , G01T1/2985
Abstract: 一种辐射探测器模块，包括闪烁体(62、62’、162、262)，其设置成接收计算机断层摄影设备(10)的透过的辐射。该闪烁体产生与透过的辐射相对应的光学辐射。探测器阵列(66、66’、166、266)设置成将所述光学信号转变成电信号。电子装置(72、72’、172、272)设置透射辐射的路径中、与闪烁体相对的探测器一侧上。辐射挡板(86、86’、100、100’、100”、186、210、210’、286、286’)设置在探测器阵列和电子装置之间，以吸收通过闪烁体的透过的辐射。辐射挡板包括连接在探测器阵列和电子装置之间的开口(90、90’)。电连接线(88、88’、102、102’、102”、188、212、212’、288、288’)通过辐射挡板开口并电连接探测器阵列和电子装置。
-
公开(公告)号：CN105044758B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN201510387113.6
申请日：2009-10-29
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Abstract: 一种包括光电二极管阵列(122)的一维多元件光电检测器(120)，所述光电二极管阵列(122)具有第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素。光电二极管阵列(122)是所述光电检测器(120)的一部分。闪烁器阵列(126)包括第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素。第一上部行闪烁器像素和第二下部行闪烁器像素分别与第一上部行光电二极管像素和第二下部行光电二极管像素光耦合。光电检测器(120)也包括读取电子装置(124)，所述读取电子装置也是所述光电检测器(120)的一部分。电迹线(512)将光电二极管像素与读取电子装置(124)互连。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101528135B
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200780040523.7
申请日：2007-10-16
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4028 , A61B6/032 , A61B6/035 , A61B6/4488
Abstract: 一种计算机断层成像方法包括使电子束在对x射线投影抽样的多个抽样周期内沿围绕检查区域(112)设置的阳极(104)旋转。使电子束在每一抽样间隔内进行扫掠，从而在每一抽样间隔内在不同的焦斑位置生成多个相继的焦斑，其中，在给定的抽样间隔内生成的焦斑包括在前一抽样间隔内生成的焦斑的子集。在每一抽样间隔内对从所述多个焦斑中的每者辐射的x射线投影进行抽样。重建所得到的数据，以生成体积图像数据。
-
公开(公告)号：CN1946343B
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN200580013264.X
申请日：2005-03-30
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4411 , A61B6/032 , A61B6/035 , A61B6/547 , A61B6/56 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01N2223/612
Abstract: 诊断成像系统(10)包括围绕旋转的机架(14)上的检查区域(20)而旋转的X射线源(16)。被放置在病床(30)上的对象纵向地平移通过检查区域(20)。成像系统是标准化的，使得通用子组件适配于接纳任何可选直径的开孔(24)。通用子组件包括固定的机架(12)和由支撑部件(50)所支撑的轴承圈(52)。标准电动机模块(28)、标准电源滑环模块(56)和标准信息传输模块(58)被布置在轴承圈(52)周围。标准模块(28，56，58)的数目由用户规定。
-
公开(公告)号：CN101528135A
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200780040523.7
申请日：2007-10-16
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/4028 , A61B6/032 , A61B6/035 , A61B6/4488
Abstract: 一种计算机断层成像方法包括使电子束在对x射线投影抽样的多个抽样周期内沿围绕检查区域(112)设置的阳极(104)旋转。使电子束在每一抽样间隔内进行扫掠，从而在每一抽样间隔内在不同的焦斑位置生成多个相继的焦斑，其中，在给定的抽样间隔内生成的焦斑包括在前一抽样间隔内生成的焦斑的子集。在每一抽样间隔内对从所述多个焦斑中的每者辐射的x射线投影进行抽样。重建所得到的数据，以生成体积图像数据。
-
公开(公告)号：CN100374878C
公开(公告)日：2008-03-12
申请号：CN200380108336.X
申请日：2003-12-17
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2018 , G01T1/2985
Abstract: 一种辐射探测器模块，包括闪烁体(62、62’、162、262)，其设置成接收计算机断层摄影设备(10)的透过的辐射。该闪烁体产生与透过的辐射相对应的光学辐射。探测器阵列(66、66’、166、266)设置成将所述光学信号转变成电信号。电子装置(72、72’、172、272)设置透射辐射的路径中、与闪烁体相对的探测器一侧上。辐射挡板(86、86’、100、100’、100”、186、210、210’、286、286’)设置在探测器阵列和电子装置之间，以吸收通过闪烁体的透过的辐射。辐射挡板包括连接在探测器阵列和电子装置之间的开口(90、90’)。电连接线(88、88’、102、102’、102”、188、212、212’、288、288’)通过辐射挡板开口并电连接探测器阵列和电子装置。
-
公开(公告)号：CN101080653A
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200580043358.1
申请日：2005-12-05
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/29
Abstract: X射线照相成像设备(10)，包括发射辐射束到检查区域(16)的第一辐射源(14)。探测器(18)将穿过检查区域(16)的所探测的辐射线转换成表示所探测的辐射的探测器电信号。探测器(18)具有至少一个在时间上变化的特性，如偏移B(t)或增益A(t)。栅极脉冲装置(64)以每秒1000到5000个脉冲的速率将第一辐射源(14)打开和关闭，这样在每秒1000到5000次之间至少重新测量偏移B(t)，并在探测器信号产生过程中多次修正。用第二脉冲装置(88)通过发脉冲给恒定强度(XRef)的第二受脉冲作用的源(86，100，138)来测量增益A(t)。在探测器信号产生过程中对增益A(t)每秒多次重新测量和修正。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
26
records
(took 0.023 seconds)
