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公开(公告)号:CN117877985A
公开(公告)日:2024-04-12
申请号:CN202311674582.7
申请日:2023-12-07
Applicant: 湖南大学
Abstract: 本发明提供一种控制范德华间隙的方法,所述方法包括以下步骤:步骤一,利用前驱溶液产生饱和蒸汽;步骤二,将第一材料置于饱和蒸汽中进行分子/离子吸附;步骤三,将第一材料与第二材料进行物理层压,形成范德华间隙,所述间隙大小由第一材料吸附时所处的饱和蒸汽控制。本发明利用材料在不同等级的饱和蒸汽下进行表面吸附的不同,结合后续的物理层压,形成了一系列尺寸和成分变化的范德华间隙,所述的范德华间隙能够形成在二维(2D)/2D材料,2D/三维(3D)材料,3D/3D材料和人工超晶格材料中,具有高度的普适性。
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公开(公告)号:CN113823697B
公开(公告)日:2024-01-30
申请号:CN202110883169.6
申请日:2021-08-02
Applicant: 湖南大学
IPC: H01L29/812 , H01L21/34
Abstract: 本发明公开了一种基于二维尺寸裁剪的肖特基栅场效应晶体管,包括衬底,在所述衬底上形成交叉设置的块状薄膜和纳米带,所述纳米带与所述块状薄膜采用同一种二维材料,在所述纳米带与所述块状薄膜相交处形成由同一材质构成的同质结,在所述纳米带以及所述块状薄膜的两端形成金属电极。本发明通过等离子体刻蚀对二维材料的物理尺寸进行裁剪,利用同质结形成的肖特基结构建了块状二硫化钼薄膜作为栅极、二硫化钼纳米带作为载流子传输层的肖特基栅场效应晶体管,性能优越,操作简单,可控性强。
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公开(公告)号:CN114784050B
公开(公告)日:2022-09-27
申请号:CN202210683525.4
申请日:2022-06-17
Applicant: 湖南大学
IPC: H01L27/30 , H01L27/28 , H01L29/778 , H01L51/42 , H01L51/48 , H01L21/335
Abstract: 本发明提供一种神经形态视觉传感器及其应用和制备方法,属于半导体技术领域,所述视觉传感器包括高k介质层、钙钛矿层和顶栅电极,所述钙钛矿层位于高k介质层之上、顶栅电极位于钙钛矿层之上,所述神经形态视觉传感器在紫外至可见光波段都具备正向/负向光电流响应。本发明通过在AlGaN/GaN异质结构中引入高k介质层/钙钛矿层作为栅介质,将AlGaN/GaN异质结构和钙钛矿优异的光电性质结合在一起,所提出的视觉传感器架构成功突破了AlGaN/GaN异质结构光电探测器单向光响应的限制,实现了有效地感知和存储紫外线‑可见光区域的光学信息。
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公开(公告)号:CN114784050A
公开(公告)日:2022-07-22
申请号:CN202210683525.4
申请日:2022-06-17
Applicant: 湖南大学
IPC: H01L27/30 , H01L27/28 , H01L29/778 , H01L51/42 , H01L51/48 , H01L21/335
Abstract: 本发明提供一种神经形态视觉传感器及其应用和制备方法,属于半导体技术领域,所述视觉传感器包括高k介质层、钙钛矿层和顶栅电极,所述钙钛矿层位于高k介质层之上、顶栅电极位于钙钛矿层之上,所述神经形态视觉传感器在紫外至可见光波段都具备正向/负向光电流响应。本发明通过在AlGaN/GaN异质结构中引入高k介质层/钙钛矿层作为栅介质,将AlGaN/GaN异质结构和钙钛矿优异的光电性质结合在一起,所提出的视觉传感器架构成功突破了AlGaN/GaN异质结构光电探测器单向光响应的限制,实现了有效地感知和存储紫外线‑可见光区域的光学信息。
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公开(公告)号:CN114759086A
公开(公告)日:2022-07-15
申请号:CN202210358434.3
申请日:2022-04-06
Applicant: 湖南大学
Abstract: 本发明提供了一种范德华间隙场效应晶体管,所述晶体管具有过饱和氧增大物理吸附界面,包括衬底,在所述衬底上形成半导体沟道层,栅极介电层位于所述半导体沟道层上方并与之交叠,所述栅极介电层通过将二硫化铪氧化成二氧化铪制成。本发明利用臭氧处理机的富氧环境对二维材料进行可控充分氧化,实现了过饱和氧增大物理吸附界面的范德华间隙场效应晶体管,制备简单,性能卓越,可控性强。
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公开(公告)号:CN217719613U
公开(公告)日:2022-11-01
申请号:CN202221625369.8
申请日:2022-06-27
Applicant: 湖南大学
IPC: H01L29/778 , H01L29/51 , H01L29/423
Abstract: 本实用新型提供一种GaN HEMT器件,所述器件包括GaN基底、位于所述GaN基底上两端的源电极和漏电极、高k介质层、位于高k介质层上的顶栅电极,所述器件还包括金属氧化物层,所述金属氧化物层位于所述高k介质层和所述GaN基底之间,所述金属氧化物层为Y2O3层。本实用新型采用以金属氧化物层作为缓冲层的方法成功实现在AlGaN表面上高k介质层的高质量沉积。本实用新型还可以通过在所述金属氧化物层和所述高k介质层之间添加NiOx层,有效调控AlGaN/GaN HEMT器件的阈值电压,得到高性能AlGaN/GaNHEMT器件。
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