氧化物(Na0.5Bi0.5)1-xMexTiO3稀磁铁电半导体陶瓷及其制备方法

    公开(公告)号:CN110877978B

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN201911336342.X

    申请日:2019-12-23

    Abstract: 本发明公开了一种氧化物(Na0.5Bi0.5)1‑xMexTiO3稀磁铁电半导体陶瓷及其制备方法,其组成通式为:(Na0.5Bi0.5)1‑xMexTiO3,其中0.02≤x≤0.1,Me为Ni、Co、Fe、Mn中的一种,该陶瓷的制备方法步骤为:1)按(1‑x)/2:(1‑x)/2:x:1的摩尔比例称取高纯度的Bi2O3:Na2CO3:MeO:TiO2粉体原料,以无水乙醇为介质置于行星球磨机中充分混合后取出干燥、研磨,再煅烧合成(Na0.5Bi0.5)1‑xMexTiO3粉体;2)将(Na0.5Bi0.5)1‑xMexTiO3粉体与质量浓度为5%的PVA溶液混合均匀,烘干,研磨成粉末,将粉末压制成陶瓷坯体;3)将陶瓷坯体高温烧结,即得到氧化物(Na0.5Bi0.5)1‑xMexTiO3稀磁铁电半导体陶瓷。该(Na0.5Bi0.5)1‑xMexTiO3稀磁铁电半导体陶瓷可用于制造光电器件、光传感器、光探测器、光伏器件和多功能电磁器件等领域中。

    一种局部滤波提高空间调制偏振成像频域解调速度的方法

    公开(公告)号:CN111982289A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010824905.6

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种局部滤波提高空间调制偏振成像频域解调速度的方法。其过程包括:A1,对中心波长为λ的入射光进行空间调制偏振成像,得到包含偏振信息的干涉图像;A2,对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置的坐标;A3,在进行频域中低通滤波处理前进行局部区域滤波数据组的生成;A4,在频域中对各Stokes矢量使用滤波数据组进行滤波解调出偏振分量。本发明可用于高像素偏振图像的解调,可广泛用于遥感偏振成像等领域。

    一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法

    公开(公告)号:CN111953968A

    公开(公告)日:2020-11-17

    申请号:CN202010825528.8

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法。其过程包括:A1,对中心波长为λ1的入射光进行空间调制偏振成像,得到包含偏振信息的干涉图像;A2,对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ1窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置的坐标;A3,通过入射光波长λ1与成像系统相关参数的关系可以计算出像元的平均长度;A4,分别计算出像元在行和列方向上的长度D1和D2;A5,通过D1和D2可以计算出成像相机整体在行和列上的长度,同时还能计算出像元的长宽比值,可以检测像元是否正确。本发明可用于相机像元尺寸的检测,可广泛用于成像设备制造检测等领域。

    一种光栅尺标定装置及标定方法

    公开(公告)号:CN108801158B

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201810939618.2

    申请日:2018-08-17

    Abstract: 本发明提供一种光栅尺标定装置,包括运动台和测量装置,运动台处于封闭的微环境区域内,测量装置设置于运动台上;测量装置包括承载台;承载台上设置有4个读头,每个读头分别处于一四边形的顶点处;在每个读头的上方设置有一平面光栅;承载台的相对的两侧面的外侧各设置有一个第二反射镜,由第二平面延伸形成第四反射镜,承载台的另外两相对的侧面的其中一个侧面的外侧设置有第一反射镜;测量装置还包括第一干涉仪、第二干涉仪和第三干涉仪,第二干涉仪与第三干涉仪与第二反射镜同侧设置,第一干涉仪与第一反射镜同侧设置;测量装置还包括两第三反射镜,第二干涉仪与第三干涉仪发出的光线的一部分经第四反射镜反射进入到第三反射镜。

    一种可谐调带宽入射光校正空间调制偏振成像参数的方法

    公开(公告)号:CN111982287B

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202010824721.X

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种基于可谐调带宽入射光校正空间调制偏振成像参数的方法。其过程包括:A1,在频域中找到中心波长λ1窄带宽入射光的Stokes矢量S1被调制的位置a1;A2,通过可谐调滤光片调节带宽d和降低入射光的中心波长λ1,当偏振度DOP发生变化时由中心波长λ1减去带宽的一半d/2得到此波段不发生混叠时最小的波长λ2;A3,通过可谐调滤波片增大入射光的中心波长和调节带宽d,当偏振度DOP发生变化时由中心波长λ1加上带宽的一半d/2得到此波段不发生混叠时最大的波长λ3;A4,通过得到的此波段不发生混叠时最小的波长λ2和被调制的位置a1根据公式t1=ΔDN/f=a1×λ2计算出偏振成像系统整体的系数t1;A5,通过得到的此波段不发生混叠时最大的波长λ3和a1+1根据公式t2=ΔDN/f=λ3×(a1+1)计算出偏振成像系统整体的参数t2,对两个系数t1和t2进行对比检测。本

    电气石基空气负离子与电磁屏蔽功能基元材料及其制备方法

    公开(公告)号:CN102585762B

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201210031373.6

    申请日:2012-02-13

    Abstract: 本发明公开了一种电气石基空气负离子与电磁屏蔽功能基元材料及其制备方法,具体步骤是:1、将硝酸铁溶液与电气石超细粉混合、烘干、煅烧得电气石表面包覆纳米α-Fe2O3\TiO2核壳结构复合粉体;2、把α-Fe2O3\TiO2复合粉体与氧化钛溶胶混合、烘干、煅烧得到电气石表面包覆α-Fe2O3\TiO2双层核壳结构纳米复合粉体;3、进一步把步骤2的产品在氩气或氮气的气氛炉中煅烧,得到电气石表面包覆Fe3O4\TiO2核壳结构纳米复合粉体;4、将步骤3所得产品经球磨后即得到电气石基空气负离子与电磁屏蔽功能基元材料。本发明产品产生的负离子浓度高,电磁屏蔽能力强,且制备工艺简单,原材料成本低。

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