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公开(公告)号:CN212659546U
公开(公告)日:2021-03-05
申请号:CN202021378945.4
申请日:2020-07-14
Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司
IPC: H01L29/74 , H01L23/373
Abstract: 本实用新型公开了一种晶闸管芯片及制作方法,其中所述芯片包括,位于阳极P型层之上的N型基区及P型基区;位于所述P型基区上表面内的阴极N型区;位于所述阴极发射N型区之上的阴极金属;位于所述P型基区表面之上放大门极金属及中心门极金属;位于门极阴极金属之间指定厚度的介质薄膜层;及所述阳极P型层之下的阳极金属。本实用新型无需对成熟的晶闸管设计、工艺更改,不影响晶闸管各参数,能提高耐受di/dt的能力,有利于提升晶闸管性能,延长使用寿命。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN212659547U
公开(公告)日:2021-03-05
申请号:CN202021381028.1
申请日:2020-07-14
Applicant: 株洲中车时代半导体有限公司
IPC: H01L29/74 , H01L23/373
Abstract: 本实用新型公开了一种晶闸管芯片和晶闸管,其中所述芯片包括,位于阳极P型层之上的N型基区及P型基区;位于所述P型基区上表面内的阴极N型区;位于所述阴极发射N型区之上的阴极金属;位于所述P型基区表面之上放大门极金属及中心门极金属;位于放大门极金属之上指定厚度的第一介质薄膜层;及所述阳极P型层之下的阳极金属。本实用新型无需传统结构来实现放大门级悬空,即可达到封装时放大门级与阴极隔离的目的,并能提高耐受di/dt的能力,有利于提升晶闸管性能,延长使用寿命,降低了工艺复杂程度,降低了工艺成本。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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