光纤
    11.
    发明授权
    光纤 有权

    公开(公告)号:CN106796323B

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN201680002238.5

    申请日:2016-05-24

    Abstract: 光纤具有芯线和包层,该包层至少具有:内包层部,其以与所述芯线同心状地包围所述芯线的外周的方式形成,并与所述芯线的外周相邻;外包层部,其形成于所述内包层部的外周。将所述芯线的折射率设为Δ1,将最大折射率设为Δ1max,将外周半径设为r1,并将所述内包层部的折射率设为Δ2,将最小折射率设为Δ2min,将外周半径设为r2,并将所述外包层部的折射率设为Δ3,将外周半径设为r3的情况下,Δ1max>Δ3>Δ2min,Δ3‑Δ2min≤0.08%,r1<r2<r3,0.35≤r1/r2≤0.55,光缆截止波长为1260nm以下,波长1310nm的MFD为8.6μm以上并且为9.2μm以下。

    光纤的制造方法
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107108327A

    公开(公告)日:2017-08-29

    申请号:CN201680001595.X

    申请日:2016-05-13

    Abstract: 本发明提供光纤的制造方法,具备:在拉丝炉(110)中将光纤用母材(1P)的一端拉丝的拉丝工序(P1);使在拉丝工序(P1)中被拉出后的光纤在缓慢冷却炉(121)中缓慢冷却的缓慢冷却工序(P3);向缓慢冷却炉(121)进入的光纤的温度为1300℃以上且1650℃以下,从缓慢冷却炉(121)出来的光纤的温度为1150℃以上且低于1400℃,从而能够容易减少光纤的传输损失。

    光纤卷取用卷轴以及光纤卷盘

    公开(公告)号:CN104787625B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201510029468.8

    申请日:2015-01-21

    CPC classification number: B65H75/14 B65H75/28 B65H2701/32 G02B6/4457

    Abstract: 本发明涉及光纤卷取用卷轴以及光纤卷盘。光纤卷取用卷轴在呈圆筒状的主卷筒部的轴线方向两端分别设置有主凸缘部,并且,在至少一方的主凸缘部的外侧设置有辅助卷筒部,在设置有上述辅助卷筒部的一侧的主凸缘部的周向的局部形成有向卷轴的中心轴线延伸的狭缝,上述主凸缘部中形成有狭缝的位置的两侧部分形成为低刚性区域,与主凸缘部的该低刚性区域以外的部分相比,上述低刚性区域在与主凸缘部的板面正交的方向的刚性局部较低。

    光频域反射测定方式的物理量测量装置、及使用了其的温度和应变的同时测量方法

    公开(公告)号:CN101680781B

    公开(公告)日:2011-11-23

    申请号:CN200980000285.6

    申请日:2009-03-02

    Abstract: 本发明的光频域反射测定方式的物理量测量装置具备:射出测定光的可调谐激光器;一端与该可调谐激光器连接的第一保偏光纤;与该第一保偏光纤的另一端连接的保偏耦合器;一端与该保偏耦合器连接,另一端作为参照用反射端的第二保偏光纤;一端与所述保偏耦合器连接的第三保偏光纤;形成于该第三保偏光纤的纤芯且由光纤光栅构成的传感器;一端与所述保偏耦合器连接的第四保偏光纤;借助该第四保偏光纤与所述保偏耦合器连接,对来自所述传感器的布拉格反射光和来自所述参照用反射端的参照光进行检测的光电二极管;根据由该光电二极管检测出的所述布拉格反射光和所述参照光的合波光强度变化,检测这些布拉格反射光和参照光之间的干涉强度的调制的控制部;向所述第二保偏光纤的正交的两个偏振轴及所述第三保偏光纤的正交的两个偏振轴双方,入射所述测定光的入射部;和配置于所述第三保偏光纤,使来自所述传感器中的正交的两个偏振轴的布拉格反射光的光路长度恒定的光路长度调整部;所述入射部被配置于所述第一保偏光纤、或所述第二保偏光纤与所述第三保偏光纤双方。

    光纤的制造方法
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107108327B

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN201680001595.X

    申请日:2016-05-13

    Abstract: 本发明提供光纤的制造方法,具备:在拉丝炉(110)中将光纤用母材(1P)的一端拉丝的拉丝工序(P1);使在拉丝工序(P1)中被拉出后的光纤在缓慢冷却炉(121)中缓慢冷却的缓慢冷却工序(P3);向缓慢冷却炉(121)进入的光纤的温度为1300℃以上且1650℃以下,从缓慢冷却炉(121)出来的光纤的温度为1150℃以上且低于1400℃,从而能够容易减少光纤的传输损失。

    光频域反射测定方式的物理量测量装置、及使用了其的温度和应变的同时测量方法

    公开(公告)号:CN101680781A

    公开(公告)日:2010-03-24

    申请号:CN200980000285.6

    申请日:2009-03-02

    Abstract: 本发明的光频域反射测定方式的物理量测量装置具备:射出测定光的可调谐激光器;一端与该可调谐激光器连接的第一保偏光纤;与该第一保偏光纤的另一端连接的保偏耦合器;一端与该保偏耦合器连接,另一端作为参照用反射端的第二保偏光纤;一端与所述保偏耦合器连接的第三保偏光纤;形成于该第三保偏光纤的纤芯且由光纤光栅构成的传感器;一端与所述保偏耦合器连接的第四保偏光纤;借助该第四保偏光纤与所述保偏耦合器连接,对来自所述传感器的布拉格反射光和来自所述参照用反射端的参照光进行检测的光电二极管;根据由该光电二极管检测出的所述布拉格反射光和所述参照光的合波光强度变化,检测这些布拉格反射光和参照光之间的干涉强度的调制的控制部;向所述第二保偏光纤的正交的两个偏振轴及所述第三保偏光纤的正交的两个偏振轴双方,入射所述测定光的入射部;和配置于所述第三保偏光纤,使来自所述传感器中的正交的两个偏振轴的布拉格反射光的光路长度恒定的光路长度调整部;所述入射部被配置于所述第一保偏光纤、或所述第二保偏光纤与所述第三保偏光纤双方。

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