TFT面板基板检查装置
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101680926A

    公开(公告)日:2010-03-24

    申请号:CN200780053457.7

    申请日:2007-08-02

    CPC classification number: G01R31/305 G09G3/006

    Abstract: TFT面板基板检查装置包括:电子束产生源,照射电子束;二次电子检测器,对在电子束的照射下而从像素产生的二次电子进行检测;以及电压施加单元,包括多个与多个TFT面板基板上的电极接触而施加基准电压的探针。电压施加单元具有包围TFT面板基板的外周的探测器框架。探测器框架包括包围各TFT面板基板的至少一个内框架、以及在内侧包围内框架的框形状的外框架。通过附加拉伸载荷而将内框架安装在外框架的内周壁上,以减少内框架的因自重及探针的反作用力所引起的挠曲,从而提高表面刚性。由此,使各探针与TFT面板基板的电极的接触压力均匀化。

    表面波激发等离子体处理装置

    公开(公告)号:CN101099419A

    公开(公告)日:2008-01-02

    申请号:CN200680001834.8

    申请日:2006-04-26

    CPC classification number: H01J37/32192 H05H1/46

    Abstract: 一种表面波激发等离子体处理装置,其可一直维持以大面积生成均匀的等离子体。此表面波激发等离子体处理装置的等离子源(10)包括:微波产生装置、微波导波管(12)、以及介电体块(13),等离子源(20)亦同样包括:微波产生装置、微波导波管(22)、以及介电体块(23)。于腔室(1)的盖体(3)上,并列安装有微波导波管(12、22),并将介电体块(13、23)配设于腔室(1)内。使反射板(30)设于介电体块(13)与(23)之间,以阻止传播于介电体块(13、23)内的电磁波(微波)作为反射波而相互进入。藉此,独立控制等离子源(10、20)。又,于介电体块(13、23)的外周部配设有侧反射体(40),以形成传播于介电体块(13、23)内的电磁波的驻波,并以大面积均匀地形成表面波SW的驻波模式。

    基板移载系统及基板移载方法

    公开(公告)号:CN103858220B

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201280049913.1

    申请日:2012-05-23

    CPC classification number: C23C16/4587 H01L21/67781

    Abstract: 本发明提供一种基板移载系统及基板移载方法。基板移载系统包括基板载板及基板搭载装置,所述基板载板具有在垂直方向上延伸且定义出在水平方向上排列的多个矩形基板搭载区域的搭载面,且在各个基板搭载区域的外周的左边、右边及下边分别配置着左边固定销、右边固定销及下边固定销,所述基板搭载装置包括:基板保持机构,将多个矩形基板以各自的主面配置在同一平面水平的状态进行保持;基板移动机构,以从水平方向观察时相对于基板搭载区域而倾斜的姿势使所保持的多个基板的主面与搭载面接近且相对向;及基板旋转机构,使多个基板以一个旋转轴为中心而沿着搭载面同时旋转。

    表面波等离子体CVD设备以及成膜方法

    公开(公告)号:CN102549194A

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201080044034.0

    申请日:2010-10-04

    Inventor: 铃木正康

    Abstract: 一种表面波等离子体CVD设备,其包括:波导(3),该波导(3)连接于微波源(2),多个槽缝天线(S)形成于波导的磁场平面上;电介质板(4),该电介质板(4)用于将从多个槽缝天线(S)射出的微波引导至等离子体处理室(1),从而产生表面波等离子体;绝缘遮蔽构件(1b),该绝缘遮蔽构件(1b)配置成包围产生表面波等离子体的成膜处理区域(R);以及气体喷射部(52),该气体喷射部(52)将处理材料气体喷射至成膜处理区域(R)。

    TFT面板基板检查装置
    17.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101680926B

    公开(公告)日:2012-02-29

    申请号:CN200780053457.7

    申请日:2007-08-02

    CPC classification number: G01R31/305 G09G3/006

    Abstract: TFT面板基板检查装置包括:电子束产生源,照射电子束;二次电子检测器,对在电子束的照射下而从像素产生的二次电子进行检测;以及电压施加单元,包括多个与多个TFT面板基板上的电极接触而施加基准电压的探针。电压施加单元具有包围TFT面板基板的外周的探测器框架。探测器框架包括包围各TFT面板基板的至少一个内框架、以及在内侧包围内框架的框形状的外框架。通过附加拉伸载荷而将内框架安装在外框架的内周壁上,以减少内框架的因自重及探针的反作用力所引起的挠曲,从而提高表面刚性。由此,使各探针与TFT面板基板的电极的接触压力均匀化。

    沉积用于有机电致发光的保护薄膜的设备和方法

    公开(公告)号:CN100442574C

    公开(公告)日:2008-12-10

    申请号:CN200410042096.4

    申请日:2004-04-30

    CPC classification number: C23C16/463 C23C16/4586 C23C16/466 C23C16/511

    Abstract: 本发明公开了一种沉积用于有机电致发光的保护薄膜的设备和方法,在通过表面波等离子体化学气相沉积(SWP-CVD)法沉积薄膜的薄膜沉积设备中,对上面放置有基底(9)的基底支架(8)配置冷却装置,由此防止在薄膜沉积期间可能引起的基底(9)温度升高。在基底支架(8)中形成冷却剂通道(81),从冷却器(4)输送的冷却剂经冷却剂通道(81)循环,由此冷却基底支架(8)。另外,在被放置基底的基底支架的表面形成槽(82),并且通过使He气流经槽(82)来冷却基底(9)。

    表面波激发等离子体产生装置以及表面波激发等离子体处理装置

    公开(公告)号:CN101091420A

    公开(公告)日:2007-12-19

    申请号:CN200680001441.7

    申请日:2006-04-20

    Inventor: 铃木正康

    CPC classification number: H01J37/32229 C23C16/511 H01J37/32192 H05H1/46

    Abstract: 本发明可有效地产生表面波激发等离子体。表面波激发等离子体产生装置(10)包括环状导波管(2)以及电介质管(3)。环状导波管(2)包括导入口(2a)、终端板(2b)以及底板(2c),其中,所述导入口(2a)用来导入微波(M),所述终端板(2b)用来反射被导入的在管内传播的微波(M),所述底板(2c)上以预定的间隔形成有槽孔天线(2d)。当微波(M)的管内波长为λg时,将从底板(2c)上的位置(b)开始经过位置(c、d、e)直到位置(f)为止的长度,即,环状导波管(2)的周长π×D1设为2λg,并且位置(b、c、d、e、f)之间隔开λg/2的间隔。由于槽孔天线(2d)配置在位置(c)及位置(e)两处,因此所述2个槽孔天线(2d)的间隔等于管内波长λg。

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