测定方法和测定装置
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103765158A

    公开(公告)日:2014-04-30

    申请号:CN201280041663.7

    申请日:2012-09-05

    Abstract: 本发明的目的在于非接触性/非破坏性且简便地测定形成于被检体的表面的覆膜的膜厚,得到覆膜的组分的信息,分光装置(10)事先测定已知的被检体的分光数据,运算装置(22)对测定出的分光数据进行基底分解,提取该分光数据的特征量,计算该特征量与形成于所述已知的被检体的表面的覆膜的膜厚和组分之间的关系,分光装置(10)测定所述被检体的分光数据,运算装置(22)对测定出的被检体的分光数据进行基底分解,提取该分光数据的特征量,根据计算出的已知的被检体的分光数据的特征量与覆膜的膜厚和组分之间的关系,计算形成于所述被检体的表面的覆膜的膜厚和组分。

    镀锌钢板的合金化度和/或镀覆附着量测定方法

    公开(公告)号:CN109563606A

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201780047563.8

    申请日:2017-07-14

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种以非破坏的形式能够准确且迅速地测定镀锌钢板的合金化度和/或镀覆附着量的镀锌钢板的合金化度和/或镀覆附着量测定方法。一种使用X射线衍射法的镀锌钢板的合金化度和/或镀覆附着量测定方法,其特征在于,包括如下步骤:对镀锌层存在于表面的试样照射X射线的步骤;进行构成该试样的基底钢板和镀锌层的相的X射线衍射测定,得到X射线衍射图的步骤;以及对所得的上述X射线衍射图进行多变量解析,由该多变量解析的结果算出镀锌层中的合金化度和/或镀覆附着量的步骤。

    测定方法和测定装置
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103765158B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201280041663.7

    申请日:2012-09-05

    Abstract: 本发明的目的在于非接触性/非破坏性且简便地测定形成于被检体的表面的覆膜的膜厚,得到覆膜的组分的信息,分光装置(10)事先测定已知的被检体的分光数据,运算装置(22)对测定出的分光数据进行基底分解,提取该分光数据的特征量,计算该特征量与形成于所述已知的被检体的表面的覆膜的膜厚和组分之间的关系,分光装置(10)测定所述被检体的分光数据,运算装置(22)对测定出的被检体的分光数据进行基底分解,提取该分光数据的特征量,根据计算出的已知的被检体的分光数据的特征量与覆膜的膜厚和组分之间的关系,计算形成于所述被检体的表面的覆膜的膜厚和组分。

    表面缺陷检查方法及表面缺陷检查装置

    公开(公告)号:CN110431404B

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN201880018467.5

    申请日:2018-02-28

    Abstract: 在作为本发明的一个实施方式的表面缺陷检查装置(1)中,纹理特征图像生成部(43)通过对输入图像实施基于多个空间滤波的滤波处理,从而生成多个纹理特征图像,纹理特征提取部(44)关于输入图像上的各位置分别提取多个纹理特征图像的对应的位置的值,生成图像上的各位置处的特征向量,异常程度计算部(45)关于各个特征向量计算特征向量所成的多维分布中的异常程度,生成表示关于输入图像上的各位置的异常程度的异常程度图像,缺陷候补检测部(46)将异常程度图像中异常程度超过规定值的部分检测为缺陷部或者缺陷候补部。

    温度测定方法及温度测定装置

    公开(公告)号:CN104204744A

    公开(公告)日:2014-12-10

    申请号:CN201380018614.6

    申请日:2013-03-01

    Inventor: 大重贵彦

    CPC classification number: G01K7/08 G01J5/601 G01J2005/0048

    Abstract: 回归式制成部(3)对于通过使用接触式温度计测定了测定对象物的温度测定值而确定的检量线制成用的分光光谱信息进行基础分解,算出基础的得分a(k,j),根据得分a(k,j)和检量线制成用的分光光谱信息所对应的接触式温度计(30)的温度指示值的温度,算出多元回归系数(c(k),k=1,2)。温度推定部(4)基于测定对象物的分光光谱信息和通过回归式制成部(3)算出的基础,算出基础的得分a(k,j),基于算出的得分a(k,j)和多元回归系数(c(k),k=1,2)来推定测定对象物的温度。由此,不计算放射率的组合解,能够不受放射率的变动的影响而高精度地对测定对象物的温度进行测定。

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