对存储器进行群组式耗损平均的方法及设备

    公开(公告)号:CN103455429A

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201210579100.5

    申请日:2012-12-27

    CPC classification number: G06F12/0246 G06F12/1009 G06F2212/7211

    Abstract: 本发明公开了一种对存储器进行群组式耗损平均的方法及设备。该群组式耗损平均方法用于包括多个页面的存储器,包括依据多个使用次数指派使用中的页面给多个使用中的群组;该多个使用中的群组包括最低使用次数范围的低度使用中的群组,以及最高使用次数范围的高度使用中的群组;此方法包括依据多个使用次数,指派多个空页面给多个空群组;该多个空群组包括最低使用次数范围的低空群组,以及最高使用次数范围的高空群组;此方法维持多个使用中的页面的多个使用次数;对于一目前使用中的页面的一触发事件上,该方法决定一目前使用中的页面的使用次数是否超过一热交换阈值,如果是,则将目前使用中的页面中的数据移动至低空群组中的一最前页面。

    半导体结构及其制造方法
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103378073A

    公开(公告)日:2013-10-30

    申请号:CN201210106115.X

    申请日:2012-04-12

    Abstract: 本发明公开了一种半导体结构及其制造方法。半导体结构包括对组的第一芯片和第二芯片;第一芯片包括相互平行设置的N条第一导线、M条第二导线于第一导线上方、N条第三导线垂直于第二导线上方并与第一导线平行、N个第一通孔分别连接第一导线、M组第二通孔分别连接第二导线、和N组第三通孔分别连接第三导线。其中,第二导线和第一导线形成一重叠区域;第三导线和N组第三通孔都至少分成两部份,分别位于重叠区域中一对角方向的第一区域和第三区域;M组第二通孔亦分成两部份,分别位于另一对角方向的第二区域和第四区域。

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