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公开(公告)号：CN119780085A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411926029.2
申请日：2024-12-25
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/84 , B41J29/393 , G06T7/62 , G06T5/73 , G01B11/14
Abstract: 本申请涉及喷墨打印技术领域，具体提供了一种墨滴观测方法、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括步骤：根据预设时间间隔、第一墨滴位置信息、第二墨滴位置信息和预先获取的无效脉宽获取第一动态模糊距离，并基于第一动态模糊距离去除对应的第一墨滴图像和第二墨滴图像中的动态模糊；无效脉宽的预先获取过程为：获取匀速运动的标定块的标定图像，并根据标定块的实际尺寸与标定块在标定图像中的尺寸的差异获取无效脉宽，获取标定图像时的驱动电压与获取第一墨滴图像和第二墨滴图像时的驱动电压相同；该方法能够有效地降低墨滴观测的成本和减小观测结果的误差。
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公开(公告)号：CN119688280A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411872489.1
申请日：2024-12-18
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及喷墨特性测量技术领域，具体涉及喷墨特性测量方法、系统、设备及存储介质，通过上位工控机保障喷墨启动控制高效，喷头驱动板确保喷墨稳定精准及时；相机装置捕获指令完成图像捕获，供后续分析；迭代操作结合图像融合算法，实现对阵列化喷头快速连续精准测量，助力特征识别；图像识别方法得出墨滴特性利于精确分析，运动台移动重复操作全面获取特性生成喷墨特性，有力支持喷墨系统优化，提升产品质量与生产效率。
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公开(公告)号：CN115817047B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202310155863.5
申请日：2023-02-23
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请涉及OLED喷墨打印技术领域，公开了一种OLED像素层喷印落点位置规划与喷印控制方法。该方法获取墨水特性和打印基板特性；基于墨水特性和打印基板特性，对打印基板像素槽进行划分，得到划分区域；基于划分区域，生成打印点位；确定打印点位的打印喷嘴标识；根据打印点位、打印点位的打印喷嘴标识以及预设打印方向进行打印。整个方案基于多维度的打印相关属性，对打印基板的像素槽进行划分，基于划分区域来生成打印点位，相比传统的基于墨滴体积得到的打印点位更加准确，确定打印点位对应的喷嘴标识，精确控制每个打印喷嘴，根据精确的打印点位以及打印点位的对应的打印喷嘴标识以预设打印方向进行打印，可以显著提高打印的准确性。
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公开(公告)号：CN115674912A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211320986.1
申请日：2022-10-26
Applicant: 季华实验室
IPC: B41J2/21 , B41J29/393
Abstract: 本发明公开了一种喷墨补印路径规划方法、喷墨打印机及计算机可读存储介质，属于显示标记技术领域。所述方法包括步骤：确定所述喷墨打印机的目标喷头所在打印行的第一个缺陷子像素坐标；确定所述第一个缺陷子像素坐标与所述目标喷头中各个正常喷孔之间的拓扑几何关系以得到第一补打位移集合；基于所述第一个缺陷子像素坐标确定剩余缺陷子像素与各个所述正常喷孔之间的拓扑几何关系以得到剩余补打位移集合；确定所述第一补打位移集合和所述剩余补打位移集合之间的目标补打位移，并根据所述目标补打位移对所有缺陷子像素进行补充打印。通过将本发明，大幅降低了对喷墨补印规划的计算量，极大地提升了喷墨打印机的补印效率。
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公开(公告)号：CN115420418B
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202211373240.7
申请日：2022-11-04
Applicant: 季华实验室(CN)
Abstract: 本申请公开了一种气压测量方法、装置、电子设备及可读存储介质，应用于测量技术领域，所述气压测量方法包括：获取至少一个气压传感器采集的气压数据，其中，各所述气压传感器部署在所述喷墨打印设备的至少两个气压测量位置区域处；通过对所述气压数据进行动态滤波处理，生成滤波气压数据；根据各所述滤波气压数据之间的观测距离，生成各所述气压传感器之间的支持度；根据各所述支持度，对所述滤波气压数据进行加权聚合，得到所述喷墨打印设备对应的目标气压数据。本申请解决了无法兼顾气压测量的测量准确性和测量效率的技术问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119668536A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411860808.7
申请日：2024-12-17
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及喷墨打印技术领域，本发明公开了一种喷嘴坐标补偿方法、装置、设备及存储介质，包括：获取喷头坐标信息；对喷头坐标信息进行数据处理，得到补偿前坐标信息；根据补偿前坐标信息构建喷头平面方程；对喷头平面方程进行旋转矩阵求解，得到坐标变换矩阵；根据坐标变换矩阵对补偿前坐标信息进行坐标变换，得到补偿后坐标信息；根据补偿前坐标信息和补偿后坐标信息生成喷嘴坐标补偿信息；本发明通过对喷头平面进行拟合处理生成喷嘴坐标补偿信息，利用喷嘴坐标补偿信息调节喷嘴的坐标位置，并控制喷墨打印机对不同高度的墨滴做延迟或滞后喷射处理，从而提高打印墨滴的落点精度，获得更好的喷墨打印精度。
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公开(公告)号：CN119124561A
公开(公告)日：2024-12-13
申请号：CN202411597952.6
申请日：2024-11-11
Applicant: 季华实验室
IPC: G01M11/00
Abstract: 本申请公开了一种喷嘴状态检测装置、方法、设备、存储介质和程序产品，涉及喷墨打印的技术领域，在本申请中，沿光线路径依次设置的相机、第一镜以及第二镜，通过相机、第一镜、第二镜以及对应的微定位台的配合，采集喷头喷出的墨滴在飞行过程中的墨滴图像，由墨滴图像分析得到喷嘴状态，以此完成喷嘴状态的检测。其中，将第二镜作为扫描镜，利用第二镜的转动扩大相机的视场，实现对喷嘴状态的快速全面检查，大大缩短了检测时间；相机采用高分辨率的高精度相机，且对相机和第二镜位置适时精确调整，整体提高了喷嘴状态检测的速度和精度。
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公开(公告)号：CN118915829A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202411390261.9
申请日：2024-10-08
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种气流均匀化方法、装置、设备、存储介质和程序产品，涉及真空腔体应用的技术领域，包括：通过在目标腔体内设置一格栅阵列，使用格栅阵列在不同开度下的压强分布，表征在格栅阵列处的气流均匀或湍流，以此进一步通过调整格栅阵列的开度，使得格栅阵列处的气流均匀化。相较于常规手段，本申请的气流均匀化方法无需改进腔体表面质量，无需优化腔体内部结构，也无需使用蜂窝芯结构，仅需要增加一格栅阵列即可，效率高、成本低、效果显著，可适用于复杂的腔体内部结构和非线性抽真空过程。
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公开(公告)号：CN115817047A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202310155863.5
申请日：2023-02-23
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请涉及OLED喷墨打印技术领域，公开了一种OLED像素层喷印落点位置规划与喷印控制方法。该方法获取墨水特性和打印基板特性；基于墨水特性和打印基板特性，对打印基板像素槽进行划分，得到划分区域；基于划分区域，生成打印点位；确定打印点位的打印喷嘴标识；根据打印点位、打印点位的打印喷嘴标识以及预设打印方向进行打印。整个方案基于多维度的打印相关属性，对打印基板的像素槽进行划分，基于划分区域来生成打印点位，相比传统的基于墨滴体积得到的打印点位更加准确，确定打印点位对应的喷嘴标识，精确控制每个打印喷嘴，根据精确的打印点位以及打印点位的对应的打印喷嘴标识以预设打印方向进行打印，可以显著提高打印的准确性。
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公开(公告)号：CN115593115A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202211496380.3
申请日：2022-11-28
Applicant: 季华实验室(CN)
Abstract: 本发明提出一种打印喷头排泡方法及装置、计算机可读存储介质，涉及OLED打印技术领域，打印喷头排泡方法包括定义喷嘴内的气泡状态；对气泡状态进行预处理，并获取与气泡状态对应的预设打印参数以及预设排泡参数；将预设打印参数、预设排泡参数及气泡状态一一映射并存储在数据库中；检测喷嘴的第一打印参数；根据第一打印参数以及预设打印参数确定气泡状态；根据气泡状态以及预设排泡参数确定喷嘴的排泡参数；控制喷嘴以排泡参数进行排泡。本发明技术方案定义气泡状态并预处理后生成数据库，在对喷嘴进行排泡时，则只需要检测喷嘴的第一打印参数，确定喷嘴的排泡参数，控制喷嘴按照排泡参数进行排泡。提高了排泡效率。
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