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公开(公告)号：CN106989904B
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201710284514.8
申请日：2017-04-25
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种保偏光纤消光比的测量方法。根据待测光纤内的耦合情况，依次测量得到干涉峰与主峰的半高全宽的宽度、左右端点位置和能量，利用干涉峰能量与主峰能量的比值计算得到光纤内串扰点的消光比；计算低信噪比下的干涉峰的能量时，需要测量干涉信号中的噪声功率，计算干涉峰能量中包含的噪声能量，最后消除噪声在测量过程中引入的偏差；该方法测量精度高，测量结果消除色散影响，可以实现低信噪比下高消光比的精确测量，可广泛应用于对消光比测量要求高的光学器件的分析。
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公开(公告)号：CN105823624B
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201610157526.X
申请日：2016-03-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种用于光学相干偏振测量的标定装置及其动态范围标定方法。本发明包括宽谱光源与功率监测装置510、第一光纤连接器521、第二光纤连接器522、高精度标定装置530、光程相关器540、偏振串扰检测与信号记录装置550。使用特定长度和对准角度的保偏光纤搭建标定装置，可对测量峰的位置和幅度进行精确定位；利用多个串扰点的二阶干涉峰，可对较低峰值进行精确定位。利用不同的标定梯度，提高标定精度和准确性。
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公开(公告)号：CN104792503B
公开(公告)日：2018-08-31
申请号：CN201510223974.0
申请日：2015-05-05
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种增强测量信号的信噪比，提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围，用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析的光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置。一种光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置，包括宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、第一光纤旋转连接器、第二光纤旋转连接器、光程解调与信号探测器、信号检测与处理装置。本发明在单一相关器测量极限的基础上，采用光程相关器两支路同步测量的结构，使用偏振分束器将传输在两偏振主轴上的信号光分离，两路干涉信号同步扫描后线性叠加，在将测量信噪比提升倍的同时，又能测量分布式串扰的绝对强度，大幅提高测量系统灵敏度和准确性。
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公开(公告)号：CN106525390A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610985383.1
申请日：2016-11-09
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/00
CPC classification number: G01M11/30
Abstract: 本发明属于光学相干域偏振测量技术领域，具体涉及一种通过抑制超高分布式双折射色散对光学相干域偏振测量装置输出信号的影响来提高测试系统性能的用于具有超高分布式双折射色散的光纤保偏器件的色散补偿方法。本发明包括：将光学相干域偏振测量装置对待测保偏器件进行分布偏振串扰测试得到的分布偏振串扰原始数据的两端进行补零得到初始的待补偿数据；提取待补偿数据在光程差范围内的数据段作为首端数据等。本发明无需额外的硬件配置即可实现对OCDP输出信号进行超高分布式双折射色散补偿，而且灵活度高，可以补偿二阶、三阶双折射色散，并且可以依据需求补偿更高阶的双折射色散。
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公开(公告)号：CN105841928A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610157528.9
申请日：2016-03-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光纤偏振器件的高消光比测量方法。一种光纤偏振器件的高消光比测量方法，在待测高消光比偏振器件即Y波导的输入、输出端分别焊接两段不同长度的保偏光纤，构成带有定量串扰标记的测量组件；焊接时利用集总式消光比测试仪对焊接点的消光比进行定量控制并记录其测量值，同时对起偏器尾纤、检偏器尾纤、高消光比偏振器件尾纤、焊接保偏光纤的长度进行设定；将测量组件接入分布式光纤偏振串扰测试装置中，利用外接光纤焊接点之间的二阶串扰测量值对待测偏振器件消光比进行标定和自校准。在测量过程时，可对串扰标记和测量峰进行同步测量，杜绝测量环境改变和器件连接精度等引入的误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105784336A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201610265283.1
申请日：2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种光纤器件的透射和反射性能同时测试的装置及方法。向待测器件中注入宽谱光，产生能反映其透射和反射性能的两路光信号，并将光信号注入到光学相干域偏振测量技术透射性能测试结构和光学低相干反射技术的反射性能测试结构中，使用共用延迟部件进行扫描，对两路光信号进行测量，同时得到待测光纤器件的透射和反射特征。在使用同一光源和同一延迟部件的情况下，光纤器件的透射和反射性能测试装置可精确测量待测器件的偏振性能、色散特性、损耗特性、相干光谱特性等特征参数。本发明具有集成程度高、测试参数全、抗电磁干扰、器件组成简单等优点，可广泛用于保偏光纤、集成波导调制器等光学器件性能的高精度测量与分析。
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公开(公告)号：CN105043718A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510212810.8
申请日：2015-04-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置与抑制方法。一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置，包括宽谱光源、起偏器、第1光纤旋转连接器、第2光纤旋转连接器、待测光纤器件、光程相关器、偏振串扰检测与信号记录装置。本发明使用偏振分束器将传输光与耦合光彻底分离，避免干涉拍噪声的影响；在控制电路热噪声的基础上，使用衰减器对传输光进行衰减，让耦合光成为主探测光，使散粒噪声成为限制系统信噪比的主要噪声，使用本发明提供的方法调节至合适参数，可保持系统动态范围不变的前提下，信噪比提升20～40dB，有效提高测量灵敏度。
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公开(公告)号：CN106525390B
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201610985383.1
申请日：2016-11-09
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明属于光学相干域偏振测量技术领域，具体涉及一种通过抑制超高分布式双折射色散对光学相干域偏振测量装置输出信号的影响来提高测试系统性能的用于具有超高分布式双折射色散的光纤保偏器件的色散补偿方法。本发明包括：将光学相干域偏振测量装置对待测保偏器件进行分布偏振串扰测试得到的分布偏振串扰原始数据的两端进行补零得到初始的待补偿数据；提取待补偿数据在光程差范围内的数据段作为首端数据等。本发明无需额外的硬件配置即可实现对OCDP输出信号进行超高分布式双折射色散补偿，而且灵活度高，可以补偿二阶、三阶双折射色散，并且可以依据需求补偿更高阶的双折射色散。
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公开(公告)号：CN105823620B
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201610152972.1
申请日：2016-03-17
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供的是一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法。通过改变待测光纤与起偏器/检偏器之间的对轴角度，分别实现对干涉信号中不同特征干涉峰的抑制和放大；不同对轴角度条件下，将测量干涉峰与预测干涉峰位置‑幅值的理论公式进行比对，得到干涉信号中的特征干涉峰的幅值、阶次等信息；通过4次不同对轴角度测量，即可鉴别出其中的伪干涉峰和代表真实缺陷点的干涉峰。本发明中的操作方法简单有效，有助于从分布式干涉测量中准确地估计保偏光纤缺陷点信息，可以广泛应用于保偏光纤中缺陷点的精确测量。
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公开(公告)号：CN105043718B
公开(公告)日：2017-11-21
申请号：CN201510212810.8
申请日：2015-04-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置与抑制方法。一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置，包括宽谱光源、起偏器、第1光纤旋转连接器、第2光纤旋转连接器、待测光纤器件、光程相关器、偏振串扰检测与信号记录装置。本发明使用偏振分束器将传输光与耦合光彻底分离，避免干涉拍噪声的影响；在控制电路热噪声的基础上，使用衰减器对传输光进行衰减，让耦合光成为主探测光，使散粒噪声成为限制系统信噪比的主要噪声，使用本发明提供的方法调节至合适参数，可保持系统动态范围不变的前提下，信噪比提升20～40dB，有效提高测量灵敏度。
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