复合材料及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN114822920A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202210396826.9

    申请日:2022-04-15

    Abstract: 本申请涉及纳米材料技术领域,尤其涉及一种复合材料及其制备方法和应用。该复合材料的制备方法包括如下步骤:提供纳米银线;将纳米银线进行碱加热处理,得到羟基化的纳米银线;将羟基化的纳米银线与含羧基的纤维素在醇溶剂中进行酯化反应,得到酯化反应产物溶液;将酯化反应产物溶液依次进行过滤处理和干燥处理,得到复合材料。该制备方法中纳米银线表面的羟基和纤维素表面的羧基进行酯化反应缩合,从而使纳米银线和纤维素通过化学键固定连接,这样纳米银线和纤维素结合的稳定性显著优于常规的物理吸附,使制得的复合材料具有更好的稳定性,同时,酯化反应的过程并不影响纤维素表面氢键,因此自修复功能仍然保留。

    一种区分黑磷晶轴的方法、装置、终端设备及存储介质

    公开(公告)号:CN112858256A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110215240.3

    申请日:2021-02-26

    Inventor: 邹波 孙华锐

    Abstract: 本申请适用于半导体材料技术领域,提供了一种区分黑磷晶轴的方法、装置、终端设备及存储介质。本申请实施例中在平行偏振配置下测试黑磷样品的拉曼光谱信息;根据上述拉曼光谱信息确定上述黑磷样品偏振拉曼响应的两个主轴方向;确定每个主轴方向对应的拉曼强度比,根据上述拉曼强度比确定上述黑磷样品的晶轴,从而准确便捷地判断出黑磷晶轴。

    热导测量装置及系统
    13.
    实用新型

    公开(公告)号:CN215218632U

    公开(公告)日:2021-12-17

    申请号:CN202120391665.5

    申请日:2021-02-22

    Abstract: 本实用新型涉及热导测量设备技术领域,提供一种热导测量装置及系统,上述热导测量装置包括激光发生器、光路组件、非相干光源、入射光纤、接收光纤和光电探测器,激光发生器通过光路组件向微纳薄膜材料投射加热激光且在微纳薄膜材料上形成第一光斑,非相干光源通过入射光纤向微纳薄膜材料投射探测光且在微纳薄膜材料上形成与第一光斑相重合的第二光斑,探测光经微纳薄膜材料反射形成第一反射光,光电探测器通过接收光纤接收第一反射光,由于探测光为非相干光,有效避免探测光产生干涉效应,有效提高热导测量装置的测量精度;通过入射光纤和接收光纤分别实现对探测光的投射和对第一反射光的接收,有效简化光路结构,提高可操作性。

    一种热成像装置
    14.
    实用新型

    公开(公告)号:CN216717613U

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202123091865.8

    申请日:2021-12-09

    Abstract: 本申请属于半导体设备技术领域,尤其涉及一种热成像装置,热成像装置用于检测待测芯片的表面温度,热成像装置包括光源组件,用于发射预设波长的光线;反射组件,用于将所述光源所发出的光线反射至所述待测芯片表面的所述反射层;反射层,设置于所述待测芯片的表面,且所述反射层的禁带宽度小于所述光源所发出光线的能量;成像组件,用于接收经由所述反射层反射的光线并输出所述待测芯片表面的图像。本申请提供的热成像装置,利用禁带宽度小于光源组件的光线能量的反射层,来反映待测芯片的表面温度,有效解决了现有技术中因待测芯片的禁带宽度过大所导致的无法对待测芯片表面进行热反射成像的问题,满足芯片的热反射成像测温需求。

    一种GaN外延晶片界面热阻的测量装置

    公开(公告)号:CN208297403U

    公开(公告)日:2018-12-28

    申请号:CN201820811501.1

    申请日:2018-05-29

    Inventor: 孙华锐 刘康 周岩

    Abstract: 本实用新型公开了一种GaN外延晶片界面热阻的测量装置,包括:紫外脉冲激光器、连续激光器、透镜组、二向色分光镜、紫外线聚焦物镜、光电探测器;还包括:半透镜、带通滤波片、凸透镜、CCD相机。本实用新型将加热激光设定为波长为355nm的紫外脉冲激光,探测激光设定为波长为325nm的连续激光,并进行共轴操作,以解决现有的瞬态热反射法测量GaN外延晶片界面热阻需要在GaN表面加镀金属薄膜换能器或者进行器件加工的问题。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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