公开(公告)号：CN116482518A

公开(公告)日：2023-07-25

申请号：CN202310546477.9

申请日：2023-05-16

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨智明 ,  肖紫文 ,  田力 ,  俞洋 ,  李康荣 ,  乔立岩

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明属于的测试电路领域，具体涉及基于分压器的MIV测试电路及测试方法。所述公共测试单元，用于切换不同的测试模式，以检测MIV内是否存在开路故障、短路故障或漏电故障；所述分压单元，用于建立MIV组的测试模型；所示电压比较单元，用于判断测试点电压是否在正常电压范围内。本发明提供一种基于分压器的MIV测试电路及测试方法用以解决现有技术可检测故障范围有限的问题。

公开(公告)号：CN111610428B

公开(公告)日：2023-01-17

申请号：CN202010326364.4

申请日：2020-04-26

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨智明 ,  俞洋 ,  贾绍华 ,  肖紫文 ,  彭喜元

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/3161

Abstract: 一种基于响应混叠性度量小波包分解算法的参数优化方法，涉及模拟电路故障检测中一种参数优化方法。本发明为了解决现有模拟电路中部分低灵敏度器件在参数容差的影响下故障状态与正常状态界限模糊，导致其故障检测率低的问题。本发明所述方法包括获取电路元件灵敏度顺序表；得到正常/故障状态原始数据；建立小波包分解特征提取方法库；使用方法库内小波包分解方法处理电路正常/故障状态原始数据，计算处理后得到的高维距离度量值；根据高维距离度量值得到正常/故障状态正态分布曲线；计算每种小波包分解方法处理后的故障/正常状态正态分布曲线间的混叠面积；按优先级优选出最优小波包分解算法的参数。属于模拟电路故障检测领域。

公开(公告)号：CN113985173A

公开(公告)日：2022-01-28

申请号：CN202111254775.8

申请日：2021-10-27

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 杨智明 ,  刘萃宇 ,  俞洋 ,  李川峰 ,  肖紫文

IPC: G01R31/00 ,  G06F17/18 ,  G06F17/16

Abstract: 一种基于统计特征典型相关分析的PFC故障检测方法，属于PFC故障检测领域。本发明针对现有通过PFC变换器的输出电压对其进行故障检测，不明显的故障特征易被掩盖造成检测效果差的问题。包括：采集PFC转换器的样本输入电压和样本输出电压；对样本输入电压特征量和样本输出电压特征量进行典型相关分析，得到典型相关系数；构建样本残差矩阵，计算获得样本统计量；并确定故障检测阈值；采集实际输入电压和实际输出电压，利用实际输入电压特征量、实际输出电压特征量和典型相关系数构建实际残差矩阵，计算获得实际统计量；将实际统计量与故障检测阈值进行比较，若实际统计量大于故障检测阈值，则判定运行状态PFC转换器为故障状态。本发明用于PFC故障检测。

公开(公告)号：CN109782746A

公开(公告)日：2019-05-21

申请号：CN201910104633.X

申请日：2019-02-01

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  杨智明 ,  肖紫文 ,  贾绍华 ,  彭喜元

IPC: G05B23/02 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种考虑权重的硬件电路FMEA方法，属于产品与系统可靠性分析技术领域。本发明首先确定硬件电路每种故障模式的各影响因素的评价因子；然后应用层次分析法建立各影响因素的判断矩阵，进而得到故障模式的各影响因素的权重；利用得到的评价因子及权重得到各故障模式的风险系数；最后将各种故障模式的风险系数的按照数值大小进行排序。本发明解决了现有产品与系统可靠性分析技术不能同时兼顾准确性与计算量的问题。本发明可用于快速进行硬件电路的故障模式影响分析。