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公开(公告)号：CN108760766B
公开(公告)日：2020-12-01
申请号：CN201810517270.8
申请日：2018-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/95
Abstract: 一种大口径光学晶体表面微缺陷检测用的图像拼接方法，涉及一种微缺陷检测用的图像拼接方法。本发明为了解决目前的缺陷检测中大口径晶体的图像采集和缺陷识别环节耗费时间较长的问题。本发明首先对待测大口径晶体元件表面区域进行扫描，并利用检测显微镜和检测CCD对扫描区域进行实时图像采集，并确定单张图片的尺寸范围和重叠区域尺寸：然后基于坐标系平移变换法实现采集图像的拼接和缺陷点的坐标转换，确定每个图像中每个缺陷点在全局坐标系下的位置，并建立缺陷数据库。本发明适用于光学晶体表面微缺陷检测的图像拼接。
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公开(公告)号：CN110060488B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201910340134.0
申请日：2019-04-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种无冲突的两相位交叉口交通组织系统及信号配时方法，它属于交通工程技术领域。本发明解决了现有两相位无冲突交叉口中左转车辆存在二次停车，导致左转车辆交通效益受到损失的问题。本发明通过主信号与辅信号的配时协调，使得左转、直行和右转车辆都不存在二次停车问题，实现了交叉口相位同时放行左转、直行和右转车辆，提升了左转车辆在交叉口的通行效率；而且，本发明通过对主信号与辅信号绿灯关闭时间差进行限制，防止车辆滞留在逆向右转车道或者主信号交叉口与辅信号交叉口之间的直行车道上，避免了信号控制出现不稳定现象。本发明可以应用于交通工程技术领域。
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公开(公告)号：CN111458312A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN202010158345.5
申请日：2020-03-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种软脆光学晶体加工表层微区荧光性缺陷检测光学系统，涉及一种光学晶体缺陷检测光学系统。目的是解决现有晶体表层缺陷检测装置无法获得晶体表层缺陷的受激荧光的稳态光谱和内部结构的问题。检测光学系统由可变波长激光器、第一反射镜、光阑、二向色镜、显微物镜、晶体元件、载物台、白光光源、第二反射镜、滤光片、第一透镜、光纤、光谱仪、时间相关单光子计数器、计算机、第三反射镜、第二透镜和CCD相机构成。本发明即可以实现晶体元件表层缺陷，也能够实现表层缺陷激发稳态荧光光谱以及表层缺陷激发瞬态荧光光谱的检测。本发明适用于晶体表层缺陷检测。
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公开(公告)号：CN111452030A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201910063669.8
申请日：2019-01-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供一种基于SMA丝驱动的空间抓捕机械手，滑杆保持架安装在驱动器机架上，多个滑杆通过多个滑杆销与滑杆保持架滑动连接，固定端和多个滑杆通过SMA丝依次连接，多个滑杆的最末端滑杆、驱动杆和偏置弹簧依次连接，导轨设置于机架下方且与输出端滑杆平行，两个直线轴承均与导轨滑动连接，其中一侧的两个直线轴承与夹持臂下表面相连，夹持臂上表面与驱动杆的下表面固定连接，两侧的夹持臂通过十字剪切铰耦合传动机构连接，十字剪切铰耦合传动机构通过固连铰链与机架固定连接；两组机械爪分别安装在两个夹持臂上。本发明的抓捕方式为平行夹持，驱动部通过SMA丝作直线驱动，充分发挥了记忆合金直线作动的特点，提高了机械手的抓捕速度以及夹紧力。
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公开(公告)号：CN106949852B
公开(公告)日：2019-04-30
申请号：CN201710229911.5
申请日：2017-04-10
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01B11/24
Abstract: 环抛加工修正盘表面形状误差的检测装置及检测方法，涉及一种形状误差的检测装置及检测方法。本发明为了解决现有技术中由于环抛加工修正盘具有较大的直径和较高的重量，进而造成激光干涉仪和三坐标测量仪无法直接进行表面形状误差的检测的问题。装置由大理石平尺、U形框、精密定位台、激光位移传感器、支撑平台、和矩形玻璃构成。检测方法：一、吊装环抛加工修正盘并组装装置；二、标出直径；三、调整大理石平尺与环抛加工修正盘工作面平行；四、数据采集。本发明解决了大尺寸修正盘工作面朝下且难以翻转的难题，能够半自动地检测大型环抛机的大尺寸修正盘的表面形状误差，检测过程简单精度高。本发明适用于检测环抛加工修正盘表面形状误差。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108769924A
公开(公告)日：2018-11-06
申请号：CN201810403120.4
申请日：2018-04-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种景区游客链式出行服务系统及方法，本发明涉及景区游客链式出行服务系统及方法。本发明的目的是为了解决现有旅游景区面临着游客等待时间较长，多走回头路，出行效率低，舒适性差，旅游资源利用率低的问题。过程为：智能终端模块实时采集游客地理位置信息以及获取游客选择的目的地景点；计算景区内各区域的区域拥挤指数，反馈至智能终端模块；视频监控模块实时采集景区内各景点的视频监控图像，人流量检测模块实时采集景区内各景点出入口的人流量；计算各景点排队拥挤指数，预计景点排队时间，反馈至智能终端模块；游客通过智能终端模块，选择符合不同出行需求的路线，实现链式出行。本发明用于景区游客链式出行领域。
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公开(公告)号：CN108760766A
公开(公告)日：2018-11-06
申请号：CN201810517270.8
申请日：2018-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/95
Abstract: 一种大口径光学晶体表面微缺陷检测用的图像拼接方法，涉及一种微缺陷检测用的图像拼接方法。本发明为了解决目前的缺陷检测中大口径晶体的图像采集和缺陷识别环节耗费时间较长的问题。本发明首先对待测大口径晶体元件表面区域进行扫描，并利用检测显微镜和检测CCD对扫描区域进行实时图像采集，并确定单张图片的尺寸范围和重叠区域尺寸：然后基于坐标系平移变换法实现采集图像的拼接和缺陷点的坐标转换，确定每个图像中每个缺陷点在全局坐标系下的位置，并建立缺陷数据库。本发明适用于光学晶体表面微缺陷检测的图像拼接。
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公开(公告)号：CN108705692A
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201810520541.5
申请日：2018-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 大口径KDP晶体元件表面激光损伤的微铣削修复工艺方法，属于光学材料与光学元件修复加工技术领域。为了解决软脆KDP晶体元件表面激光损伤点修复时修复轮廓单一、修复表面质量差、效率低等问题。根据修复轮廓的控制方程建立修复点的几何模型；选取加工刀具；创建粗加工修复工序；创建精加工修复工序；将由刀路轨迹计算获得的刀路源文件转换为通用的数控加工NC代码，将NC代码转换为修复机床控制器可识别的加工程序文件；利用粗、精加工NC代码在KDP晶体修复机床上进行精密微铣削修复实验，实现不同激光“友好型”修复轮廓的高效、高质量加工。能延缓晶体元件表面激光损伤点的增长行为，提高晶体元件抗激光损伤能力并延缓其使用寿命。
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公开(公告)号：CN108687977A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810517278.4
申请日：2018-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: B28D5/00
Abstract: 一种考虑光增强效应的光学晶体表面微缺陷修复方法，涉及一种光学晶体表面微缺陷修复方法。本发明为了解决目前还未实现光学晶体表面微缺陷精密微铣削修复工艺定型的问题。本发明首先采用显微镜对光学晶体表面缺陷点形貌和尺寸进行检测，获得表面待修复缺陷点的横向尺寸和纵向尺寸；通过对比待修复缺陷点的横向尺寸与数控轨迹加工可修复临界尺寸的大小决定微缺陷修复方式；然后基于电磁场理论，建立修复结构诱导光增强的仿真模型，对比分析不同形状和尺寸的修复结构所引起光增强大小，选取光增强最小的修复形状和尺寸规划出最优修复结构；根据已规划的最优修复结构，微铣削加工出相应的修复结构。本发明适用于光学晶体表面微缺陷修复。
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公开(公告)号：CN108682168A
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201810463570.2
申请日：2018-05-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G08G1/09 , G08G1/0968
CPC classification number: G08G1/09 , G08G1/0968 , G08G1/096805
Abstract: 本发明提供一种减少信号交叉口停车的车速引导系统及方法，属于交通管理与控制技术领域。本发明包括：交通信号控制子系统，用于根据实时交通状况对信号灯的相位进行实时控制，接收来自车速引导设备的交通信号相位请求信息，并将对应的交通信号相位信息反馈给车速引导设备；车速引导设备，设置在车辆上，与交通信号控制子系统进行实时通信，通过通信以一定的频率向交通控制子系统发送交通信号相位信息请求，并接收来自交通信号控制子系统的反馈信息，根据反馈信息给车辆提供建议速度值。本发明解决了现有技术难于控制减少信号交叉口停车的问题。本发明可用于交叉口车速引导。
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