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公开(公告)号：CN106645170A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611191306.5
申请日：2016-12-21
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8851
Abstract: 本发明公开了一种台阶电极自动检查机，包括机架，机架上设有：检测平台，其包括载台及伺服系统；图像采集装置，其位于载台的上方，包括基架及设于其上的Z轴调整机构、拍摄机构、读码机构，Z轴调整机构包括PLC控制器及Z轴驱动组件，Z轴驱动组件受PLC控制器控制，并驱动拍摄机构运动，拍摄机构包括相机、点光源及激光测距仪，激光测距仪用于测量其与液晶屏表面的距离，读码机构用于读取液晶屏上携带的条码信息；横向驱动装置，其用于确定图像采集装置相对于检测平台横向移动；工控机，其分别连接伺服系统、PLC控制器、相机、点光源及激光测距仪，工控机上安装有图像采集管理系统和缺陷识别系统；显示屏，其用于显示操作界面和缺陷检测结果。
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公开(公告)号：CN115180388A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210905696.7
申请日：2022-07-29
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸显示模组线路自动检测设备，包括机座和设置在所述机座上的送检机构、驱动机构及检测机构，所述送检机构用于输送显示模组，所述驱动机构用于带动所述检测机构在显示模组上方沿边沿线路进行移动，所述检测机构包括安装板，升降模组、升降架、检测组件、测距组件及定位组件，所述安装板设置在所述驱动机构上，所述升降模组固设在安装板上用于驱动所述升降架沿竖直方向升降，所述检测组件设置在所述升降架上用于对显示模组进行线路缺陷检测，所述测距组件用于测量显示模组到所述检测组件的对焦距离，所述定位组件用于获取显示模组上的边沿线路的位置信息。
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公开(公告)号：CN114939539A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202210605392.9
申请日：2022-05-30
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种晶圆表面缺陷智能检测设备，包括机座和设置于所述机座上的料盘输送机构、晶圆移送机构、送检机构、检测机构、分转机构、装箱机构、料箱输送机构及隔板移送机构；所述料盘输送机构用于输送料盘；所述晶圆移送机构用于从料盘上抓取待测晶圆放置于所述送检机构和从送检机构上抓取已测晶圆放置于所述分转机构；所述送检机构用于承载晶圆沿水平纵向移动；所述检测机构用于对所述送检机构上承载的晶圆进行检测；所述料箱输送机构用于输送料箱；所述装箱机构用于从所述良品晶圆移送组件上抓取已测良品晶圆放置到料箱内；所述隔板移送机构用于抓取隔板放置到料箱中分隔已测良品晶圆。
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公开(公告)号：CN114740645A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210420128.8
申请日：2022-04-20
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: G02F1/13
Abstract: 本发明公开了一种导电粒子压痕检测设备，包括底座、检测机构及送检机构，所述检测机构包括线扫驱动组件、相机载台、偏移检测组件及粒子检测组件，所述偏移检测组件和粒子检测组件分别相向设置在所述相机载台的上侧和下侧，所述线扫驱动组件用于带动所述相机载台沿检测方向移动进行线扫检测，所述送料组件用于将待测样品输送至所述偏移检测组件和粒子检测组件之间。本发明提供一种导电粒子压痕检测设备，通过送检机构进行送料，由线扫驱动组件带动粒子检测相机和偏移检测相机自动进行线扫检测，取代人力，排除人为参与对产品接触的不良影响，不会对产品造成损伤，减小劳动强度，节省成本。
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公开(公告)号：CN109557694A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201910037975.4
申请日：2019-01-16
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: G02F1/13
Abstract: 本发明公开了一种液晶屏的台阶电极区域的自动光学检测装置，涉及自动光学检测领域，包括第一相机、第二相机和激光位移传感器，第一相机和第二相机沿水平直线设置的采集路径同步运动，第一相机和第二相机之间有一检测区域，第一相机自上而下，第二相机自下而上对处于检测区域的一检测平面进行图像采集，第一相机用于采集路径定位，第二相机为线扫相机，对检测平面进行连续图像采集以拼接成检测图片；激光位移传感器用于反馈控制使第二相机和检测平面的拍摄距离的偏移量不超过设定阈值。本发明简化了液晶屏的台阶电极区域的自动光学检测装置的产品结构和控制要求，大大提高了液晶屏的台阶电极区域的检测效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112161994B
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202011182512.6
申请日：2020-10-29
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种AOI自动光学检测上下料机，包括机架、上料装置、取料装置、下料装置及控制装置，所述上料装置包括输入机构、上料机构及视觉定位机构，所述输入机构包括至少两组，且其沿竖直方向设置在所述机架上，用于输入待测液晶屏料盒，所述取料装置设置在所述上料装置和下料装置的前侧中间位置，用于吸取液晶屏，所述下料装置包括输出机构、下料机构及机械定位机构，所述输出机构包括至少两组，且其沿竖直方向设置在所述机架上，用于输出合格液晶屏料盒。本发明提供一种AOI自动光学检测上下料机，将AOI上下料过程集成在一台设备上完成，节省空间成本和人力成本，设备运行全程通过自动化进行控制，效率高，降低生产成本，且上下料定位精准，检测结果可靠性高。
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公开(公告)号：CN111879787B
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202010759272.5
申请日：2020-07-31
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种液晶屏缺陷自动检测设备，其包括机座、第一移送机构、第一检测机构、第二移送机构、第二检测机构、第三移送机构、贴标机构、第四移送机构及第五移送机构；第一移送机构用于抓取待检测液晶屏进行移动；第一检测机构用于对液晶屏一面进行外观检测；第二移送机构与第一移送机构用于承载待检测液晶屏进行移动；第二检测机构用于对液晶屏另一面进行外观检测；第三移送机构用于将液晶屏移送至第四移送机构；贴标机构用于标签带的放卷和标签带标签和底纸的分离；第五移送机构用于拾取标签并进行贴标；第四移送机构用于承载液晶屏向后移动进行卸料。本发明极大地提高了液晶屏的检测效率和贴标效率，又能确保所贴标签的准确度。
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公开(公告)号：CN117687234A
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202311594518.8
申请日：2023-11-24
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法，包括以下步骤：S1：利用光学系统对待检测区域进行成像，获取待检测导电粒子图像；S2；对待检测导电粒子图像进行图像增强处理，提高图像的对比度，突出导电粒子；S3：对经过图像增强处理的导电粒子图像进行分割，获取bump区域集合；S4：对获取的bump区域集合计算导电粒子个数；S5：将计算得到的导电粒子映射至对应的空白bump投影区域内，计算导电粒子的偏位情况。相应的，本发明还提出了一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测装置。本发明解决了目前液晶屏导电粒子计数精度低及对导电粒子的偏位情况检测精度低的问题。
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公开(公告)号：CN112782879B
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202110019647.9
申请日：2021-01-07
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸液晶屏AOI自动检查机，包括机座、设于所述机座上的上料机构、送检机构、检测机构及下料机构，所述上料机构用于抓取待检液晶屏沿所述机座横向移动放置于所述送检机构，所述送检机构沿所述机座纵向移动输送待测待检液晶屏，所述检测机构用于对液晶屏进行检测，所述下料机构用于抓取送检机构上已检液晶屏沿所述机座横向移动下料。本发明提供一种大尺寸液晶屏AOI自动检查机，节省空间和成本，自动化程度高，转运效率快，提升检查效率。
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公开(公告)号：CN114985288A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210605396.7
申请日：2022-05-30
Applicant: 厦门福信光电集成有限公司
IPC: B07C5/02 , B07C5/34 , B07C5/36 , H01L21/67 , H01L21/677
Abstract: 本发明公开了一种晶圆表面缺陷检测的智能出料设备，包括机座和设置在机座上的晶圆抓取机构、良品移送机构、次品移送机构、料箱输送机构、装箱机构、隔板移送机构及贴标机构；所述晶圆抓取机构用于从检测设备上抓取已测晶圆放置于所述良品移送机构或次品移送机构；所述良品移送机构用于输送已测良品晶圆；所述次品移送机构用于输送已测次品晶圆；所述料箱输送机构用于输送料箱；所述装箱机构用于从所述良品移送机构上抓取已测良品晶圆放置到料箱内；所述隔板移送机构用于抓取隔板放置到料箱中分隔已测良品晶圆；所述贴标机构用于在料箱上贴附标签。
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