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公开(公告)号：CN115639413A
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211285715.7
申请日：2022-10-20
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明提供了一种口面平滑的混合卷绕边缘反射面及其构建方法，其中方法包括：确定平滑口面所对应反射面的投影轮廓边缘线表达式；基于所述投影轮廓边缘线表达式构建局部坐标系；基于所述局部坐标系与全局坐标系的变换关系，生成混合卷绕边缘在全局坐标系中以γ为自变量的严格参数方程；其中，γ为局部坐标系中从ye轴负向朝xe轴正向旋转的角度对应的弧度；根据所述严格参数方程构建二维曲率连续的曲率半径残差表达式；利用所述残差表达式生成口面平滑的混合卷绕边缘反射面。本方案，能够提高反射面在进行紧缩场测量过程中电磁特性参数测量准确性。
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公开(公告)号：CN112070697A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010927685.X
申请日：2020-09-07
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于逆二维像的局部散射特性评估方法、装置、计算机设备以及计算机可读存储介质，该方法包括：对角度‑频率域的原始RCS数据，采用滤波‑逆投影方法进行成像，获取目标的二维像；对获取的二维像进行处理，选中感兴趣的局部区域图像；采用二维傅里叶变换再投影的方法，先将局部区域图像从空间域变换到对应的变换域，再反变换到角度‑频率域，得到局部区域图像所对应的转角扫频RCS数据；将得到的转角扫频RCS数据与原始RCS数据进行比较，评估局部区域图像对原始RCS数据的贡献程度。本发明能够用于分析目标的局部散射特性，且数据有效利用率高、处理时间短。
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公开(公告)号：CN111896811A
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN202010769111.4
申请日：2020-08-03
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及一种抑制视频泄露对散射测量影响的方法，所述方法应用于基于硬件门的目标散射测量系统，所述方法包括以下步骤：根据待测采样频率和视频泄露干扰频率设置第一采样频率和第二采样频率；将所述发射模块的采样频率分别设置为所述第一采样频率和所述第二采样频率，通过所述接收模块获取第一采样数据和第二采样数据；对所述第一采样数据和所述第二采样数据进行插值得到需求采样数据。本发明中根据待测采样频率设置两个偏移的采样频率，分别进行散射测量，并结合插值运算可得到需求采样数据，由此可解决由于视频泄露信号对目标散射测试结果造成干扰，影响散射测量结果的问题，能够实现对硬件门中视频泄露对测试信号干扰的有效抑制。
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公开(公告)号：CN108627706B
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201810271405.7
申请日：2018-03-29
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明涉及一种测量天线的工作参数的方法及装置，方法包括：在测量位置将待测天线调整至待测极化，控制金属定标球由第一指定位置直线运动至第二指定位置；检测待测天线在金属定标球的运动过程中，金属定标球位于至少两个采样位置时，待测天线相对于金属定标球在各个采样位置时的第一回波强度数据；确定各个采样位置在极坐标系下所分别对应的极角；根据各个采样位置所分别对应的第一回波强度数据及极角，对各个采样位置分别进行距离补偿以确定各个采样位置所分别对应的第一等效回波强度数据；根据各个采样位置所分别对应的第一等效回波强度数据及极角，确定待测天线的方向图。本发明提供的技术方案，对天线的工作参数进行测量时，测量难度较小。
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公开(公告)号：CN106017433A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610365295.1
申请日：2016-05-27
Applicant: 北京环境特性研究所
CPC classification number: G01C15/002 , G01S7/41
Abstract: 本发明公开了一种微波暗室内三维姿态定位方法及系统，包括：利用激光跟踪仪确定微波暗室的基准点；以基准点为原点，铅垂向上方向为Z轴正向，预设方向为Y轴正向建立直角坐标系；在Z轴正向与顶端交点处放置竖直十字线激光发射器，在X轴正向与侧面交点处放置水平十字线激光发射器；确定地面特征点，调整竖直十字线激光发射器，使其发射光投影经过地面特征点，将该投影标记为竖直定位线；利用地面特征点调整水平十字线激光发射器，获取其发射光的侧面投影，将该投影标记为水平定位线；通过竖直定位线与水平定位线对目标的三维姿态进行定位。本发明能够实现目标在横滚、俯仰、偏航三个维度的精确定位。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN112230209B
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN202011036977.0
申请日：2020-09-28
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种远距离双站RCS测量装置及方法，该方法包括：开启双源四端口矢量分析仪，生成测量信号和低频率的外参考本振信号，将外参考本振信号分为两路，在发射端支路与测量信号混频至中频，输入双源四端口矢量分析仪的参考链路接收端，在接收端支路与目标回波信号混频至中频，输入双源四端口矢量分析仪的接收链路接收端；通过调整发射天线和接收天线之间的双站夹角关系，发射天线向目标发射测量信号，接收天线接收目标反射的回波信号，对参考链路接收端、接收链路接收端获取目标回波数据进行采集存储，从而实现远距离目标双站RCS测量。本发明为实现远距离双站RCS精确测量和高分辨成像分析提供了一种技术手段。
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公开(公告)号：CN114089049A
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202111373706.9
申请日：2021-11-19
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本申请涉及天线校准技术领域，特别涉及一种天线测试的校准方法、装置、电子设备和存储介质。该方法首先对发射天线和接收天线进行第1次天线测试，获得多通道开关箱中各通道的第1次测量值；利用第1次测量值，获得多通道开关箱中各通道的修正值；对发射天线和接收天线进行第i次天线测试，获得多通道开关箱中各通道的第i次测量值，其中，i大于等于2；利用各通道的修正值对各通道的第i次测量值进行校准，得到多通道开关箱中各通道在第i次天线测试时的校准值。本申请提供的校准方法能够将真实测试环境纳入校准范围内，实现在开环状态下对多通道开关箱中各通道之间的差异进行修正，从而获得多通道开关箱中各通道在天线测试时的校准值。
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公开(公告)号：CN108647183B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201810284053.9
申请日：2018-04-02
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及基于压缩感知的复RCS数据插值方法，属于综合试验测试技术领域。该方法的一具体实施方式包括：根据RCS测量数据，构建复数域重构模型；求解所述复数域重构模型，获取所述RCS数据的稀疏分布；基于所述稀疏分布重构目标频域数据，实现复RCS数据插值。相对于传统的对复矩阵进行简单对角化处理的方法，本发明不减少也不增加原始约束范围，处理速度快和精度高，能够有效缩短测量时间以提高RCS测量效率。
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公开(公告)号：CN112230209A
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN202011036977.0
申请日：2020-09-28
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种远距离双站RCS测量装置及方法，该方法包括：开启双源四端口矢量分析仪，生成测量信号和低频率的外参考本振信号，将外参考本振信号分为两路，在发射端支路与测量信号混频至中频，输入双源四端口矢量分析仪的参考链路接收端，在接收端支路与目标回波信号混频至中频，输入双源四端口矢量分析仪的接收链路接收端；通过调整发射天线和接收天线之间的双站夹角关系，发射天线向目标发射测量信号，接收天线接收目标反射的回波信号，对参考链路接收端、接收链路接收端获取目标回波数据进行采集存储，从而实现远距离目标双站RCS测量。本发明为实现远距离双站RCS精确测量和高分辨成像分析提供了一种技术手段。
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