-
公开(公告)号：CN119596277A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411729026.X
申请日：2024-11-28
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种可见光‑激光一体化探测系统。包括：探测器，适用于可见光波段和预设范围的激光波段；第一镜头，设置在所述探测器的前端；设置在所述第一镜头前端的多个同轴设置的衰减片轮，每个所述衰减片轮上均设置有多个沿其周向均匀分布的圆形卡位，每个所述卡位分别用于固定衰减片，每个所述衰减片的衰减倍数不同；工作时，基于光源种类和强度，确定满足要求的目标衰减片，并调整每个衰减片轮的位置，以使所述目标衰减片的轴线与所述第一镜头的轴线重合，并利用所述第一镜头和所述探测器测量被测物体的可见光亮度或激光反射截面积。本申请，能够提高光学测量的效率。
-
公开(公告)号：CN119596272A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411727004.X
申请日：2024-11-28
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明提供了一种远场等效大尺寸目标LRCS测量装置和方法，包括：包括：线阵激光光源、探测模块和线性轨道；所述线阵激光光源的准直角不超过3°；所述线阵激光光源和所述探测模块均放置在所述线性轨道上并进行同步移动；待测大尺寸目标位于所述线阵激光光源和所述探测模块的视场范围内。本方案在近距离实现远场测试条件下实现了对大尺寸目标的远场等效LRCS的精确评估，在激光远场等效LRCS精确测量领域具有重要的应用潜力。
-
公开(公告)号：CN119573880A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411717014.5
申请日：2024-11-27
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种用于推扫式成像光谱仪的对焦方法及系统。推扫式成像光谱仪至少包括前置成像镜和光谱探测模块；方法包括：设置与前置成像镜的像方焦平面连接的成像观测模块；在前置成像镜的后工作距中放置分光模块，分光模块用于将从前置成像镜穿出的光路分为光程相等的第一光路和第二光路，第一光路进入成像观测模块进行成像观测，第二光路进入光谱探测模块进行光谱探测；将前置成像镜设置于位移台，且前置成像镜可沿光轴方向在位移台上前后移动；工作时，通过成像观测模块观测被测目标的图像信息，并基于观测结果调整前置成像镜在位移台上的位置，直至得到清晰的图像，完成对焦。本申请可以实现成像光谱仪的实时对焦，提高成像光谱的测量效率。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117516886A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311511529.5
申请日：2023-11-13
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及点目标定量测量技术领域，特别涉及一种可见光点目标定量测试系统的误差验证方法。该方法包括：利用不同亮度值面光源照射可见光点目标定量测试系统，针对每个亮度值，可见光点目标定量测试系统均得到一个第一灰度值；基于亮度值和第一灰度值建立亮度值和灰度值的映射关系；利用已知照度值的点光源照射可见光点目标定量测试系统，可见光点目标定量测试系统得到一个第二灰度值；基于第二灰度值和映射关系，得到测量亮度值；根据测量亮度值得到测量照度值；根据测量照度值和照度值得到标定处理误差。本发明实施例提供了一种可见光点目标定量测试系统的误差验证方法，能够在地面进行可见光点目标定量测试系统的误差验证工作。
-
公开(公告)号：CN119595249A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411729006.2
申请日：2024-11-28
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种全波段光学特性测量系统。包括：发射装置，包括激光发射单元和可见光发射单元；准直光学装置，包括沿光的传播方向依次设置的积分器和第一准直镜；探测装置，包括探测器、第一镜头和多个衰减片轮；探测器适用于可见光波段和预设范围的激光波段；第一镜头设置在探测器的前端；每个衰减片轮同轴设置在第一镜头的前端；每个衰减片轮上均设置有多个沿其周向均匀分布的圆形卡位，每个卡位分别用于固定不同衰减倍数的衰减片；测量时，根据探测光束的强度，确定满足要求的目标衰减片，以使目标衰减片的轴线与第一镜头的轴线重合，利用第一镜头和探测器测量被测物体的光学特性。本申请能够测量全波段光学特性，测量效率高。
-
公开(公告)号：CN119555126A
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202411701627.X
申请日：2024-11-26
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种常温常压环境下全波段光学测试背景模拟系统。包括：探测装置、背景反射面、移动装置、随动装置和黑色背景板；所述探测装置设置在所述移动装置上，所述背景反射面设置在所述随动装置上，所述移动装置和所述随动装置分别位于被测物体的两侧，并可同步地绕所述被测物体旋转；所述黑色背景板悬吊于所述被测物体的正上方；当对所述被测物体进行全波段辐射特性测试时，通过调整所述背景反射面与水平面的夹角，使所述黑色背景板充满所述探测装置的视场，以为所述被测物体提供黑色背景。本申请，不仅节约场地，还能够提高测量效率。
-
公开(公告)号：CN117470376A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311530766.6
申请日：2023-11-16
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种快速成像光谱测量系统及方法，测量系统包括成像物镜、微透镜面阵列、光纤束、光纤支架、透镜线阵列、柱面透镜线阵列、干涉光谱仪和数据处理系统。成像物镜对目标进行成像，微透镜面阵列将一次像面分割为N个子像面，透镜线阵列和柱面透镜线阵列对光纤线阵列的输出光线整形，并输出至干涉光谱仪得到相应干涉信息，每个柱面透镜线阵列对应一个干涉光谱仪，多个干涉光谱仪同时对相对应柱面透镜线阵列的输出光进行处理得到所有光纤的干涉信息，通过数据处理系统处理得到目标完整的光谱数据立方体。该系统利用光纤束与透镜阵列将像面拆分，将高维数据转换为低维数据，实现一次短曝光获得大信息量的数据立方体，提高成像光谱测量速度。
-
公开(公告)号：CN116304634A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310282594.9
申请日：2023-03-21
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06F18/213 , G06F18/10 , G06F18/2113 , G06F18/2415
Abstract: 本发明涉及目标识别技术领域，特别涉及一种空间目标光度信号的特征提取及分类方法、装置。方法包括：对待处理空间目标的光度信号进行预处理，得到预处理后的光度信号；基于预设的多个采样间隔对预处理后的光度信号进行下采样，得到不同时间分辨率的光度信号；计算不同时间分辨率的光度信号预设个数的累积量特征；从预设个数的累积量特征中提取预先计算出的最优特征子集，最优特征子集是基于多个已知类别目标的光度信号集计算得到的，且待处理空间目标为已知类别中的一类；基于最优特征子集对待处理空间目标进行分类，确定待处理空间目标的类别。本发明方法能够准确提取空间目标光度信号中的有效特征，并基于提取到的特征对空间目标进行准确分类。
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
18
records
(took 0.02 seconds)
