公开(公告)号：CN115495293A

公开(公告)日：2022-12-20

申请号：CN202211045263.5

申请日：2022-08-30

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 王栋 ,  王健 ,  于锡宁 ,  魏斌 ,  成嵩 ,  刘辉志

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明实施例提供一种测试应用程序接口API的方法及系统，属于芯片或电路评价技术领域。所述API设于测试机，该方法包括：所述测试机接收测试命令，所述测试命令包括开启API、关闭API及开启示波器采样和关闭示波器采样中的至少一种；根据所述测试命令控制所述API运行，以及控制所述示波器对API的运行信号进行采样；根据所述示波器的采样结果确定所述API的运行参数。该方法实现了API的自动测试，准确把控API的循环运行的次数和运行样本量。

公开(公告)号：CN112100013B

公开(公告)日：2021-09-21

申请号：CN202011290441.1

申请日：2020-11-18

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

Inventor： 王栋 ,  魏斌 ,  成嵩 ,  胡晓波 ,  窦志军 ,  徐靖林

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明实施方式涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种安全芯片SPI接口测试方法、装置及系统。所述方法包括：所述安全芯片的SPI接口与测试设备的对应接口相连，接收输入的第一测试指令，所述第一测试指令包括打开函数、收发函数或关闭函数；通过API函数库解析所述第一测试指令，生成所述测试设备能够执行的且与所述第一测试指令功能对应的第二测试指令；获取所述测试设备响应于所述第二测试指令，对所述SPI接口进行操作并返回的操作结果；基于所述操作结果确定所述安全芯片的SPI接口是否正常。同时还提供了对应的装置和系统。本发明提供的实施方式，能够提升安全芯片SPI接口的测试效率。

公开(公告)号：CN114297114A

公开(公告)日：2022-04-08

申请号：CN202111393315.3

申请日：2021-11-23

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

Inventor： 陈雷 ,  王健 ,  王赟 ,  魏斌 ,  赵东艳 ,  许玉洁 ,  成嵩 ,  胡晓波

IPC: G06F13/40 ,  G06F21/12 ,  G06F9/52

Abstract: 本发明公开了一种加密卡及其数据交互方法、装置及计算机可读存储介质，其中加密卡数据交互方法应用于加密卡中的任意密码芯片，加密卡包括多个密码芯片，每个密码芯片均通过PCIE开关芯片与其它密码芯片以及上位机进行通信，方法包括以下步骤：接收上位机发送的第一数据同步指令，第一数据同步指令包括待同步数据；根据同步密钥和待同步数据生成第一交互同步指令；将第一交互同步指令发送至其它密码芯片，以使其它密码芯片根据同步密钥对第一交互同步指令进行解密得到待同步数据。由此，可以实现加密卡中多密码芯片之间直接进行数据同步交互，从而提高加密卡的数据处理速度。

公开(公告)号：CN114281243A

公开(公告)日：2022-04-05

申请号：CN202111363827.5

申请日：2021-11-17

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

Inventor： 蒋大伟 ,  李建阳 ,  张鹏 ,  王赟 ,  窦志军 ,  成嵩 ,  魏斌

IPC: G06F3/06 ,  G06F13/28

Abstract: 本发明公开了一种芯片以及数据处理装置、方法，装置包括：用于存储应用数据的第一存储器，用于存储程序数据的第二存储器；与第一存储器连接的第一存储控制器，与第二存储器连接的第二存储控制器；DMA控制器，用于在接收到第一指令时，接收通信数据；CPU处理器，用于在接收到第二指令时，控制第一存储控制器启动应用数据擦写，并在启动应用数据擦写或者DMA控制器接收通信数据结束后，控制第二存储控制器读取第二存储器中的程序数据，以及在同时存在应用数据擦写和通信数据时，先利用读取到的程序数据处理通信数据，待通信数据处理完成后，等待应用数据擦写完成。该数据处理装置，可提升存储器擦写寿命和数据处理效率。

公开(公告)号：CN115941184A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202310187223.2

申请日：2023-03-02

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 陈雷 ,  王赟 ,  成嵩 ,  魏斌 ,  王健 ,  徐靖林

IPC: H04L9/08 ,  H04L9/12

Abstract: 本公开实施例公开了一种加密模块故障处理方法、装置、电子设备、系统及芯片，所述方法包括：响应于对加密模块上的多个安全模块的整体数据校验请求，分别从多个安全模块获取各自的校验数据；校验数据基于安全模块上的本地存储数据计算得到；比较从多个安全模块获取的校验数据；在校验数据不一致的安全模块数量不超过预设阈值时，从校验数据一致的安全模块中选择其中一个作为主安全模块；向主安全模块发送同步密钥配置指令，以使主安全模块与校验数据不一致的其他安全模块进行密钥同步；在主安全模块与其他安全模块完成密钥同步后，向主安全模块发送数据同步指令，以使主安全模块基于同步后的密钥与其他安全模块进行数据同步。

公开(公告)号：CN112100015A

公开(公告)日：2020-12-18

申请号：CN202011301399.9

申请日：2020-11-19

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

Inventor： 魏斌 ,  成嵩 ,  窦志军 ,  王栋 ,  徐靖林 ,  金锐

IPC: G06F11/26 ,  G06F11/36 ,  G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种芯片测试装置和一种芯片测试方法，属于芯片测试领域。所述测试装置包括：测试设备库；底层函数库，封装有与所述测试设备库对应的接口函数库和数据处理函数库；关键字库，封装有用于调用的关键字；业务应用层，用于存储、执行和编写测试功能模块，所述业务应用层通过所述测试功能模块调用所述关键字库所形成的测试逻辑，组合和调用所述接口函数库和所述数据处理函数库中的算法驱动所述测试设备库对应的设备产生相应的测试信号，实现对所述芯片的测试。本发明通过测试装置完成对芯片的自动化测试，加快了芯片的测试开发进度。