一种备件优化方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN118586630A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410652510.0

    申请日:2024-05-24

    Abstract: 本申请公开了一种备件优化方法、装置及存储介质,其中方法内容包括:确定初始备件的供应清单;通过初始备件的供应清单,建立优化模型;基于优化模型,利用边际收益法优化备件的数量;使用优化结果修正初始备件的供应清单中备件的品种和数量,形成最终的备件供应清单。本申请通过考虑费用、体积、重量等多约束条件的影响,实现了对电子产品的备件品种和数量优化,提高了电子产品的备件供应工作水平,降低系统或设备全寿命周期费用,并提升保障能力和系统效能。

    一种模拟电路状态评估方法和装置

    公开(公告)号:CN113970697A

    公开(公告)日:2022-01-25

    申请号:CN202111055075.6

    申请日:2021-09-09

    Abstract: 本发明公开一种模拟电路状态评估方法和装置,解决现有方法和装置无法辨识元件参数的问题。所述方法,包含:向模拟电路注入脉冲信号使得元件参数从标称值开始变化,采集任一元件参数变化时刻的输出响应信号、进行归一化处理,得到该元件对应的归一化响应信号;对每一元件分别建立特征提取模型;将归一化响应信号作为输入与输出参数,构建自编码网络,对特征提取模型进行训练,得到元件特征值;对每一元件构建最大映射关系和最小映射关系;根据所述最大映射关系和最小映射关系、计算每一元件的映射差值,找到最小的映射差值对应的元件,计算元件评估值、与该元件标称值对比,判断模拟电路状态。本发明实现模拟电路状态的准确、快速评估。

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