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公开(公告)号：CN113324836A
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202110589564.3
申请日：2021-05-28
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开一种在显微镜中原位变形微纳样品的减震装置及方法，属于显微镜配件及微纳米材料力学性能测量研究领域。包括支撑部、动力部、减震部和载网四部分。纳米材料悬置于两片载网之间，通过加热弯曲的双金属片拉伸或压缩载网，使纳米材料达到变形效果。本发明通过减震装置解决了双金属片技术原位拉伸纳米材料过程中力学稳定性差，样品容易在转移过程中断裂的问题，提高了样品制备的成功率。在实现对单根/多根纳米线轴向拉伸、压缩，以及其它微纳尺度样品变形的同时，可同时观察材料在变形过程中的结构演变。
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公开(公告)号：CN105527461B
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201610029398.0
申请日：2016-01-16
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01Q30/04
Abstract: 本发明提供一种基于透射电镜HAADF图像的材料结构定量化分析方法。通过图像处理技术获取透射电镜高分辨图像中各原子点阵的坐标位置，得到各原子的积分强度及其邻域归一化强度，并充分结合HAADF成像原理与强度信息的关系，而在HAADF图像定性研究的基础上获得一些定量化的信息。通过原子点阵坐标，归一化强度等数据可分析出多种的定量化结构信息。在本方法中，原子点阵坐标的确定与强度积分科学合理；而邻域归一化强度的应用避免了材料(尤其是多晶纳米材料)中存在的较大范围内的结构波动和缺陷带来的影响；且能快速的对结构信息进行统计分析，避免了人为测量的巨大工作量及误差。该方法具有结果准确、适用范围广、可操作性强等特点。
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公开(公告)号：CN105223213A
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201510629763.7
申请日：2015-09-28
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01N23/04
CPC classification number: H01J37/20 , G01N23/02 , G01N2223/307 , G01N2223/32 , G01N2223/418 , H01J2237/206 , H01J2237/262
Abstract: 一种透射电镜双倾原位纳米压痕平台属于纳米材料力学性能-显微结构原位表征领域。该平台主要由粘接区、支撑梁、承载梁、样品载台与微型压头组成，整体结构通过半导体微细加工技术制备。原位纳米压痕实验可采用热双金属片、V型电热梁、压电、静电、电磁、记忆合金等方式进行驱动，样品通过聚焦离子束块体取样技术获得。该一体化平台可置于透射电镜(TEM)样品杆前端的狭小空间内，在双轴倾转条件下，驱动装置驱动微型压头，在透射电镜中对材料进行原位纳米压痕、原位压缩和原位弯曲等实验。可以在亚埃、原子和纳米尺度下对材料的变形过程进行原位观察，研究其变形机制，揭示其显微结构与力学性能的关系。
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公开(公告)号：CN101582366A
公开(公告)日：2009-11-18
申请号：CN200910086803.2
申请日：2009-06-05
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明涉及一种透射电镜用非磁性双金属片驱动器，包括非磁性单金属片、非磁性双金属片和导热金属框三部分，其特征在于：由线膨胀系数小的非磁性金属片和线膨胀系数大的非磁性金属片组成的非磁性的双金属片，固定在金属导热框的上方，非磁性单金属片位于两个非磁性双金属片之间，纳米材料位于非磁性的双金属片上方，置入透射电镜加热后，非磁性双金属片产生变形，驱动纳米材料变形。本发明排除了一般双金属片的磁性对透射电镜内纳米材料成像的影响，能方便快捷地得到纳米材料原子尺度的信息。
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公开(公告)号：CN110261221B
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN201910430801.4
申请日：2019-05-22
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明涉及纳米材料力学性能与显微结构原位表征技术领域，提供一种原位拉伸装置及其制备方法，所述的制备方法包括：在MEMS力学芯片上对搭载的板料进行切割操作，得到第一拉伸辅助件、第二拉伸辅助件和预拉伸样品；对预拉伸样品进行减薄操作，以得到拉伸样品；第一拉伸辅助件连接MEMS力学芯片的第一搭载侧，拉伸样品的两端分别连接第二拉伸辅助件与MEMS力学芯片的第二搭载侧；第一拉伸辅助件与第二拉伸辅助件相嵌套成勾套结构；本发明设计巧妙、操作便捷，实现了在MEMS力学芯片上直接制备拉伸样品和用于辅助拉伸的勾套结构，可以有效防(56)对比文件金钦华;王跃林;李铁;李昕欣;许钫钫.用于TEM原位拉伸实验的集成单晶硅纳米梁MEMS测试芯片研究.中国科学(E辑:技术科学).2009,(第05期),全文.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115356221A
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN202210898463.9
申请日：2022-07-28
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 一种透射电镜中原位测量一维纳米材料疲劳性能与微观结构相关性的装置及方法，属于纳米材料显微结构原位测试及表征技术领域。包括芯片部分，支撑部分和操控电路三部分。支撑部分为安装在透射样品杆上的支架和排线，电路部分为与芯片链接的导线和能够施加不同波形、可变电压与可变频率的电源。本设计突破了传统的机械应力驱动疲劳性能的测试方法，利用电压形成的电场并通过调节电压的大小和频率，实现不同振幅和周期的可控调节，使一维纳米材料在电场中发生振动实现疲劳性能的测试；同时利用透射电镜原位观察一维纳米材料疲劳实验过程中原子层次微观结构的演变过程，直接建立疲劳性能与微观结构的相关性。
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公开(公告)号：CN104897699B
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201510309272.4
申请日：2015-06-08
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 一种可以对块体材料进行加工并实现原子尺度原位变形的方法和装置属于材料显微结构原位变形研究领域。现有研究方法的样品制备过程复杂，且只能研究种类很少的材料。本发明装置：包括充分考虑聚焦离子束系统的狭小工作空间和机械手工作角度后设计的支撑部分(1)、驱动部分(2)和连接部分(3)。支撑部分是金属半环；驱动部分是热驱动双金属片；连接部分是表面经过抛光的金属条。本发明方法：通过聚焦离子束从块体材料中剥离出用于变形的部分(4)；通过机械手将其转移、固定到本发明装置的连接部分上；再通过聚焦离子束将用于变形的部分加工成可以进行原子尺度观察的样品。本发明极大的简化样品制备过程，并可对绝大多数块体材料进行研究。
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公开(公告)号：CN104897699A
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201510309272.4
申请日：2015-06-08
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 一种可以对块体材料进行加工并实现原子尺度原位变形的方法和装置属于材料显微结构原位变形研究领域。现有研究方法的样品制备过程复杂，且只能研究种类很少的材料。本发明装置：包括充分考虑聚焦离子束系统的狭小工作空间和机械手工作角度后设计的支撑部分(1)、驱动部分(2)和连接部分(3)。支撑部分是金属半环；驱动部分是热驱动双金属片；连接部分是表面经过抛光的金属条。本发明方法：通过聚焦离子束从块体材料中剥离出用于变形的部分(4)；通过机械手将其转移、固定到本发明装置的连接部分上；再通过聚焦离子束将用于变形的部分加工成可以进行原子尺度观察的样品。本发明极大的简化样品制备过程，并可对绝大多数块体材料进行研究。
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公开(公告)号：CN101582366B
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200910086803.2
申请日：2009-06-05
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明涉及一种透射电镜用非磁性双金属片驱动器，包括非磁性单金属片、非磁性双金属片和导热金属框三部分，其特征在于：由线膨胀系数小的非磁性金属片和线膨胀系数大的非磁性金属片组成的非磁性的双金属片，固定在金属导热框的上方，非磁性单金属片位于两个非磁性双金属片之间，纳米材料位于非磁性的双金属片上方，置入透射电镜加热后，非磁性双金属片产生变形，驱动纳米材料变形。本发明排除了一般双金属片的磁性对透射电镜内纳米材料成像的影响，能方便快捷地得到纳米材料原子尺度的信息。
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公开(公告)号：CN209963017U
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201920720829.7
申请日：2019-05-20
Applicant: 北京工业大学
IPC: H01J37/20 , G01N23/2005 , G01N1/28
Abstract: 本实用新型涉及材料显微实验设备技术领域，提供了一种转移微纳样品的结构，包括载物板、挡板以及基体；载物板与挡板连接呈“L”型，载物板的一端与基体相连；载物板上沿靠近基体的方向依次为样品区、过渡区以及粘接区；样品区用于搭载待测材料块，粘接区用于与目标载体进行连接。本实用新型实施例提供的转移微纳样品的结构，可以避免样品转移过程中受到离子束辐照产生的轰击、注入和溅射损伤和粘接沉积时的污染；通过设置过渡区还可以避免切削和沉积时的溅射损伤和污染；由于样品区的形状可以根据待测材料块的形状进行设置，有利于基于MEMS芯片的透射电镜原位力学平台实现更多加载功能，应用到更广泛的材料领域。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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