一种核电仪控系统的故障预警方法及系统

    公开(公告)号:CN119717767A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411871041.8

    申请日:2024-12-18

    Abstract: 本发明涉及系统故障检测领域,具体涉及一种核电仪控系统的故障预警方法及系统,故障预警系统包括:多个数据采集装置,用于收集与其连接的所述核电仪控系统的PCB板的实时数据,所述实时数据包括一维电路参数数据,及包括位置和温度的二维温度数据;故障预警装置,用于通过预设的时间序列深度学习模型和预设的时空序列深度学习模型,根据所述电路参数数据和温度数据预测核电仪控系统是否有故障、故障类型及故障位置,当有故障时,生成故障预警信息;预警装置,用于生成并发送预警通知,并展示所述故障预警信息。本发明实现了高精度、实时性的故障预警,为保障工业生产的安全稳定运行提供了有力支撑。

    核电站DCS仿真机失电仿真方法及装置

    公开(公告)号:CN110398901B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN201910347953.8

    申请日:2019-04-28

    Abstract: 本发明属于仿真测试的技术领域,为了解决现有技术中不能实现核电站DCS系统失电的深层次模拟的技术问题,本发明提供一种核电站DCS仿真机失电仿真方法及装置,所述方法包括:获取各个模块的信息表;整理出各个模块的供电关系表;基于各个模块的信息表和各个模块的供电关系表,整理核电站DCS中各个模块供电关系映射矩阵;当需要对所述核电站DCS控制柜中某个模块进行失电仿真时,通过核电站DCS中各个模块供电关系映射矩阵,查找与某个模块对应的供电关系表,识别与某个模块对应的供电关系表对应的供电条件作为仿真机的输入,自动输出所述某个模块的故障信息。因此,能够实现DCS系统失电的深层次、全范围、高逼真的仿真。

    一种用于多按键电子设备的自动测试装置及方法

    公开(公告)号:CN110726894B

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN201911142660.2

    申请日:2019-11-20

    Abstract: 本发明涉及一种用于多按键电子设备的自动测试装置及方法,属于电子设备型式试验测试领域,解决了现有装置及方法不能对多测试点的电子设备自动测试的问题。本发明的自动测试装置包括机械臂单元和控制单元,机械臂单元包括步进电机、限位开关、丝杠、滑台、滑台支架和电磁铁;控制单元包括步进电机控制驱动模块和工控机;滑台支架分别与步进电机、限位开关和丝杠连接,丝杠与滑台连接,步进电机控制驱动模块分别与步进电机和限位开关电连接,工控机分别与步进电机控制驱动模块和电磁铁电连接。本发明通过工控机控制电磁铁到达机械臂单元覆盖的任意位置,控制电磁铁的铁芯模拟人手,实现对被测对象的自动测试操作。

    一种优先级管理产品自动测试装置及方法

    公开(公告)号:CN111308935B

    公开(公告)日:2021-01-29

    申请号:CN202010125492.2

    申请日:2020-02-27

    Abstract: 本发明涉及一种优先级管理产品自动测试装置及方法,属于自动化测试领域,解决了现有技术测试时间长、效率低的问题。该装置包括上位机和至少一个下位机;上位机,用于设置真值表指令,并输出至下位机,控制下位机进行测试;下位机,用于根据设置的真值表指令获得输入、输出逻辑真值表,并生成多个测试用例,还用于将多个测试用例中的输入逻辑值根据预设时间间隔依次输出至被测产品的输入通道,依次采集被测产品输出通道的输出逻辑值,并与对应的测试用例中的输出逻辑值比较,获得被测产品的优选逻辑状态,并上传至上位机。该装置能够自动产品优先级测试,测试时间短,提高了测试效率。

    一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法

    公开(公告)号:CN111366811A

    公开(公告)日:2020-07-03

    申请号:CN202010195055.8

    申请日:2020-03-19

    Abstract: 本发明涉及一种电子元器件的集成式自动检验装置及方法,属于元器件检测技术领域;装置包括SMD器件备检单元和插装器件备检单元,控制器和自动检验仪器;控制器用于识别SMD器件备检单元和插装器件备检单元是否安装备检器件;控制备检单元上安装的备检器件与自动检验仪器连接进行检验;SMD器件备检单元用于安装备检的SMD盘件,在控制器的控制下,依次使SMD盘件中的每个SMD器件连接自动检验仪器;插装器件备检单元用于安装多个备检的插装器件,在控制器的控制下,将多个插装器件并行连接到自动检验仪器。本发明可自动检验SMD电阻、电容,插装二极管、三极管器件等,缩短了检验时间,降低破坏整盘器件造成浪费资源的风险。

    一种用于多按键电子设备的自动测试装置及方法

    公开(公告)号:CN110726894A

    公开(公告)日:2020-01-24

    申请号:CN201911142660.2

    申请日:2019-11-20

    Abstract: 本发明涉及一种用于多按键电子设备的自动测试装置及方法,属于电子设备型式试验测试领域,解决了现有装置及方法不能对多测试点的电子设备自动测试的问题。本发明的自动测试装置包括机械臂单元和控制单元,机械臂单元包括步进电机、限位开关、丝杠、滑台、滑台支架和电磁铁;控制单元包括步进电机控制驱动模块和工控机;滑台支架分别与步进电机、限位开关和丝杠连接,丝杠与滑台连接,步进电机控制驱动模块分别与步进电机和限位开关电连接,工控机分别与步进电机控制驱动模块和电磁铁电连接。本发明通过工控机控制电磁铁到达机械臂单元覆盖的任意位置,控制电磁铁的铁芯模拟人手,实现对被测对象的自动测试操作。

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